Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (121)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (77)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (22)Публикации об УрО РАН (3)Изобретения уральских ученых (5)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (49)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (15)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (108)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (119)Расплавы (24)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>)
Общее количество найденных документов : 137
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-120      
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/A 31
Автор(ы) : Кравченко Д., Буздуган А., Кравченко А., Тузовский В.
Заглавие : ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению
Место публикации : Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12: ил. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная сборка--сверхтонкие пленки--микроэлектроника
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/E 46
Заглавие : Ellipsometry at the Nanoscale : сборник
Выходные данные : Berlin [et al.]: Springer, 2013
Колич.характеристики :XVIII, 730 с.: il.
Примечания : Библиогр. в конце глав.
ISBN, Цена 978-3-642-33955-4: 11243.00 р.
ГРНТИ : 29.19
ББК : 539.212.6с343.54
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
  Оглавление
Найти похожие

3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 539.2/M 94
Автор(ы) :
Заглавие : Multilayer Thin Films/ Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. [Pt. 1]: [Preparation and Charcterization]
Выходные данные : Wienheim: Wiley-VCH, [2012]
Колич.характеристики :XXXIV, 469 с
Коллективы : Sequental Assembly of Nanocomposite Materials
ISBN, Цена 978-3-527-31648-9: 7788.00 р.
ГРНТИ : 31.15.19 + 29.19
ББК : 539.2 + 541.171
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 539.2/M 94
Автор(ы) :
Заглавие : Multilayer Thin Films/ Sequental Assembly of Nanocomposite Materials ; ed. by C. Decher, J. B. Schlenpff. - 2nd ed., Completely Revised and Enlarged Ed. [Pt. 2]: [Applications]
Выходные данные : Wienheim: Wiley-VCH, [2012]
Колич.характеристики :XXXIV, 471-1088 с
Коллективы : Sequental Assembly of Nanocomposite Materials
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 1053-1088
ISBN, Цена 978-3-527-31648-9: 7788.00 р.
ГРНТИ : 31.15.19 + 29.19
ББК : 539.2 + 541.171
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 19
Автор(ы) : Аверин И. А., Губич И. А., Печерская Р. М.
Заглавие : Формирование и исследование пористых оксидных пленок на алюминии
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 6. - С. 11-14: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 14 (назв. 19)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модели--скан-- морфоструктура--анодирование электрохимическое--микроскопия атомносиловая
Аннотация: Представлены результаты исследования процесса формирования пористого оксида алюминия на объемной и пленочной основах в водном растворе щавелевой кислоты. Выявлены закономерности роста оксидной пленки в условиях изменения плотности тока и напряжения
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 32
Автор(ы) : Гатин А. К., Гришин М. В., Кирсанкин А. А., Трахтенберг И. Ш., Шуб Б. Р.
Заглавие : Адсорбция кислорода и водорода на поверхности наноструктурированной SnO2 пленки
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - № 3-4. - С. 57-61: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 61 (23 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методами атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии в сочетании с оже-электронной спектроскопией исследована адсорбция кислорода и водорода на поверхности пленки, состоящей из наночастиц SnO 2. Обнаружено влияние адсорбированных молекул на электронное строение наночастиц. Описан механизм взаимодействия адсорбата с поверхностью, приводящий к наблюдаемым эффектам
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 72
Автор(ы) : Антоненко С. В., Толкачева С. М., Тимофеев А. А.
Заглавие : Исследование пленок YBa2Cu3O7-х на СТМ и ПЭМ
Место публикации : Нанотехника. - 2010. - № 2. - С. 61-62: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 62 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки втсп--метод стм--метод пэм
Аннотация: Рассмотрено приготовление ВТСП пленок Y(Sm)Ba2Cu3O7-x Представлены результаты по экспериментальному исследованию данных пленок методами СТМ, ПЭМ. Показано, что ВТСП пленки имеют кристаллическое строение. Оценены поперечные размеры кристаллитов - 5 - 40 нм. Наблюдается корреляция между данными СТМ и ПЭМ. ВТСП пленки предназначены для атомной техники, сверхпроводящих магнитных систем, датчиков излучения, болометров и т.д.
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 91
Автор(ы) : Асташенкова О. Н., Корляков А. В.
Заглавие : Контроль физико-механических параметров тонких пленок
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 29 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мембраны--пленки тонкие--модуль юнга--напряжения механические--свойства тонких пленок--способы измерения механических напряжений
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 537.9/Б 44
Автор(ы) : Белянин А. Ф., Самойлович М. И., Борисов В. В.
Заглавие : Влияние термообработки углеродных пленок на характеристики автоэмиссионных катодов на их основе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 8. - С. 20-27: рис., граф. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 27 (19 назв.)
УДК : 537.9
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углеродные пленки--автоэмиссионные катоды--спектроскопия комбинационного рассеяния света
Аннотация: Рассмотрены особенности формирования углеродных пленок методом тлеющего разряда. Изучены состав и строение углеродных пленок с использованием электронной микроскопии, спектроскопии ИК и комбинационного рассеяния света и рентгеновской дифрактометрии. Изучено влияние термообработки на строение углеродных пленок и вольт-амперные характеристики автоэмиссионных катодов на их основе
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/Б 49
Автор(ы) : Берлин, Евгений Владимирович, Сейдман, Лев Александрович
Заглавие : Получение тонких пленок реактивным магнетронным распылением : научное издание
Выходные данные : М.: Техносфера, 2013
Колич.характеристики :255 с., [2] вкл. л.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр.: с. 242-255
ISBN, Цена 978-5-94836-369-1: 568.70 р.
ГРНТИ : 29.19
ББК : 539.212.6
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 19
Автор(ы) : Васильев В. А., Чернов П. С.
Заглавие : Диффузионная модель роста и морфология поверхностей тонких пленок материалов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 11. - С. 11-16: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 16 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Дан обзор моделей роста поверхностей материалов. Предложена оригинальная модель роста поверхности тонких пленок, представляющая собой стохастический клеточный автомат и учитывающая диффузию частиц. Она позволяет исследовать влияние температуры подложки, скорости и времени осаждения на параметры, характеризующие морфологию поверхности. Представлены результаты сравнения экспериментальных данных, полученных с помощью атомно-силовой микроскопии, и теоретических, полученных путем моделирования с использованием предложенной диффузионной модели
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/В 24
Автор(ы) : Оура, Кендзиро, Лифшиц, Виктор Григорьевич, Саранин, Александр Александрович, Зотов, Андрей Вадимович, Катаяма, Митсухиро
Заглавие : Введение в физику поверхности : научное издание
Выходные данные : М.: Наука, 2006
Колич.характеристики :490 с.: ил.
Коллективы : Ин-т автоматики и процессов управления ДО РАН
Перевод издания: Oura K. Surface Scinece. An Introduction. -Berlin, 2003
Примечания : Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490
ISBN, Цена 5-02-034355-2: 264.00, 99.00, р.
ГРНТИ : 29.19 + 31.15.17
ББК : 539.212.5
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): физика поверхностей--кристаллография (физика)--пленки тонкие (физика)--поверхности (физика)--спектроскопия электронная (физика)--адсорбция (поверхность твердого тела)--наноструктуры (физика)--поверхности (структура)--дифракция (физика)
Экземпляры : всего : кх(2)
Свободны : кх(2)
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 49
Автор(ы) : Виноградов А. В., Виноградов В. В., Агафонов А. В.
Заглавие : Получение высокоактивных гетероструктур TiO 2-CuO методом «мягкой химии», обладающих высокой фотоактивностью и магнитными свойствами
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 11-12. - С. 53-56: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 56 (14 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фотоактивность--гетероструктуры высокоактивные--свойства магнитные--кристаллиты диоксида титана наноразмерные--гетероструктуры tio 2-cuo--методы динамического светорассеяния и сканирующей зондовой микроскопии --наночастицы--пленки гетероструктурные
Аннотация: Гетероструктуры на основе оксидов TiO 2 и CuO представляют интерес в качестве пленочных фотокатализаторов, материалов спин-троники, сенсорики и др. В данной работе предложен новый подход к получению наноразмерных кристаллитов диоксида титана анатаз-брукитной модификации и нанокомпозита диоксида титана с оксидом меди (II), позволяющий получать фотоактивные покрытия. Особенностью предлагаемого подхода, основанного на золь-гель превращениях и взаимодействии компонентов многофазной коллоидной системы, является возможность получения хорошо окристаллизованных материалов при близкой к комнатной температуре без использования стадии прокаливания. Методами динамического светорассеяния и сканирующей зондовой микроскопии исследованы структурные изменения, происходящие при взаимодействии наночастиц TiO 2 и CuO в процессе синтеза. Получены спектры поглощения в УФ- и видимой области пленок TiO 2 и СuO, нанесенных на полимерную подложку методом погружения, а также смещение спектральной активности гетероструктурных покрытий TiO 2/CuO. Методом магнитно-силовой микроскопии исследованы магнитные области гетероструктурных пленок
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 55
Автор(ы) : Вишневский А. С., Воротилов К. А., Жигалина О. М., Ланцев А. Н., Подгорный Ю. В, Серегин Д. С.
Заглавие : Исследование влияния структуры нижнего электрода на свойства пленок ЦТС, сформированных методом химического осаждения из растворов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 15-20: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 20 (19 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): подложки кремниевые--гетероструктуры--цтс--процесс термообработки--пленки сегнетоэлектрические--стекло фосфоросиликатное
Аннотация: Проведены исследования тонких золь-гель-пленок цирконата-титаната свинца PbZr 0,48Ti 0,52O 3 (ЦТС), сформированных на кремниевых подложках с различными вариантами многослойной структуры Pt /Тi (ТiO 2)/SiO2(ФСС)/Si формирующей нижний электрод сегнетоэлектрического конденсатора. Изучены диффузионные процессы, протекающие в данных гетероструктурах в процессе термообработки, а также роль толщины платины и вспомогательных слоев в формировании кристаллической структуры ЦТС. Установлено, что при кристаллизации ЦТС происходит взаимная диффузия слоев нижнего электрода: нижняя граница Pt размывается, слой Ti (TiO 2) становится толще, Ti диффундирует в Pt и в SiO 2 (ФСС). Использование слоя фосфоросиликатного стекла (ФСС) способствует формированию в пленках ЦТС преимущественной ориентации (100), что ухудшает их поляризационные свойства и ведет к снижению остаточной поляризации до ~10 мкКл/см 2. Нанесение слоя плазмохимического SiO 2 на слой ФСС позволяет стабилизировать границу раздела и улучшить электрические характеристики гетероструктур
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Раков А. В., Тодуа П. А., Филиппов М. Н., Шаронов В. А.
Заглавие : Влияние контаминации в низковольтном растровом электронном микроскопе на профиль рельефных элементов нанометрового диапазона
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 2-5: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 5 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): доза электронного облучения--элементы рельефные--контаминация--микроскоп низковольтный растровый электронный
Аннотация: Представлены результаты исследований влияния контаминации в РЭМ S-4800 при энергии электронов 1 кэВ на профиль рельефных элементов меры МШПС-2.0К. Показано, что в результате электронного облучения увеличивается ширина нижнего основания рельефных элементов и получены зависимости ширины нижнего основания от дозы электронного облучения при разных режимах облучения. Приведены результаты влияния режима облучения на толщину контаминационной пленки
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Чумаков А. П., Росляков И. В., Напольский К. С., Елисеев А. А., Лукашин А. В., Eckerlebe H., Bouwman W. G., Белов Д. В., Окороков А. И., Григорьев С. В.
Заглавие : Влияние микроструктуры подложки на продольную корреляционную длину пористой системы анодного оксида алюминия: исследование методами малоугловой дифракции
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 54-60: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 60 (26 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроструктура--методы малоугловой дифракции--алюминий--пластина--мембраны синтезированные--кислота--пленка пористая оксидная--корреляция--нейтрон
Аннотация: Методами малоугловой дифракции нейтронов и синхротронного излучения исследованы три серии мембран анодного оксида алюминия. Образцы получены окислением алюминиевых пластин с использованием серной и щавелевой кислот при различных напряжениях и отличаются величиной расстояния между порами. В результате экспериментов по малоугловой дифракции установлена линейная зависимость между средним размером зерна исходной алюминиевой пластины и средней прямолинейностью пор синтезированных мембран. Обнаруженная корреляция обусловлена влиянием кристаллографической ориентации зерен исходной алюминиевой пластины на рост пористой оксидной пленки
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Рубштейн А. П., Макарова Э. Б., Трахтенберг И. Ш., Близнец Д. Г.
Заглавие : Влияние углеродных алмазоподобных пленок и наночастиц гидроксиапатита на остеоинтеграционные свойства пористых титановых имплантатов
Место публикации : Нанотехника. - 2011. - № 3. - С. 73-81: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 81 (42 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Исследовано влияние углеродных алмазоподобных пленок (а-С) и наночастиц гидроксиапатита (НГА) на остеоинтеграцию пористых титановых имплантатов. Пленки толщиной 20-50 нм осаждались дуговым распылением графита. НГА получены методом механоактивации. В экспериментах in vivo определены предел прочности на разрыв системы кость-имплантат и содержание зрелой костной ткани во внутреннем объеме трех типов имплантатов - пористый титан ПTi, ПTi(a-C) и ПTi(a-C+НГА). Установлено, что а-С пленки ускоряют формирование прочного соединения пористого имплантата с нативной костью. Дополнительная обработка имплантатов НГА не улучшает прочность системы кость имплантат. Применение а-С пленок толщиной до 50 нм, перспективно при разработке технологий изготовления композитных имплантационных материалов в травматологии и ортопедии
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Бочарова С. И., Гапанович М. В., Войлов Д. Н., Один И. Н., Новиков Г. Ф.
Заглавие : Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 19 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наночастицы--пленки нанокристаллические cuinse2 --свойства нанокристаллических пленок--растворы этанольные --свойства оптические --адгезия пленок--микроскопия атомно-силовая --область когерентного рассеяния (окр) --пленки синтезированные однофазные --асм--анализ рентгенофазовый
Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 64
Автор(ы) : Мишина Е. Д., Сигов А. С., Казанцева Е. В., Мухортов В. М.
Заглавие : Возбуждение колебаний поляризации при прохождении электрического импульса в тонкой сегнетоэлектрической пленке
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7. - С. 13-15. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.15 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сегнетоэлектрики--пленки тонкие--процессы переходные быстропротекающие
Аннотация: Проведено экспериментальное исследование динамики поляризации в тонкой сегнетоэлектрической пленке под действием электрического импульса. Затухание поляризации в тонкой пленке сопровождается осцилляциями около равновесного положения, это явление качественно описывается на основе феноменологической теории Гинзбурга
Найти похожие

20.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/В 93
Заглавие : Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы XVII Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011, 8-10 сентября). Тонкие пленки в электронике : материалы XXIV Междунар. симпозиума (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011, 8-10 сентября). Ноноинженерия : материалы IV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011, 8-10 сентября)
Выходные данные : [М.], [2011]
Колич.характеристики :525 с
Коллективы : Моск. гос. техн. ун-т им. Н. Э. Баумана, Центр. научно-исслед. техн. ин-т "Техномаш"
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 50-летию полета Ю. А. Гагарина в космос
ISBN, Цена 978-5-902740-16-2: 150.00 р.
ГРНТИ : 47
ББК : 648.441я431(0)
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Географич. рубрики: РОССИЯ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-120      
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика