Поисковый запрос: (<.>K=МОДЕЛЬ<.>) |
Общее количество найденных документов : 102
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Абрамов И. И. Моделирование металлических и полупроводниковых одноэлектронных приборных структур с учетом пространственного квантования на островках/И. И. Абрамов, А. Л. Баранов // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.2-6
|
2.
| Абрамов И. И. Моделирование резонансно-туннельного диода на основе Si/SiGe /И. И. Абрамов, Н. В. Коломейцева // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 11.-С.16-18
|
3.
| Абрамов И. И. Моделирование резонансно-туннельных диодов на основе GaAs/AlAs с использованием комбинированной двухзонной модели/И. И. Абрамов, И. А. Гончаренко // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 3.-С.10-13
|
4.
| Аверин И. А. Исследование газочувствительности сенсоров на основе наноструктурированных композиционных материалов Sio 2—SnO 2 /И. А. Аверин, И. А. Пронин, А. А. Карманов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 5.-С.23-26
|
5.
| Аверин И. А. Исследование процессов деградации выходных параметров тензорезистивных структур/И. А. Аверин, Ю. В. Аношкин, Р. М. Печерская // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 10.-С.2-4
|
6.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости /В. М. Полунин [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 2.-С.64-68
|
7.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости/В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.12-17
|
8.
| Анализ каталитических и адсорбционных свойств d-металлов-модификаторов диоксида олова/И. А. Аверин, И. А. Пронин, В. А. Мошников, Д. Ц. Димитров, Н. Д. Якушова, А. А. Карманов, М. В. Кузнецова // Нано- и микросистемная техника , 2014. т.№ 7.-С.47-51
|
9.
| Афашагова З. Х. Кинетика кристаллизации нанокомпозитов полиэтилен / карбонат кальция : фрактальная модель/З. Х. Афашагова, Г. В. Козлов, А. Х. Маламатов // Нанотехнологии, 2009. т.№ 1.-С.40-44
|
10.
| Афонин С. М. Решение волнового уравнения в задачах электромагнитоупругости для актюаторов нанои микроперемещений/С. М. Афонин // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 2.-С.26-32
|
11.
| Бавижев М. Д. Особенности прохождения атомных и молекулярных пучков через капиллярные структуры в условиях взаимодействия с поверхностной световой волной /М. Д. Бавижев, А. Д. Бавижев, Н. В. Кот // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 9-10.-С.73-76
|
12.
| Баранова Е. О. Зонд новой конструкции для СЗМ НаноСкан, работающего в режиме измерительного индентирования и склерометрии /Е. О. Баранова, Е. В. Круглов // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.87-94
|
13.
| Бахвалова Т. Н. Моделирование фотонно-кристаллического спектрального демультиплексора /Т. Н. Бахвалова, М. Е. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 1.-С.27-30
|
14.
| Белкин Л. М. Бесструктурная модель поверхностно излучающего лазера с полосой модуляции в свч диапазоне /Л. М. Белкин, М. Е. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 10.-С.9-17
|
15.
| Белозубов Е. М. Термоэлектрические явления в тонкопленочных тензорезисторных датчиках давления при воздействии нестационарных температур и виброускорений/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 6.-С.33-37
|
16.
| Белозубов Е. М. Тонкопленочные микроэлектромеханические системы и датчики на их основе/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, В. А. Васильев // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.33-39
|
17.
| Боронахин А. М. Исследование влияния инструментальных погрешностей испытательного средства на результаты калибровки блока микроакселерометров /А. М. Боронахин, П. А. Иванов, И. Л. Суров // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 3.-С.9-11
|
18.
| Боронахин А. М. Исследование погрешностей триады микромеханических гироскопов с использованием малогабаритного двухосного стенда/А. М. Боронахин, П. А. Иванов, И. Л. Суров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 1.-С.35-41
|
19.
| Боронахин А. М. Коррекция влияния линейного ускорения на показания микромеханического гироскопа /А. М. Боронахин, П. А. Иванов, И. Л. Суров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.41-44
|
20.
| Вавилов В. Д. Математическая модель погрешностей и оборудование для статических испытаний микросистемных акселерометров/В. Д. Вавилов, О. Н. Глазков // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 2.-С.13-15
|
|
|