Поисковый запрос: (<.>K=ОПРЕДЕЛЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 51
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
И 36
Изделия микросистемной техники - термины и определения, классификация и обозначение типов [Текст] / В. Д. Вернер [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 2-5 : табл. - Библиогр.: с. 5 (11 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕРМИНЫ -- ОПРЕДЕЛЕНИЯ -- ПАРАМЕТРЫ -- МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНИКА
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет.
Н 76
Новый метод электрохимической регистрации белков и нуклеиновых кислот [Текст] / С. А. Трашин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 8. - С. 49-54 : рис., табл. - Библиогр.: с. 54 (21 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОАНАЛИЗ -- ЭКСТРАКЦИЯ БЕЛКОВ -- ДНК СЕНСОР
Аннотация: Предложен новый подход для определения белков и нуклеиновых кислот с использованием электродов, экранированных тонким слоем органической жидкости. Показана возможность электрохимической регистрации белков при их экстракции в органический растворитель, что может быть использовано для их аналитического определения. С использованием экранированных электродов разработан новый электрохимический метод регистрации ДНК без использования каких-либо меток. Метод обладает высокой чувствительностью, достаточной для детектирования в олигонуклеотиде единичной точечной мутации
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет.
У 74
Усанов, Д. А.
Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта [Текст] / Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль , К. С. Авдеев // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 43-47 : рис. - Библиогр. : с. 47 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛАЗЕРНЫЙ АВТОДИН -- МОДУЛЯЦИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ МИКРОПРОФИЛЯ -- АВТОДИННЫЙ СИГНАЛ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет.
П 76
Применение виртуального растрового электронного микроскопа для определения диаметра проецирующей микролинзы атомного нанолитографа / А. В. Заболоцкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 2-7 : рис. - Библиогр. : с. 7 (15 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЭМ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- ОПТИКА АТОМНАЯ -- НАНОЛИТОГРАФИЯ
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет.
А 53
Алфимов, С. М.
О введении стандартов по микросистемной технике / С. М. Алфимов // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 50-52. - Библиогр. : с. 52 (2 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕХНИКА МИКРОСИСТЕМНАЯ -- ТЕРМИНЫ -- ОПРЕДЕЛЕНИЯ -- ПОНЯТИЯ -- МИКРОСИСТЕМА
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
О-62
Определение концентрации металлов в наноструктурированных жидких средах лазерно- оптическим методом. часть 1. эмпирические формулы / В. В. Слепцов, А. Ю. Тянгинский, С. А. Артюхов, М. В. Церулев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 24-29 : рис., табл. - Библиогр. : с.29 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМУЛЫ ЭМПИРИЧЕСКИЕ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ -- РАСТВОРЫ КОЛЛОИДНЫЕ
Аннотация: Рассматривается лазерно-оптический метод определения концентрации наноструктурированных жидких сред. На примере исследования водного раствора наночастиц серебра демонстрируется получение зависимости концентрации металла от светопропускания раствора. Проводится обоснованный выбор вида и параметров эмпирической формулы из класса наиболее распространенных формул с двумя и тремя параметрами, наилучшим образом аппроксимирующей зависимость концентрации от светопропускания в смысле минимизации суммы квадратов отклонений
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
Г 51
Гирфанова, Н. А.
Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки / Н. А. Гирфанова // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4 : табл. - Библиогр. : с.13 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИСТЕМЫ ПАССИВНОЙ АВТОФУКСИРОВКИ -- РЕЗКОСТЬ ИЗОБРАЖЕНИЯ
Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
Б 83
Боронахин, А. М.
Применение микромеханических датчиков для диагностики рельсового пути / А. М. Боронахин, Л. Н. Подгорная // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 8. - С. 47-50 : рис. - Библиогр. : с. 50 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДИАГНОСТИКА ПУТИ -- АКСЕЛЕРОМЕТР МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ -- МОДУЛЬ ИНЕРЦИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ
Аннотация: Рассматривается возможность использования микромеханических акселерометров и гироскопов в диагностике состояния железнодорожного пути. Разработан алгоритм определения вертикальных неровностей рельсовых нитей. Приводятся результаты экспериментального проезда системы
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
К 27
Карташев, В. А.
Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет.
Т 36
Тестовая структура для определения радиуса кривизны микромеханических зондов сканирующей силовой микроскопии / А. Н. Белов, С. А. Гаврилов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 95-98 : рис. - Библиогр. : с.98 (10 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРА ТЕСТОВАЯ -- ЗОНДЫ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЕ -- РАДИУС КРИВИЗНЫ
Аннотация: Приведено описание тестовой структуры на основе нанопрофилированного алюминия для определения радиуса кривизны острия игл микромеханических зондов сканирующей силовой микроскопии. На примере исследования геометрии различных микромеханических зондов проведена апробация тестовой структуры. Показано, что ее использование позволило определить геометрию острия зондов, в т.ч. сверхострых, радиус кривизны острия игл у которых составлял 2 нм
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных