Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИГД УрО РАН
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (230)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (22)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (6)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (18)Публикации об УрО РАН (1)Изобретения уральских ученых (190)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (50)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (52)Труды Института истории и археологии УрО РАН (3)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (34)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (73)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (42)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (65)Расплавы (23)Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН (2)Публикации Черешнева В.А. (17)Публикации Чарушина В.Н. (8)Каталог библиотеки ИГД УрО РАН (70)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (80)Библиометрия (22)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ОПРЕДЕЛЕНИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 51
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-51   51-51 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Н 76
Автор(ы) : Трашин С. А., Вагин М. Ю., Карпачева Г. П., Озкан С. Ж., Карякин А. А.
Заглавие : Новый метод электрохимической регистрации белков и нуклеиновых кислот
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 8. - С. 49-54: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 54 (21 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электроанализ--экстракция белков--днк сенсор
Аннотация: Предложен новый подход для определения белков и нуклеиновых кислот с использованием электродов, экранированных тонким слоем органической жидкости. Показана возможность электрохимической регистрации белков при их экстракции в органический растворитель, что может быть использовано для их аналитического определения. С использованием экранированных электродов разработан новый электрохимический метод регистрации ДНК без использования каких-либо меток. Метод обладает высокой чувствительностью, достаточной для детектирования в олигонуклеотиде единичной точечной мутации
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 36
Автор(ы) : Вернер В. Д., Иванов А. А., Коломенская Н. Г., Лучинин В. В., Мальцев П. П., Попова И. В., Сауров А. Н., Телец В. А.
Заглавие : Изделия микросистемной техники - термины и определения, классификация и обозначение типов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 2-5: табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 5 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): термины--определения--параметры--микросистемная техника
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/А 53
Автор(ы) : Алфимов С. М.
Заглавие : О введении стандартов по микросистемной технике
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 50-52. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 52 (2 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/П 76
Автор(ы) : Заболоцкий А. В., Мелентьев П. Н., Шешин Е. П., Батурин А. С., Балыкин В. И., Коростылев Е. В., Лапшин Д. А., Кузин А. А.
Заглавие : Применение виртуального растрового электронного микроскопа для определения диаметра проецирующей микролинзы атомного нанолитографа
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 2-7: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 7 (15 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ФИЗИКА
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/У 74
Автор(ы) : Усанов Д. А., Скрипаль А. В., Авдеев К. С.
Заглавие : Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 43-47: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 47 (7 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): лазерный автодин--модуляция излучения--измерение микропрофиля--автодинный сигнал
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров Г. П., Волков А. А., Устюжанинов А. Л.
Заглавие : Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78: табл., рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 78 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанопленки in-situ--метод измерения внутренних напряжений--пластина консольно закрепленная
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ш 75
Автор(ы) : Шмырева А. Н., Борисов А. В., Максимчук Н. В.
Заглавие : Электронные сенсоры на основе наноструктурных пленок оксида церия
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 99-104: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с.104 (24 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сенсеры электронные--пленки наноструктурные--метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Аннотация: Изучено влияние технологических параметров получения наноструктурных пленок СеОх на электронные, структурные, оптические и фотоэлектрические характеристики с целью их применения в качестве активного элемента различных микроэлектронных сенсоров: высокоэффективных фоторезисторов и МДП-фотодиодов для регистрации биолюминесценции, ион-селективных полевых транзисторов (ИСПТ) и МДП-варакторов, реагирующих на изменение рН в результате биохимических процессов. Анализ методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии РФЭС показал, что в зависимости от технологических режимов, прежде всего от температуры подложки, изменяется соотношение концентраций ионов Се3+ и Се4+ в пленках СеОх, что приводит к изменению ширины запрещенной зоны. Установлена корреляция этих изменений с оптическими и фотоэлектрическими характеристиками. На основе разработанных высокочувствительных фотоприемников и живых организмов (дафнии и биолюминесцентные бактерии) создан портативный электронный биолюменометрический комплекс для определения общей токсичности среды, вызванной патулином, бифентрином и хлорпирофосом. Минимальный порог чувствительности составил для патулина 0.1 мг/л за 2 ч и 0.01 мг/л за 6 и 24 ч эксперимента, бифентрина - 0.01 мг/л за 3 ч и 0.0001 мг/л за 24 ч эксперимента. Показано, что применение нанокристаллических пленок оксида церия СеОх в качестве диэлектрика МДП-структур повышает чувствительность и стабильность сенсоров этого типа благодаря высокой плотности поверхностных чувствительных центров CeOх (до 1020 м-2), большому значению диэлектрической проницаемости (? = 26) и ширине запрещенной зоны (3.6 эВ), низким значениям токов утечек. Приведены результаты применения ИСПТ и МДП-варакторов с нанокристаллической пленкой CeOх для создания иммунных и ферментных биосенсоров. Порог чувствительности ферментного сенсора на основе холинэстеразы к фосфорорганическим пестицидам составляет 10-9 М, ионам тяжелых металлов - 10-7 М. рН-чувствительность ИСПТ - 58 мВ/рН, что близко к максимально возможной чувствительности для структуры полупроводник-диэлектрик-раствор, т.н. Нернстовской чувствительности - 59 мВ/рН
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Журавлева П. Л., Тренинков И. А., Сбитиева С. В., Алексеев А. А., Горлов Д. С.
Заглавие : Исследование структуры однослойных покрытий TiN и многослойных покрытий TiN/ZrN
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 9-10. - С. 112-116: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 116 (4 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: B работе исследована структура ионоплазменных покрытий (однослойное - TiN и многослойное - TiN/ZrN), нанесенных на подложки из сплава ЭИ961, и определены величины остаточных напряжений в основных фазах покрытий. Исследование методом растровой электронной микроскопии (РЭМ) показало, что покрытие TiN/ZrN имеет периодичную слоистую структуру. Измерены толщины покрытий (~ 17 мкм) и толщины отдельных слоев (~ 75 нм). Результаты темнопольных исследований методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) показали, что слои TiN и ZrN являются поликристаллическими, размеры зерен сопоставимы с размерами слоев. Методом рентгеноструктурного анализа (РСА) определен фазовый состав покрытий, выбраны рентгеновские линии для определения остаточных напряжений (ОН), установлена однородность химического состава по глубине покрытия. В результате анализа остаточных напряжений показано, что в многослойном покрытии величина ОН на 40 % меньше, чем в однослойном. Напряжения в покрытиях являются сжимающими. Образцы с покрытием находятся в объемном напряженном состоянии, следовательно, напряжения в подложках обратны по знаку напряжениям в покрытиях. В многослойном покрытии величина ОН в фазе TiN на порядок меньше, чем в фазе ZrN
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 54
Автор(ы) : Кузьмин В. И., Гадзаов А. Ф., Тытик Д. Л., Белащенко Д. К., Сиренко А. Н.
Заглавие : Методы разделения быстрых и медленных движений атомов как основа анализа динамической структуры наночастиц
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 11-12. - С. 92-97: табл., рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 97 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ структуры наночастиц--кластеры серебра магические--методы разделения движений атомов
Аннотация: B численных экспериментах с магическими кластерами серебра (147, 309 и 561 атомов; молекулярная динамика; модель погруженного атома) обнаружен регулярный характер изменения функции среднего квадрата смещения, который свидетельствует о высокой степени корреляции движений атомов в кластерах. На примере 147-атомного кластера проведен детальный анализ функций среднего квадрата смещения каждого атома. Использован метод разделения быстрых и медленных движений, который позволяет отфильтровать быстрые движения атомов. В основе метода лежат алгоритмы исключения тренда из данных и определения почти-периодов колебаний. В результате проведенного анализа, функции среднего квадрата смещения атомов кластера классифицированы по группам схожих графиков с высокой корреляцией
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Х 20
Автор(ы) : Кнерельман Е. И., Зверева Г. И., Кислов М. Б., Давыдова Г. И., Крестинин А. В.
Заглавие : Характеризация продуктов на основе однослойных углеродных нанотрубок методом адсорбции азота
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 11-12. - С. 80-87: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 87 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотрубки углеродные однослойные--метод адсорбции азота--метод дубинина-радушкевича
Аннотация: В технических приложениях важными характеристиками продуктов на основе однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) является доступный внутренний объем трубок и их внешняя удельная поверхность. Данные характеристики были определены различными методами, основанными на адсорбции азота. Предложен новый эталон для с. метода - образец чистых ОСУНТ без микропор. Показано, что t-метод и с. метод с выбором в качестве эталона сравнения образца чистых ОСУНТ без микропор дают хорошо совпадающие результаты по объему микропор и внешней удельной поверхности и могут успешно применяться для определения этих величин в ОСУНТ-продуктах. В отличие от них, метод Дубинина-Радушкевича дает систематически завышенное значение объема микропор и существенно заниженное значение внешней удельной поверхности ОСУНТ, что может объясняться вкладом мезопор и сильной энергетической неоднородностью поверхности тяжей ОСУНТ
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-51   51-51 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика