Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Главная

Новые поступления

Описание

Базы данных

Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и продолжающихся изданий

Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН

Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН

Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН

Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )

Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)

Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)

Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН

Публикации об УрО РАН

Изобретения уральских ученых

Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)

Нанотехнологии

Демидовские премии

Гибель династии Романовых

История Урала

Личная библиотека С. В. Вонсовского

Книжная коллекция Шубиных

Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН

Труды Института истории и археологии УрО РАН

Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН

Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН

Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН

Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН

Расплавы

Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН

Публикации Черешнева В.А.

Публикации Чарушина В.Н.

Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН

Электронная энциклопедия «Дискурсология»

Библиометрия

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и продолжающихся изданий (75)

Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)

Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)

Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)

Публикации об УрО РАН (4)

Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)

Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-38

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : З84/Г 12
Автор(ы) : Гаврилов С. А., Белов А. Н.
Заглавие : Электрохимические процессы в технологии микро- и наноэлектроники : учебное пособие для вузов . -2-е изд.
Выходные данные : М.: РИОР: Инфра-М, 2014
Колич.характеристики :238, [1] с
Серия: Высшее образование. Бакалавриат
Примечания : Библиогр.: с. 235-236
ISBN, Цена 978-5-369-01299-4: 363.88 р.
ГРНТИ : 47.01
ББК : З844я73 + 541.13я73
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ЭЛЕКТРОХИМИЯ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/А 94
Автор(ы) : Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Заглавие : Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике
Выходные данные : М.: ДМК Пресс, 2011
Колич.характеристики :687, [1] с
Примечания : Библиогр.: с. 679-688
ISBN, Цена 978-5-94074-626-3: 892.65 р.
ГРНТИ : 47
ББК : 648.441
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/Б 26
Автор(ы) : Барыбин, Анатолий Андреевич, Томилин, Виктор Иванович, Шаповалов, Виктор Иванович
Заглавие : Физико-технологические основы макро-, микро- и наноэлектроники : учебное пособие для вузов
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :782 с
Примечания : Предм. указ.: с. 773-782
ISBN, Цена 978-5-9221-2: 783.75 р.
ГРНТИ : 47.33.37
ББК : 648.441я73
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 92
Автор(ы) : Мухин Д., Яминский И.
Заглавие : Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35: рис., табл. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 35 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующий микроскоп--центр масс
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 76
Автор(ы) : Гавриленко В., Новиков Ю., Озерин Ю., Раков А., Тодуа П.
Заглавие : Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26: рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр. : с. 26 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Т 99
Автор(ы) : Тягунов О. А.
Заглавие : Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 19-25: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 25 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наномеханические элементы--микроэлектроника
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 3 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--сборка--микроэлектроника--мст--пайка--качество
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 6 (18 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/Т 18
Автор(ы) : Таперо, Константин Иванович
Заглавие : Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : курс лекций
Выходные данные : М.: Изд. Дом МИСиС, 2011
Колич.характеристики :251 с
Коллективы : Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. полупроводниковой электроники и физики полупроводников
Серия: Национальный исследовательский технологический университет МИСиС; № 1896
Примечания : Библиогр.: с. 249-251
ISBN, Цена 978-5-87623-415-5: 236.94 р.
ГРНТИ : 47.33.37
ББК : 648.441я73-2
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/Д 72
Автор(ы) : Драгунов, Валерий Павлович, Неизвестный, Игорь Георгиевич, Гридчин, Виктор Алексеевич
Заглавие : Основы наноэлектроники : учеб. пособие
Выходные данные : Новосибирск: НГТУ, 2004
Колич.характеристики :494 с.: ил.
Серия: Учебники НГТУ
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 5-7782-0387-X: 263.00 р.
ГРНТИ : 47.33.37
ББК : 648.441я73
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектроника (основы)--нанотранзисторы (основы)--микроэлектроника (основы)--компьютеры квантовые
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/Д 72
Автор(ы) : Драгунов, Валерий Павлович, Неизвестный, Игорь Георгиевич, Гридчин, Виктор Алексеевич
Заглавие : Основы наноэлектроники : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Физматкнига: Логос, 2006
Колич.характеристики :494 с.: ил.
Серия: Новая университетская библиотека
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 5-98704-054-X: Б.ц.
ISBN, Цена 5-89155-149-7: Б.ц.
ГРНТИ : 47.33.37
ББК : 648.441я73
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектроника (основы)--нанотранзисторы (основы)--микроэлектроника (основы)--компьютеры квантовые
Экземпляры : всего : кх(2)
Свободны : кх(2)
Найти похожие

13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/Б 20
Автор(ы) : Балабанов, Виктор Иванович
Заглавие : Нанотехнологии. Наука будущего : научное издание
Выходные данные : М.: Эксмо, 2009
Колич.характеристики :246, [1] с
Серия: Открытия, которые потрясли мир
Примечания : Библиогр.: с. 236-239
ISBN, Цена 978-5-699-30976-4: 180.00 р.
ГРНТИ : 29.19.22
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры : всего : кх(1), ИМЕТ(1)
Свободны : кх(1), ИМЕТ(1)
Найти похожие

14.

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.6/М 29
Автор(ы) : Мартинес-Дуарт Дж. М., Мартин-Палма Р. Дж., Агулло-Руеда Ф.
Заглавие : Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники : переводное издание
Выходные данные : М.: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :367 с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Перевод издания: Martinez-Duart J. M. Nanotechnology for Microelectronics and Optoelectronics/ J. M. Martinez-Duart, R. J. Martin-Palma, F. Agullo-Rueda. -Amsterdam, s. a.
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-94836-126-0: 284.34 р.
ГРНТИ : 47.01 + 29.19 + 31.15.19
ББК : 648-53-03 + 539.2 + 541.171
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- КВАНТОВАЯ РАДИОТЕХНИКА
ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии (оптоэлектроника)--оптоэлектроника (нанотехнологии)--микроэлектроника (нанотехнологии)--нанотехнологии (микроэлектроника)--физика мезоскопическая (нанотехнологии)--физика твердого тела (нанотехнологии)--физика полупроводников (нанотехнологии)--устройства оптоэлектронные (наносируктуры)--приборы электронные (наноструктуры)
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

16.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 648.4/Н 25
Автор(ы) :
Заглавие : Нанотехнологии в электронике/ под ред. Ю. А. Чаплыгина. - (Мир электроники). - Памяти акад. РАН Юрия Васильевича Копаева посвящ. Вып. 2
Выходные данные : М.: Техносфера, 2013
Колич.характеристики :686 с
ISBN, Цена 978-5-94836-353-0: 1072.50, 1015.00, р.
ГРНТИ : 47.01
ББК : 648.441
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры : всего : кх(2)
Свободны : кх(2)
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : З84/Н 25
Автор(ы) : Вонг Б. П., Миттал А., Цао Ю., Старр Г.
Заглавие : Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне : переводное издание
Выходные данные : М.: Техносфера, 2014
Колич.характеристики :431 с
Серия: Мир радиоэлектроники
Перевод издания: NANO-CMOS circuit and physical design. -2005
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 425-431
ISBN, Цена 978-5-94836-377-6: 764.82 р.
ГРНТИ : 47.01
ББК : З844.1
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Оглавление
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 60
Автор(ы) : Соловьев В. В.
Заглавие : Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 14 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 74
Автор(ы) : Теплова Т. Б., Гридин О. М., Соловьев В. В., Ашкинази Е. Е., Ральченко В. Г.
Заглавие : Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 23 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материалы кристаллические твердые--обработка поверхностная квазипластичная--микроэлектроника
Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 95
Автор(ы) : Ахметов Д. Г., Косцов Э. Г., Соколов А. А.
Заглавие : Микроэлектромеханические электростатические высокопроизводительные инжекторы микроструй жидкости
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 53-59: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 59-60 (47 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроинжекторы--микроактюатор--микроэлектроника--микроструйные технологии
Найти похожие

1-20 21-38

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)