Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
A 31
ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению / Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12. : ил.
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОЛЕКУЛЯРНАЯ СБОРКА -- СВЕРХТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: И-13751 - кх.
539.2
E 46
Ellipsometry at the Nanoscale [Text] : сборник / eds. M. Losurdo, K. Hingerl. - Berlin [et al.] : Springer, 2013. - XVIII, 730 p. : il. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-3-642-33955-4 : 11243.00 р.ББК 539.212.6с343.54
Рубрики: ФИЗИКА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Оглавление
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: U-13330 - кх.
539.2
M 94
Multilayer Thin Films [Text] / Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. - Wienheim : Wiley-VCH, [2012] - .
[Pt. 1] : [Preparation and Charcterization]. - [2012]. - XXXIV, 469 p. - ISBN 978-3-527-31648-9 : 7788.00 р.ББК 539.2 + 541.171
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: U-13331 - кх.
539.2
M 94
Multilayer Thin Films [Text] / Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. - Wienheim : Wiley-VCH, [2012] - .
[Pt. 2] : [Applications]. - [2012]. - XXXIV, 471-1088 p. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 1053-1088. - ISBN 978-3-527-31648-9 : 7788.00 р.ББК 539.2 + 541.171
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет.
А 19
Аверин, И. А.
Формирование и исследование пористых оксидных пленок на алюминии / И. А. Аверин, И. А. Губич // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 6. - С. 11-14 : рис. - Библиогр.: с. 14 (назв. 19)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОДЕЛИ -- СКАН -- МОРФОСТРУКТУРА -- АНОДИРОВАНИЕ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОЕ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНОСИЛОВАЯ
Аннотация: Представлены результаты исследования процесса формирования пористого оксида алюминия на объемной и пленочной основах в водном растворе щавелевой кислоты. Выявлены закономерности роста оксидной пленки в условиях изменения плотности тока и напряжения
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
А 32
Адсорбция кислорода и водорода на поверхности наноструктурированной SnO2 пленки / А. К. Гатин [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2012. - № 3-4. - С. 57-61 : рис. - Библиогр. : с. 61 (23 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ -- МЕТОД АТОМНО-СИЛОВОЙ И СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ И СПЕКТРОСКОПИИ -- АДСОРБАТ -- ПЛЕНКА SNO2 НАНОСТРУКТУРИРОВАННАЯ
Аннотация: Методами атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии в сочетании с оже-электронной спектроскопией исследована адсорбция кислорода и водорода на поверхности пленки, состоящей из наночастиц SnO 2. Обнаружено влияние адсорбированных молекул на электронное строение наночастиц. Описан механизм взаимодействия адсорбата с поверхностью, приводящий к наблюдаемым эффектам
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
А 72
Антоненко, С. В.
Исследование пленок YBa2Cu3O7-х на СТМ и ПЭМ / С. В. Антоненко, С. М. Толкачева, А. А. Тимофеев // Нанотехника. - 2010. - № 2. - С. 61-62 : рис. - Библиогр. : с. 62 (3 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПЛЕНКИ ВТСП -- МЕТОД СТМ -- МЕТОД ПЭМ
Аннотация: Рассмотрено приготовление ВТСП пленок Y(Sm)Ba2Cu3O7-x Представлены результаты по экспериментальному исследованию данных пленок методами СТМ, ПЭМ. Показано, что ВТСП пленки имеют кристаллическое строение. Оценены поперечные размеры кристаллитов - 5 - 40 нм. Наблюдается корреляция между данными СТМ и ПЭМ. ВТСП пленки предназначены для атомной техники, сверхпроводящих магнитных систем, датчиков излучения, болометров и т.д.
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
А 91
Асташенкова, О. Н.
Контроль физико-механических параметров тонких пленок / О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29 : рис. - Библиогр.: с. 29 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕМБРАНЫ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- МОДУЛЬ ЮНГА -- НАПРЯЖЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИЕ -- СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК -- СПОСОБЫ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
Б 44
Белянин, А. Ф.
Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе / А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. В. Борисов // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 8. - С. 20-27 : рис., граф. - Библиогр.: с. 27 (19 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
УГЛЕРОДНЫЕ ПЛЕНКИ -- АВТОЭМИССИОННЫЕ КАТОДЫ -- СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА
Аннотация: Рассмотрены особенности формирования углеродных пленок методом тлеющего разряда. Изучены состав и строение углеродных пленок с использованием электронной микроскопии, спектроскопии ИК и комбинационного рассеяния света и рентгеновской дифрактометрии. Изучено влияние термообработки на строение углеродных пленок и вольт-амперные характеристики автоэмиссионных катодов на их основе
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: 218679 - кх.
539.2
Б 49
Берлин, Евгений Владимирович.
Получение тонких пленок реактивным магнетронным распылением [] : научное издание / Е. В. Берлин, Л. А. Сейдман. - М. : Техносфера, 2013. - 255 с., [2] вкл. л. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 242-255. - ISBN 978-5-94836-369-1 : 568.70 р.ББК 539.212.6
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных