Поисковый запрос: (<.>K=ОБЗОР<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
К 14
Казанцев, А. А.
Краткий обзор по исследованиям острой токсичности наноматериалов [Текст] / А. А. Казанцев, Р. И. Мухамадеев // Нанотехника. - 2008. - № 2. - С. 71-74 : рис., табл. - Библиогр.: с. 74 (7 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- LC50
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет.
А 49
Алешин, А. Н.
Твердотельные источники света на основе полимерных и нанокомпозитных светодиодных структур (информационный обзор) / А. Н. Алешин // Нанотехника. - 2009. - № 1. - С. 26-35 : ил. - Библиогр. : с. 34-35 (16 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ОРГАНИЧЕСКИЕ СВЕТОДИОДЫ -- СВЕТОИЗЛУЧАЮЩИЕ СТРУКТУРЫ -- СВЕТОДИОДНЫЕ СТРУКТУРЫ
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет.
П 16
Панфилов, Ю. В.
Состояние исследований и разработок в области нанотехнологий в северной Европе (аналитический обзор) / Ю. В. Панфилов // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 2-4 : ил. -
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОНИКА -- ЭНЕРГЕТИКА -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОКОМПОЗИТЫ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет.
Г 51
Гирфанова, Н. А.
Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки / Н. А. Гирфанова // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4 : табл. - Библиогр. : с.13 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИСТЕМЫ ПАССИВНОЙ АВТОФУКСИРОВКИ -- РЕЗКОСТЬ ИЗОБРАЖЕНИЯ
Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет.
У 84
Утенкова, С. Б.
О механической прочности массивов углеродных нанотрубок / С. Б. Утенкова, П. П. Мальцев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6. - С. 6-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАССИВЫ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБОК -- СЦЕПЛЯЕМОСТЬ ПОВЕРХНОСТЕЙ МЕХАНИЧЕСКАЯ -- СБОРКА ЧИПОВ МНОГОУРОВНЕВАЯ
Аннотация: Представлен обзор современного состояния исследований механической прочности массивов углеродных нанотрубок. В настоящее время углеродные нанотрубки являются популярным материалом и находят широкое применение в области электроники. С помощью нанотрубок можно создать каркас наноразмерного соединения, сохраняя определенную геометрию контакта. Рассмотрены перспективы возможных применений массивов углеродных нанотрубок для организации механического соединения высокой прочности. Описаны наиболее важные эксперименты, выполненные с углеродными нанотрубками, в которых определены их основные свойства
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
Р 15
Радиационные эффекты в кристаллах телаурида кадмия-ртути / А. В. Войцеховский, А. П. Коханенко [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6. - С. 10-17 : рис. - Библиогр. : с. 17 (35 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕЛЛУРИД КАДМИЯ-РТУТИ -- ДЕФЕКТЫ РАДИАЦИОННЫЕ -- ФОТОДЕТЕКТОР
Аннотация: Приведен обзор имеющихся данных по процессам радиационного дефектообразования в КРТ, выpащенном объемными и эпитаксиальнъми методами. Рассмотрено влияние на электрофизические параметры материала облучения ?-квантами, электронами и ионами. Показано сходство процессов радиационного дефектообразования в КРТ при облучении различными частицами и представлены имеющиеся модели образования радиационных дефектов
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
В 65
Влияние облучения на характеристики приборов с накоплением заряда / А. В. Войцеховский, А. П. Коханенко [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 32-37 : рис. - Библиогр. : с. 37 (37 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОРЫ С НАКОПЛЕНИЕМ ЗАРЯДА -- ДЕФЕКТЫ РАДИАЦИОННЫЕ -- ПРИБОРЫ РАДИАЦИОННО-СТОЙКИЕ
Аннотация: Проведен обзор имеющихся данных по радиационной стойкости приборов с накоплением заряда. Рассмотрено влияние облучения ?-квантами, нейтронами, электронами и протонами на образование радиационных дефектов в различных типах приборов с накоплением заряда и изменение их характеристик
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
Н 53
Непомнящий, О. В.
Проблемы верификации проекта при сквозном проектировании вычислительных систем-на-кристалле / О. В. Непомнящий, С. Ю. Алекминский // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 9. - С. 4-7 : рис. - Библиогр. : с. 7 (6 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ВЕРИФИКАЦИЯ ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ -- ВЕРТИФИКАЦИЯ СИСТЕМНАЯ -- СИСТЕМА-НА-КРИСТАЛЛЕ -- СБИС
Аннотация: Рассмотрены современные проблемы функциональной и системной верификации проектирования сверхбольших интегральных схем и, в частности, систем-на-кристалле. Приведен обзор существующих методик верификации и предложены пути решения означенных проблем
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
С 51
Смолин, В. К.
Тонкопленочные резистивные элементы первичных преобразователей датчиков / В. К. Смолин // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 9. - С. 16-23 : рис. - Библиогр. : с. 23 (53 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РЕГИСТОР -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- ТЕХНОЛОГИЯ ФОРМИРОВАНИЯ -- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ПЕРВИЧНЫЕ
Аннотация: Дан обзор конструкторско-технологических особенностей выполнения элементов первичных преобразователей датчиков различного функционального назначения, использующих в качестве чувствительных элементов тонкопленочные резисторы
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет.
В 58
Влияние облучения на характеристики фотодетекторов из HgCdTe / А. В. Войцеховский, А. П. Коханенко [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 9. - С. 48-52 : рис., табл. - Библиогр. : с. 52 (27 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОТОДЕТЕКТОР -- ДЕФЕКТЫ РАДИАЦИОННЫЕ -- ТЕЛЛУРИД КАДМИЯ-РТУТИ
Аннотация: Приведен обзор имеющихся данных по влиянию облучения на характеристики фотодетекторов из HgCdTe. Рассмотрено влияние облучения ?-квантами и электронами. Показано, что фотоприемники с пассивацией CdTe имеют высокую радиационную стойкость
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных