Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (121)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (77)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (22)Публикации об УрО РАН (3)Изобретения уральских ученых (5)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (49)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (15)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (108)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (119)Расплавы (24)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>)
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/A 31
Автор(ы) : Кравченко Д., Буздуган А., Кравченко А., Тузовский В.
Заглавие : ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению
Место публикации : Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12: ил. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная сборка--сверхтонкие пленки--микроэлектроника
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/E 46
Заглавие : Ellipsometry at the Nanoscale : сборник
Выходные данные : Berlin [et al.]: Springer, 2013
Колич.характеристики :XVIII, 730 с.: il.
Примечания : Библиогр. в конце глав.
ISBN, Цена 978-3-642-33955-4: 11243.00 р.
ГРНТИ : 29.19
ББК : 539.212.6с343.54
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
  Оглавление
Найти похожие

3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 539.2/M 94
Автор(ы) :
Заглавие : Multilayer Thin Films/ Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. [Pt. 2]: [Applications]
Выходные данные : Wienheim: Wiley-VCH, [2012]
Колич.характеристики :XXXIV, 471-1088 с
Коллективы : Sequental Assembly of Nanocomposite Materials
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 1053-1088
ISBN, Цена 978-3-527-31648-9: 7788.00 р.
ГРНТИ : 31.15.19 + 29.19
ББК : 539.2 + 541.171
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 539.2/M 94
Автор(ы) :
Заглавие : Multilayer Thin Films/ Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. [Pt. 1]: [Preparation and Charcterization]
Выходные данные : Wienheim: Wiley-VCH, [2012]
Колич.характеристики :XXXIV, 469 с
Коллективы : Sequental Assembly of Nanocomposite Materials
ISBN, Цена 978-3-527-31648-9: 7788.00 р.
ГРНТИ : 31.15.19 + 29.19
ББК : 539.2 + 541.171
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 32
Автор(ы) : Гатин А. К., Гришин М. В., Кирсанкин А. А., Трахтенберг И. Ш., Шуб Б. Р.
Заглавие : Адсорбция кислорода и водорода на поверхности наноструктурированной SnO2 пленки
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - № 3-4. - С. 57-61: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 61 (23 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методами атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии в сочетании с оже-электронной спектроскопией исследована адсорбция кислорода и водорода на поверхности пленки, состоящей из наночастиц SnO 2. Обнаружено влияние адсорбированных молекул на электронное строение наночастиц. Описан механизм взаимодействия адсорбата с поверхностью, приводящий к наблюдаемым эффектам
Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/В 24
Автор(ы) : Оура, Кендзиро, Лифшиц, Виктор Григорьевич, Саранин, Александр Александрович, Зотов, Андрей Вадимович, Катаяма, Митсухиро
Заглавие : Введение в физику поверхности : научное издание
Выходные данные : М.: Наука, 2006
Колич.характеристики :490 с.: ил.
Коллективы : Ин-т автоматики и процессов управления ДО РАН
Перевод издания: Oura K. Surface Scinece. An Introduction. -Berlin, 2003
Примечания : Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490
ISBN, Цена 5-02-034355-2: 264.00, 99.00, р.
ГРНТИ : 29.19 + 31.15.17
ББК : 539.212.5
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика поверхностей--кристаллография (физика)--пленки тонкие (физика)--поверхности (физика)--спектроскопия электронная (физика)--адсорбция (поверхность твердого тела)--наноструктуры (физика)--поверхности (структура)--дифракция (физика)
Экземпляры : всего : кх(2)
Свободны : кх(2)
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Раков А. В., Тодуа П. А., Филиппов М. Н., Шаронов В. А.
Заглавие : Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 2-5: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 5 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): доза электронного облучения--элементы рельефные--контаминация--микроскоп низковольтный растровый электронный
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 при энергии электронов 1 кэВ на профиль рельефных элементов меры МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения увеличивается ширина нижнего основания рельефных элементов и получены зависимости ширины нижнего основания от дозы электронного облучения при разных режимах облучения. Приведены результаты влияния режима облучения на толщину контаминационной пленки
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Чумаков А. П., Росляков И. В., Напольский К. С., Елисеев А. А., Лукашин А. В., Eckerlebe H., Bouwman W. G., Белов Д. В., Окороков А. И., Григорьев С. В.
Заглавие : Влияние микроструктуры подложки на продольную корреляционную длину пористой системы анодного оксида алюминия: исследование методами малоугловой дифракции
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 54-60: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 60 (26 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроструктура--методы малоугловой дифракции--алюминий--пластина--мембраны синтезированные--кислота--пленка пористая оксидная--корреляция--нейтрон
Аннотация: Методами малоугловой дифракции нейтронов и синхротронного излучения исследованы три серии мембран анодного оксида алюминия. Образцы получены окислением алюминиевых пластин с использованием серной и щавелевой кислот при различных напряжениях и отличаются величиной расстояния между порами. В результате экспериментов по малоугловой дифракции установлена линейная зависимость между средним размером зерна исходной алюминиевой пластины и средней прямолинейностью пор синтезированных мембран. Обнаруженная корреляция обусловлена влиянием кристаллографической ориентации зерен исходной алюминиевой пластины на рост пористой оксидной пленки
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 32
Автор(ы) : Серегин Д. С.
Заглавие : Влияние температуры кристаллизации на электрофизические свойства пленок цтс
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7. - С. 19-22: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.22 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): золь-гель--пленки--сегнетоэлектрик
Аннотация: Исследовано влияние температуры отжига на электрофизические свойства пленок ЦТС, сформированных методом химического осаждения из растворов. Образцы, кристаллизованные при температурах 600- 700 °C, имеют характерные для сегнетоэлектриков петли гистерезиса и ВФХ, при этом с ростом температуры отжига наблюдается снижение остаточной поляризации, прямоугольности петель гистерезиса, уменьшение токов утечки и некоторое возрастание электрической прочности
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 537.9/Б 44
Автор(ы) : Белянин А. Ф., Самойлович М. И., Борисов В. В.
Заглавие : Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 8. - С. 20-27: рис., граф. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 27 (19 назв.)
УДК : 537.9
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углеродные пленки--автоэмиссионные катоды--спектроскопия комбинационного рассеяния света
Аннотация: Рассмотрены особенности формирования углеродных пленок методом тлеющего разряда. Изучены состав и строение углеродных пленок с использованием электронной микроскопии, спектроскопии ИК и комбинационного рассеяния света и рентгеновской дифрактометрии. Изучено влияние термообработки на строение углеродных пленок и вольт-амперные характеристики автоэмиссионных катодов на их основе
Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика