Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (121)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (77)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (22)Публикации об УрО РАН (3)Изобретения уральских ученых (5)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (49)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (15)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (108)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (119)Расплавы (24)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>)
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению/Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия, 2009. т.№ 3
2.

Ellipsometry at the Nanoscale/eds. M. Losurdo, K. Hingerl. - 2013
3.

Multilayer Thin Films. [Pt. 2]:[Applications]. - [2012]
4.

Multilayer Thin Films. [Pt. 1]:[Preparation and Charcterization]. - [2012]
5.

Адсорбция кислорода и водорода на поверхности наноструктурированной SnO2 пленки /А. К. Гатин [и др.] // Российские нанотехнологии, 2012. т.№ 3-4.-С.57-61
6.

Введение в физику поверхности/К. Оура [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко]. - 2006
7.

Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона /В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.2-5
8.

Влияние микроструктуры подложки на продольную корреляционную длину пористой системы анодного оксида алюминия: исследование методами малоугловой дифракции /А. П. Чумаков, И. В. Росляков, К. С. Напольский, А. А. Елисеев , А. В. Лукашин, H. Eckerlebe, W. G. Bouwman, Д. В. Белов, А. И. Окороков, С. В. Григорьев // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 9-10.-С.54-60
9.

Серегин Д. С. Влияние температуры кристаллизации на электрофизические свойства пленок цтс /Д. С. Серегин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7.-С.19-22
10.

Белянин А. Ф. Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе/А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. В. Борисов // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 8.-С.20-27
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика