Поисковый запрос: (<.>K=ПОВЕРХНОСТИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 195
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Инвентарный номер: 193198 - кх. 541.1 Х 46
Химия поверхности и нанотехнология [] : вторая Всерос. конф. (с междунар. участием): Материалы конф., 23-28 сент. 2002 г., СПб. - Хилово, Псков. обл., Россия / РАН. С.-Петерб. гос. технол. ин-т (техн. ун-т) и др. - СПб. : [б. и.], 2002. - 231 с. : табл. - Авт. указ.: с. 227-231. - 50.00 р.ББК 541.19я431(0) + 541.171я431(0) РУБ 541.1 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--КОНФЕРЕНЦИИ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРЫ (ХИМИЯ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (КЛАСТЕРЫ) -- ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫЕ (ХИМИЯ) -- ХИМИЯ НАНОСТРУКТУР -- ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ -- ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ -- ЯВЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫЕ (ХИМИЯ)
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: 199155 - кх; 199516 - кх. 539.2 В 24
Введение в физику поверхности [] : научное издание / К. Оура [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко] ; [РАН, СО, Ин-т автоматики и процессов управления]. - М. : Наука, 2006. - 490 с. : ил. - Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490. - Пер. изд. : Surface Scinece. An Introduction / K. Oura. - Berlin, 2003. - ISBN 5-02-034355-2 : 264.00 р., 99.00 р.ББК 539.212.5 Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ Кл.слова (ненормированные): ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТЕЙ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ (ФИЗИКА) -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (ФИЗИКА) -- СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (ФИЗИКА) -- АДСОРБЦИЯ (ПОВЕРХНОСТЬ ТВЕРДОГО ТЕЛА) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (СТРУКТУРА) -- ДИФРАКЦИЯ (ФИЗИКА)
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет. Б 90
Булярский, С. В. Физическая адсорбция водорода на поверхности наноуглеродных структур [] / С. В. Булярский, А. С. Басаев , Р. Ю. Романович> // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 5. - С. 27-31 : рис. - Библиогр.: с. 31 (18 назв.)
. - ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АДСОРБЦИЯ -- ДЕСОРБЦИЯ -- НАНОУГЛЕРОДНЫЕ СТРУКТУРЫ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет. Т 34
Теплова , Т. Б. Физико-технологические принципы получения нанометрового рельефа поверхности при обработке твердых хрупких материалов электронной техники [Текст] / Т. Б. Теплова > // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 7. - С. 33-37 : рис. - Библиогр.: с. 37 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОМЕТРОВЫЙ РЕЛЬЕФ -- ТВЕРДЫЕ ХРУПКИЕ МАТЕРИАЛЫ -- ПОВЕРХНОСТЬ -- ШЛИФОВАНИЕ
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет. О-11
О влиянии кривизны поверхности неорганических наночастиц на их формирование в растворах, содержащих хорошо адсорбирующиеся органические соединения [Текст] / Б. А. Розенберг [и др.]> // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 7-8. - С. 84-87 : рис., табл. - Библиогр. : с. 87 (17 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПАВ -- ДОБАВКИ ПОЛИМЕРОВ
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: 207876 - кх. 623 Н 25
Наноинженерия поверхности. Формирование неравновесных состояний в поверхностных слоях материалов методами электронно-ионно-плазменных технологий [] : монография / А. И. Лотков [и др.] ; отв. ред.: Н. З. Ляхов, С. Г. Псахье ; РАН, СО, Ин-т физики прочности и материаловедения. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2008. - 275, [1] с. : граф., ил., табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-7692-0982-6 : 350.00 р.ББК 623.0630-1с Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет. С 42
Скейлинговый анализ морфологии наноструктурированных поли-п-ксилиленовых пленок, синтезированных методом газофазной полимеризации на поверхности [Текст] / Л. Р. Стрельцов [и др.]> // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 7-8. - С. 115-123 : рис., табл. - Библиогр. : с. 123 (29 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ -- МОРФОЛОГИЯ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет. Т 36
Тест-объекты с прямоугольным и трапециевидным профилями рельефа для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. Гавриленко [и др.]> // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 24-30 : рис., табл. - Библиогр.: с. 30 (14 назв.)
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЙ ЗОНД -- АНИЗОТРОПНОЕ ТРАВЛЕНИЕ Аннотация: В конце XX и начале XXI века экономику высокоразвитых стран характеризует освоение высоких технологий, главная из которых - нанотехнология. Она оперирует с размерами, лежащими в диапазоне 1-100 нм, что требует обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапазоне. В мировой практике линейные измерения в нанометрической области осуществляются на растровых электронных (РЭМ) [2-4] и атомно-силовых (АСМ) [5-7] микроскопах. Для калибровки РЭМ и АСМ в качестве тест-объектов используются периодические [3], шаговые [2, 8] и одиночные [4] рельефные структуры на поверхности твердого тела
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет. Т 34
Теплова, Т. Б. Исследование возможности обработки хрупких твердых кристаллических материалов электронной техники в режиме квазипластичности для совершенствования качества обрабатываемой поверхности [Текст] / Т. Б. Теплова> // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 2. - С. 45-47. - Библиогр.: с. 47 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): КВАЗИПЛАСТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет. Г 13
Газовый сенсор на основе углеродных нанотрубок [Текст]> // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 28
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ГАЗОВЫЕ СЕНСОРЫ -- УГЛЕРОДНЫЕ НАНОТРУБКИ Аннотация: Высокая чувствительность электронных характеристик к присутствию молекул, сорбированных на поверхности, а также рекордная величина удельной поверхности, способствующая такой сорбции, делают углеродные нанотрубки (УНТ) перспективной основой для создания сверхминиатюрных сенсоров, определяющих содержание газовых примесей в атмосфере
Найти похожие
|
|
|