Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению/Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия, 2009. т.№ 3
|
2.
| Ellipsometry at the Nanoscale/eds. M. Losurdo, K. Hingerl. - 2013
|
3.
| Multilayer Thin Films. [Pt. 2]:[Applications]. - [2012]
|
4.
| Multilayer Thin Films. [Pt. 1]:[Preparation and Charcterization]. - [2012]
|
5.
| Адсорбция кислорода и водорода на поверхности наноструктурированной SnO2 пленки /А. К. Гатин [и др.] // Российские нанотехнологии, 2012. т.№ 3-4.-С.57-61
|
6.
| Введение в физику поверхности/К. Оура [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко]. - 2006
|
7.
| Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона /В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов, В. А. Шаронов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.2-5
|
8.
| Влияние микроструктуры подложки на продольную корреляционную длину пористой системы анодного оксида алюминия: исследование методами малоугловой дифракции /А. П. Чумаков, И. В. Росляков, К. С. Напольский, А. А. Елисеев , А. В. Лукашин, H. Eckerlebe, W. G. Bouwman, Д. В. Белов, А. И. Окороков, С. В. Григорьев // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 9-10.-С.54-60
|
9.
| Серегин Д. С. Влияние температуры кристаллизации на электрофизические свойства пленок цтс /Д. С. Серегин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7.-С.19-22
|
10.
| Белянин А. Ф. Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе/А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. В. Борисов // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 8.-С.20-27
|
11.
| Влияние углеродных алмазоподобных пленок и наночастиц гидроксиапатита на остеоинтеграционные свойства пористых титановых имплантатов /А. П. Рубштейн [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 3.-С.73-81
|
12.
| Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 /С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.16-19
|
13.
| Возбуждение колебаний поляризации при прохождении электрического импульса в тонкой сегнетоэлектрической пленке /Е. Д. Мишина, А. С. Сигов, Е. В. Казанцева, В. М. Мухортов // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7.-С.13-15
|
14.
| Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники)/Моск. гос. техн. ун-т им. Н. Э. Баумана, Центр. научно-исслед. техн. ин-т "Техномаш" Тонкие пленки в электронике : материалы XXIV Междунар. симпозиума (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011, 8-10 сентября) Ноноинженерия : материалы IV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011, 8-10 сентября). - [2011]
|
15.
| Газовая чувствительность пленок-композитов на основе SnO2, поверхностно-легированных платиной /С. И. Рембеза [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 12 .-С.17-21
|
16.
| Генерация ультракоротких импульсов в режиме пассивной синхронизации мод в лазере на неодимовом стекле с насыщающимся поглотителем в виде пленки нанокомпозита на основе полимера карбоксиметилцеллюлозы и одностенных углеродных нанотрубок /Д. В. Худяков [и др.] // Российские нанотехнологии, 2008. т.Т. 3,N № 7-8.-С.129-132
|
17.
| Чубаков В. П. Датчик влажности на основе фотоннокристаллической пленки опала /В. П. Чубаков, П. А. Чубаков, А. И. Плеханов // Российские нанотехнологии, 2012. т.Т. 7,N № 9-10.-С.59-61
|
18.
| Марахтанов М. К. Дисперсионные характеристики наноразмерных металлических пленок в видимом диапазоне излучения/М. К. Марахтанов , Д. В. Духопельников Мэй Сянь Сю // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 1.-С.42-47
|
19.
| Квеглис Л. И. Диссипативные структуры в тонких нанокристаллических пленках/Л. И. Квеглис, В. Б. Кашкин ; отв. ред. В. Ф. Шабанов. - 2018
|
20.
| Васильев В. А. Диффузионная модель роста и морфология поверхностей тонких пленок материалов /В. А. Васильев , П. С. Чернов // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 11.-С.11-16
|
|
|