Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (121)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (77)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (22)Публикации об УрО РАН (3)Изобретения уральских ученых (5)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (49)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (15)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (108)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (119)Расплавы (24)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>)
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   A 31


   
    ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению / Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12. : ил. . - ISSN 1993-8578
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОЛЕКУЛЯРНАЯ СБОРКА -- СВЕРХТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Найти похожие

2.
Инвентарный номер: И-13751 - кх.
   539.2
   E 46


   
    Ellipsometry at the Nanoscale [Text] : сборник / eds. M. Losurdo, K. Hingerl. - Berlin [et al.] : Springer, 2013. - XVIII, 730 p. : il. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-3-642-33955-4 : 11243.00 р.
ГРНТИ
ББК 539.212.6с343.54
Рубрики: ФИЗИКА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

  Оглавление
Найти похожие

3.
Инвентарный номер: U-13331 - кх.
   539.2
   M 94


    Multilayer Thin Films [Text] / Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. - Wienheim : Wiley-VCH, [2012] - .
   [Pt. 2] : [Applications]. - [2012]. - XXXIV, 471-1088 p. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 1053-1088. - ISBN 978-3-527-31648-9 : 7788.00 р.
ГРНТИ
ББК 539.2 + 541.171
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
   ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА


Найти похожие

4.
Инвентарный номер: U-13330 - кх.
   539.2
   M 94


    Multilayer Thin Films [Text] / Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. - Wienheim : Wiley-VCH, [2012] - .
   [Pt. 1] : [Preparation and Charcterization]. - [2012]. - XXXIV, 469 p. - ISBN 978-3-527-31648-9 : 7788.00 р.
ГРНТИ
ББК 539.2 + 541.171
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
   ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА


Найти похожие

5.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 32


   
    Адсорбция кислорода и водорода на поверхности наноструктурированной SnO2 пленки / А. К. Гатин [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2012. - № 3-4. - С. 57-61 : рис. - Библиогр. : с. 61 (23 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ -- МЕТОД АТОМНО-СИЛОВОЙ И СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ И СПЕКТРОСКОПИИ -- АДСОРБАТ -- ПЛЕНКА SNO2 НАНОСТРУКТУРИРОВАННАЯ
Аннотация: Методами атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии в сочетании с оже-электронной спектроскопией исследована адсорбция кислорода и водорода на поверхности пленки, состоящей из наночастиц SnO 2. Обнаружено влияние адсорбированных молекул на электронное строение наночастиц. Описан механизм взаимодействия адсорбата с поверхностью, приводящий к наблюдаемым эффектам

Найти похожие

6.
Инвентарный номер: 199155 - кх; 199516 - кх.
   539.2
   В 24


   
    Введение в физику поверхности [] : научное издание / К. Оура [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко] ; [РАН, СО, Ин-т автоматики и процессов управления]. - М. : Наука, 2006. - 490 с. : ил. - Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490. - Пер. изд. : Surface Scinece. An Introduction / K. Oura. - Berlin, 2003. - ISBN 5-02-034355-2 : 264.00 р., 99.00 р.
ГРНТИ
ББК 539.212.5
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТЕЙ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ (ФИЗИКА) -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (ФИЗИКА) -- СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (ФИЗИКА) -- АДСОРБЦИЯ (ПОВЕРХНОСТЬ ТВЕРДОГО ТЕЛА) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (СТРУКТУРА) -- ДИФРАКЦИЯ (ФИЗИКА)

Найти похожие

7.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 58


   
    Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона / В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 2-5 : рис. - Библиогр.: с. 5 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДОЗА ЭЛЕКТРОННОГО ОБЛУЧЕНИЯ -- ЭЛЕМЕНТЫ РЕЛЬЕФНЫЕ -- КОНТАМИНАЦИЯ -- МИКРОСКОП НИЗКОВОЛЬТНЫЙ РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 при энергии электронов 1 кэВ на профиль рельефных элементов меры МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения увеличивается ширина нижнего основания рельефных элементов и получены зависимости ширины нижнего основания от дозы электронного облучения при разных режимах облучения. Приведены результаты влияния режима облучения на толщину контаминационной пленки

Найти похожие

8.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 58


   
    Влияние микроструктуры подложки на продольную корреляционную длину пористой системы анодного оксида алюминия: исследование методами малоугловой дифракции / А. П. Чумаков, И. В. Росляков, К. С. Напольский, А. А. Елисеев , А. В. Лукашин, H. Eckerlebe, W. G. Bouwman, Д. В. Белов, А. И. Окороков, С. В. Григорьев // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 54-60 : рис., табл. - Библиогр.: с. 60 (26 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСТРУКТУРА -- МЕТОДЫ МАЛОУГЛОВОЙ ДИФРАКЦИИ -- АЛЮМИНИЙ -- ПЛАСТИНА -- МЕМБРАНЫ СИНТЕЗИРОВАННЫЕ -- КИСЛОТА -- ПЛЕНКА ПОРИСТАЯ ОКСИДНАЯ -- КОРРЕЛЯЦИЯ -- НЕЙТРОН
Аннотация: Методами малоугловой дифракции нейтронов и синхротронного излучения исследованы три серии мембран анодного оксида алюминия. Образцы получены окислением алюминиевых пластин с использованием серной и щавелевой кислот при различных напряжениях и отличаются величиной расстояния между порами. В результате экспериментов по малоугловой дифракции установлена линейная зависимость между средним размером зерна исходной алюминиевой пластины и средней прямолинейностью пор синтезированных мембран. Обнаруженная корреляция обусловлена влиянием кристаллографической ориентации зерен исходной алюминиевой пластины на рост пористой оксидной пленки

Найти похожие

9.
Инвентарный номер: нет.
   
   С 32


    Серегин, Д. С.
    Влияние температуры кристаллизации на электрофизические свойства пленок цтс / Д. С. Серегин // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7. - С. 19-22 : рис., табл. - Библиогр. : с.22 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗОЛЬ-ГЕЛЬ -- ПЛЕНКИ -- СЕГНЕТОЭЛЕКТРИК
Аннотация: Исследовано влияние температуры отжига на электрофизические свойства пленок ЦТС, сформированных методом химического осаждения из растворов. Образцы, кристаллизованные при температурах 600- 700 °C, имеют характерные для сегнетоэлектриков петли гистерезиса и ВФХ, при этом с ростом температуры отжига наблюдается снижение остаточной поляризации, прямоугольности петель гистерезиса, уменьшение токов утечки и некоторое возрастание электрической прочности

Найти похожие

10.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 44


    Белянин, А. Ф.
    Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе / А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. В. Борисов // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 8. - С. 20-27 : рис., граф. - Библиогр.: с. 27 (19 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
УГЛЕРОДНЫЕ ПЛЕНКИ -- АВТОЭМИССИОННЫЕ КАТОДЫ -- СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА
Аннотация: Рассмотрены особенности формирования углеродных пленок методом тлеющего разряда. Изучены состав и строение углеродных пленок с использованием электронной микроскопии, спектроскопии ИК и комбинационного рассеяния света и рентгеновской дифрактометрии. Изучено влияние термообработки на строение углеродных пленок и вольт-амперные характеристики автоэмиссионных катодов на их основе

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика