Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 27
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Чеканов В. В. Электроотражение света от границы "магнитная жидкость - алюминиевый электрод"/В. В. Чеканов, Е. А. Бондаренко, А. А. Гетманский // Нанотехника, 2008. т.№ 3.-С.6-10
|
2.
| Исслелование самоорганизации высокоупорядоченных нанокластеров германия при осаждении пленок поликристаллического кремния, легированного германием/А. А. Ковалевский [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 4.-С.14-19
|
3.
| Волобуев А. Н. Распределение электронов в нанопленках металлов при взаимодействии с электромагнитным излучением/А. Н. Волобуев, А. В. Скворцов // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 3.-С.2-7
|
4.
| Характеристики нанотолщинного композита на гибкой подложке при деформациях изгиба /Д. А. Мудрецов, А. А. Жуков , Е. С. Кузьменко, И. Н. Компанец // Нанотехника, 2010. т.№ 2 .-С.72-77
|
5.
| Технология изготовления аккумуляторов водорода на основе углеродных пленок, легированных фтором /М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.27-30
|
6.
| Павлов С. В. Модель фазовых переходов в тонкой эпитаксиальной пленке сегнетоэлектрика на подложке /С. В. Павлов // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.6-9
|
7.
| Оптимизация условий формирования тонких пленок ZnO для использования в интегральных МЭМС-устройствах/Д. Г. Громов [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 12.-С.27-30
|
8.
| Исследование кристаллографической текстуры и морфологии поверхности буферных слоев для ВТСП-2, нанесенных методом дуального термореактивного магнетронного напыления /С. Ю. Лучкин, И. И. Акимов, А. В. Кацай, Н. Н. Краснобаев, А. В. Митин, В. С. Митин, В. К. Орлов, А. О. Титов // Нанотехника, 2011. т.№ 4.-С.78-84
|
9.
| Локальное переключение в субмикронных полимерных пленках как причина формирования эмиссионных центров /А. М. Ярыжнов [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 2.-С.35-37
|
10.
| Радиопоглощающие свойства углеродных наноматериалов /С. А. Жданок [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 2.-С.72-75
|
|
|