Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Квеглис Л. И. Диссипативные структуры в тонких нанокристаллических пленках/Л. И. Квеглис, В. Б. Кашкин ; отв. ред. В. Ф. Шабанов. - 2018
|
2.
| Переключаемость перовскитных микрообластей пленок ЦТС, локально отожженных фемтосекундным лазером инфракрасного диапазона/Н. Ю. Фирсова, А. С. Елшин, М. А. Марченкова, А. К. Болотов, М. С. Иванов, И. П. Пронин, С. В. Сенкевич, Д. А. Киселев, Е. Д. Мишина // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 7.-С.43-47
|
3.
| Белянин А. Ф. Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе/А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. В. Борисов // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 8.-С.20-27
|
4.
| Линейный электрооптический эффект в пленках BST: расчет коэффицента Керра/К. А. Брехов, С. Д. Лавров, М. С. Афанасьев, Н. Э. Шерстюк, Е. Д. Мишина, А. В. Кимель // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 4.-С.12-14
|
5.
| Исследование многофазных углеродных пленок автоэмиссионных катодов методами электронной микроскопии, комбинационного рассеяния света и рентгеновской дифрактометрии/А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. В. Борисов, С. А. Евлашин // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 2.-С.20-25
|
6.
| Побойкина Н. В. Использование алмаза в качестве теплоотводяшего элемента: методы и устройства вырашивания алмазных пленок и пластин/Побойкина // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 3.-С.23-27
|
7.
| Эффект резистивного переключения в тонких пленках оксида гафния в наноструктурах TiN/HfxAl1-xOy/HfO2/TiN/С. А. Зайцев, О. М. Орлов, Е. С. Горнев, К. В. Егоров, Р. В. Киртаев, А. М. Маркеев, А. В. Заблоцкий // Наноматериалы и наноструктуры, 2014. т.Т. 5,N № 2.-С.10-15
|
8.
| Танцерев А. А. Изучение процесса включения металлов в поверхностный слой оксидной пленки при электрохимическом воздействии на алюминий/А. А. Танцерев, О. В. Рябова, А. И. Финаенов // Нанотехнологии. Наука и производство, 2014. т.№ 3 (30).-С.74-77
|
9.
| Многокомпонентные наноструктурированные пленки (SnO2) x (ZnO)1 - x (x = 0,5...1) для газовой сенсорики и прозрачной электроники/С. И. Рембеза, Н. Н. Кошелева, Е. С. Рембеза, Т. В. Свистова, Е. Ю. Плотникова, Б. Л. Агапов, М. В. Гречкина // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 8.-С.32-36
|
10.
| Латохин Д. В. Оценка параметров барьеров в нанокристаллических полупроводниковых пленках /Д. В. Латохин, А. В. Коновалов, Э. Н. Воронков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 5.-С.8-11
|
11.
| Симонов В. Н. Метод контроля параметров наноразмерных пленок на основе мультирезонансных кварцекристаллических микрои нановесов /В. Н. Симонов, О. К. Красильникова, Н. Л. Матисон // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 3-4.-С.64-70
|
12.
| Ичкитидзе Л. П. Сверхпроводниковый пленочный трансформатор магнитного потока с наноразмерными ветвями для датчика магнитного поля /Л. П. Ичкитидзе // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 4.-С.27-29
|
13.
| Разработка технологии получения газочувствительного материала на основе пан с применением квантово-химических расчетов и метода Монте-Карло /М. М. Фалчари, Т. В. Семенистая, Н. К. Плуготоренко, П. Лу // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 8.-С.34-40
|
14.
| Смолин В. К. Применение пленок бинарных соединений металлов подгруппы титана в конструкциях резистивных элементов памяти /В. К. Смолин // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 8.-С.10-16
|
15.
| Эффект резистивного переключения в оксидных пленках HfxAl 1 - xOy с переменным составом, выращенных методом атомно-слоевого осаждения /А. С. Батурин, К. В. Булах, И. П. Григал, К. В. Егоров, А. В. Заблоцкий, А. М. Маркеев, Ю. Ю. Лебединский, Е. С. Горнев, О. М. Орлов, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 6.-С.13-18
|
16.
| Латохин Д. В. Численное моделирование микроплазменного пробоя в полупроводниковых структурах /Д. В. Латохин, Э. Н. Воронков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 3.-С.26-29
|
17.
| Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона /В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.2-5
|
18.
| Переключение диэлектрической поляризации в сегнетоэлектрических мультислойных планарных структурах BST/NBFO /К. А. Брехов, А. В. Кудрявцев, Н. А. Ильин, Н. Э. Шерстюк, Е. Д. Мишина // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.36-39
|
19.
| Вишневский А. С. Исследование влияния структуры нижнего электрода на свойства пленок ЦТС, сформированных методом химического осаждения из растворов /А. С. Вишневский, К. А. Воротилов, О. М. Жигалина, А. Н. Ланцев, Ю. В Подгорный, Д. С. Серегин // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.15-20
|
20.
| Исследование чувствительности к этанолу переходов Zno—ZnO:Fe на основе тонких наноструктурированных пленок, полученных с помощью золь-гель-технологии /И. А. Пронин, И. А. Аверин, Д. Ц. Димитров, Л. К. Крастева, К. И. Паназова, А. С. Чаначев // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 3
|
|
|