Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. A 31
ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению / Д. Кравченко [и др.]> // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12. : ил.
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МОЛЕКУЛЯРНАЯ СБОРКА -- СВЕРХТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Найти похожие
|
2. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: U-12007 - кх. 57 F 97
Functional Micro- and Nanosystems [Text] : proccedings of the 4th caesarium, Bonn, June 16-18, 2003 / ed. K.-H. Hoffmann. - Berlin [et al.] : Springer, 2004. - VIII, 131 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце разд. - ISBN 3-540-21612-X : 3034.00 р.ББК 570.72я431(0) + 648.441я431(0) Рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ--ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ--КОНФЕРЕНЦИИ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): БИОЛОГИЯ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- НАНОСИСТЕМЫ (БИОЛОГИЯ) -- ДНК (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- БИОСЕНСОРЫ (НАНОСИСТЕМЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (ПРИМЕНЕНИЕ)
Найти похожие
|
3. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: U-12493 - кх. 541.1 N 11
Nabok, Alexei. Organic and Inorganic Nanostructures [Text] : научное издание / A. Nabok. - Boston ; London : Artech House, 2005. - VII, 268 p. : ил. - (Nanotechnology Series). - Библиогр. в конце разд. - Указ.: с. 263-268. - ISBN 1-58053-818-5 : 3175.00 р.ББК 541.171 + 541.192 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРЫ (ХИМИЯ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ) -- ХИМИЯ ОРГАНИЧЕСКАЯ (НАНОЧАСТИЦЫ) -- ХИМИЯ НЕОРГАНИЧЕСКАЯ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- БИОДАТЧИКИ (НАНОСТРУКТУРЫ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОСТРУКТУРЫ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ХИМИЯ)
Найти похожие
|
4. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 210426 - кх. 648.4 В 24
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9. Т. 2 : Технологические аспекты / М. В. Акуленок [и др.]. - 2011. - 252 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 243-248. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 303.60 р.ББК 648.441я73 Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
5. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 208686 - кх. 648.4 В 24
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9. Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 386-389. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 360.00 р.ББК 648.441я73 Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
6. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. 62 Г 72ГОСТ 8.593-2009
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
7. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Д 48
Дисплей: тонкий и гибкий, как бумага [Текст]> // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 34
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОСТРУКТУРЫ) -- КОМПЬЮТЕРНЫЕ МИКРОСХЕМЫ Аннотация: Все больше внимания уделяется пластиковым компьютерным микросхемам, что обусловлено их удобством применения в микролектронике. Это гибкие пластиковые мониторы, электронная бумага, гибкие персональные компьютеры и многое другое. Причем технология изготовления органических микросхем обещает, что они будут дешевыми
Найти похожие
|
8. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. И 88
Использование метода диэлектрофореза при формировании интегральных структур на основе нанотрубок [Текст] / И. И. Бобринецкий [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 10-13. - Библиогр. : с. 13 (22 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОТРУБКИ -- СЕНСОРЫ -- ДИЭЛЕКТРОФОРЕЗ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Найти похожие
|
9. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. И 88
Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии / О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник> // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 27-32 : рис., табл. - Библиогр.: с. 32 (16 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МОДУЛЬ ЮНГА -- НАНОКРИСТАЛЛЫ GAAS НИТЕВИДНЫЕ -- ПАРАМЕТРЫ ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛЫ -- МЕТОД АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ -- АРСЕНИД ГАЛЛИЯ -- НАНОДИАГНОСТИКА НИТЕВИДНЫХ СТРУКТУР -- НАНО- И МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Аннотация: Разработана методика определения модуля Юнга ориентированных нитевидных нанокристаллов методом атомно-силовой микроскопии. Представлены результаты исследования влияния геометрических параметров на модуль Юнга ориентированных нитевидных нано-кристаллов арсенида галлия. Экспериментально определено значение модуля Юнга нитевидных нанокристаллов арсенида галлия, которое, в зависимости от их аспектного соотношения, изменялось от 9 до 143 ГПа. Показано, что модуль Юнга нитевидных нанокристаллов GaAs зависит от аспектного соотношения и может превышать значение модуля Юнга объемного GaAs. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов формирования структур нано- и микросистемной техники, нано- и микроэлектроники на основе ориентированных нитевидных нанокристаллов, в частности нанокристаллов арсенида галлия, а также при разработке методик нанодиагностики нитевидных структур
Найти похожие
|
10. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Пр 68-1/23
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. В. Ф. Лукичёв. - М. : Наука, 2013. - 210, [4] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 23). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 25-летию Физико-технологического института РАН. - Б. ц.ББК З844.1я43(2) Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ
Найти похожие
|
11. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Пр 68-1/25
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. Ю. И. Богданов. - Москва : Наука, 2016. - 211, [1] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 25). - Загл. на доп.тит.листе : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Б. ц.ББК З844.1я43(2) Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ
Найти похожие
|
12. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Пр 68-1/20
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. А. А. Орликовский. - М. : Наука, 2009. - 173, [2] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 20). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 20-летию Физико-технологического инстиута РАН. - Б. ц.ББК 648.441я43(2) Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ
Найти похожие
|
13. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Пр 68-1/19
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. В. Ф. Лукичев. - М. : Наука, 2008. - 246, [1] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 19). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 70-летию со дня рождения действительного члена РАН А. А. Орликовского. - Б. ц.ББК 648.441я43(2) Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ
Найти похожие
|
14. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Пр 68-1/24
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. Т. М. Махвиладзе. - М. : Наука, 2014. - 260, [3], [10] вкл. л. ил. с. - (Труды ФТИАН ; т. 24). - Загл. на доп.тит.листе : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Б. ц.ББК З844.1я43(2) Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ
Найти похожие
|
15. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. А 94
Штенников, В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
16. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 204955 - кх. 648.4 К 66
Кормилицын, Олег Иванович. Механика материалов и структур нано- и микротехники [] : учеб. пособие для вузов / О. И. Кормилицын, Ю. А. Шукейло. - М. : Академия, 2008. - 215, [9] с. : граф., рис., табл. - (Высшее профессиональное образование. Радиоэлектроника). - Библиогр.: с. 210-214. - ISBN 978-5-7695-4093-6 : 402.00 р.ББК 648.441я73 + 541.171я73 Рубрики: РАДИОТЕХНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
17. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 220122 - кх. З95 М 59
Микро- и наноэлектроника в системах радиолокации [] : монография / Ю. В. Гуляев [и др.]. - М. : Радиотехника, 2013. - 476, [1] с. - Загл. на обороте тит. л. : Micro and nanoelectronics in systems radar-locations. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-88070-377-7 : 230.00 р. Прил.: с. 369-472ББК З95 Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--РАДИО- И ОПТИЧЕСКАЯ ЛОКАЦИЯ--РАДИОНАВИГАЦИЯ
Оглавление Найти похожие
|
18. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. 62 М 59ГОСТ Р 8.630-2007
Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
19. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. А 95
Ахметов, Д. Г. Микроэлектромеханические электростатические высокопроизводительные инжекторы микроструй жидкости [Текст] / Д. Г. Ахметов, Э. Г. Косцов, А. А. Соколов> // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 53-59 : рис. - Библиогр.: с. 59-60 (47 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОИНЖЕКТОРЫ -- МИКРОАКТЮАТОР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОСТРУЙНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Найти похожие
|
20. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. М 74
Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники / Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23 : рис., табл. - Библиогр. : с. 23 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ТВЕРДЫЕ -- ОБРАБОТКА ПОВЕРХНОСТНАЯ КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах
Найти похожие
|
|
|