Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (204)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (3)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (47)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (27)Публикации об УрО РАН (9)Изобретения уральских ученых (33)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (8)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (140)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (19)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (61)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (138)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (212)Расплавы (69)Публикации Черешнева В.А. (2)Публикации Чарушина В.Н. (5)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (16)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПОВЕРХНОСТИ<.>)
Общее количество найденных документов : 195
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 47
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Зайцев С. А., Кузин А. Ю., Новиков Ю. А., Раков А. В., Тодуа П. А.
Заглавие : Эллипсометрическая характеризация структур Si-SiO2
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 42-45: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 45 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Рассмотрены диагностические возможности метода эллипсометрии в применении к системе, представляющей собой пленку оксида кремния на кремнии, широко используемой в наноэлектронике. Для конкретных образцов, содержащих пленку оксида кремния на поверхности кремниевой подложки, определены с высокой точностью все основные параметры пленки и подложки: толщина пленки, показатели преломления пленки и подложки, коэффициент поглощения подложки. Экспериментально показано, что с помощью метода эллипсометрии можно контролировать наличие (или отсутствие) дополнительного переходного слоя между пленкой и подложкой
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 41
Автор(ы) : Алексеева Н. О., Вейсман В. Л., Лукин А. Е., Панькова С. В., Соловьев В. Г., Яников М. В.
Заглавие : Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 23-26: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 26 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): опалы--микроскопия сканирующая зондовая (сзм)--спектроскопия брэгговского отражения --пленки профилированные тонкие металлические
Аннотация: Методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и спектроскопии брэгговского отражения исследованы образцы синтетических опалов, на поверхность которых наносились в вакууме тонкие слои металлов. Значения диаметров сфер образцов опалов, полученные как на основе СЗМ-изображений их металлизированной и не покрытой металлом поверхности, так и расчетным путем из спектров брэгговского отражения, соответствовали друг другу в пределах ошибок измерения. Таким образом, наружная поверхность тонкого слоя металла, покрывающего образец опала, сохраняет форму и пространственную периодичность, характерную для границы раздела между опалом и слоем металла
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/З-24
Автор(ы) : Залуцкая А. А., Проказников М. А., Проказников А. В.
Заглавие : Цветовая окраска нано-структурированной поверхности
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 9. - С. 11-18: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 18 (28 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры--поверхность--пластины кремниевые--плазмоны--размерность пониженная
Аннотация: Исследовались эффекты, связанные с изменением цветовой окраски кремниевых пластин с наноструктурированной поверхностью в зависимости от особенностей наноструктур. Окраска поверхности определяется захватом части падающего излучения волноводными, краевыми модами и рассеянием оставшегося излучения на поверхности. Цвет структуры связан с кривизной наноструктур, сформированных на поверхности
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 541.1/Х 46
Заглавие : Химия поверхности и нанотехнология : Вторая Всерос. конф. (с междунар. участием): Материалы конф., 23-28 сент. 2002 г., СПб. - Хилово, Псков. обл., Россия
Выходные данные : СПб., 2002
Колич.характеристики :231 с.: табл.
Примечания : Авт. указ.: с. 227-231
Цена : 50.00 р.
ББК : 541.19я431(0) + 541.171я431(0)
Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЯВЛЕНИЙ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры (химия)--нанотехнологии (кластеры)--поверхности твердые (химия)--химия наноструктур--химия поверхности твердых тел--химия поверхностных явлений--явления поверхностные (химия)
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 86
Автор(ы) : Артемов А. С.
Заглавие : Химико-механическое полирование материалов
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 7-8. - С. 54-73: рис., табл.
Примечания : Библиогр. : с. 73 (43 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Обзор посвящен относительно новой, перспективной и интенсивно развивающейся технологии химико-механического полирования (ХМП) для получения высокосовершенной по геометрическим, структурным и химическим свойствам поверхности материалов: полупроводников, проводников и диэлектриков. Материал базируется на исследованиях физико-химических процессов, лежащих в основе технологии ХМП, и представляет попытку дать последовательную и объективно не полную картину ее развития с 60-х годов XX века до настоящего времени. Поскольку основу ХМП составляют обрабатываемый материал, композиция, полировальник и установка, то методической основой исследований и разработки технологии ХМП является проведение работ одновременно по следующим направлениям: изучение реальной структуры кристаллов; исследование деформации поверхности кристаллов при механической обработке; синтез твердых частиц нанометрового размера; исследование коллоидно-химических свойств гетерогенных дисперсных систем «твердое-жидкость»; разработка полировальных композиций; разработка технологии ХМП; изучение геометрических, химических, структурных и электрофизических свойств полированных поверхностей; изучение влияние полированных поверхностей материалов на технологические процессы изготовления и параметры различных приборов
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Х 20
Автор(ы) : Кнерельман Е. И., Зверева Г. И., Кислов М. Б., Давыдова Г. И., Крестинин А. В.
Заглавие : Характеризация продуктов на основе однослойных углеродных нанотрубок методом адсорбции азота
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 11-12. - С. 80-87: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 87 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотрубки углеродные однослойные--метод адсорбции азота--метод дубинина-радушкевича
Аннотация: В технических приложениях важными характеристиками продуктов на основе однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) является доступный внутренний объем трубок и их внешняя удельная поверхность. Данные характеристики были определены различными методами, основанными на адсорбции азота. Предложен новый эталон для с. метода - образец чистых ОСУНТ без микропор. Показано, что t-метод и с. метод с выбором в качестве эталона сравнения образца чистых ОСУНТ без микропор дают хорошо совпадающие результаты по объему микропор и внешней удельной поверхности и могут успешно применяться для определения этих величин в ОСУНТ-продуктах. В отличие от них, метод Дубинина-Радушкевича дает систематически завышенное значение объема микропор и существенно заниженное значение внешней удельной поверхности ОСУНТ, что может объясняться вкладом мезопор и сильной энергетической неоднородностью поверхности тяжей ОСУНТ
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 94
Автор(ы) : Пышкина О. А., Панова Т. В., Боева Ж. А., Лезов А. А., Полушина Г. Е., Лезов А. В., Сергеев В. Г.
Заглавие : Функционализированные сульфогруппами многостенные нанотрубки в водно-солевых растворах
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 11-12. - С. 65-69: табл., рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 69 (20 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотрубки--растворы водно-солевые--реакция диазотирования--кислота сульфаниловая--метод динамического светорассеяния --функциализация
Аннотация: Проведена функционализация многостенных углеродных нанотрубок сульфаниловой кислотой с использованием реакции диазотирования, приводящая к ковалентному присоединению сульфогрупп к поверхности нанотрубок. В результате нанотрубки образуют устойчивые дисперсии в водных растворах. Методом динамического светорассеяния определены коэффициенты поступательной диффузии, из которых рассчитаны размеры нанотрубок в водных солевых и бессолевых растворах. Полученные значения сопоставлены с данными электронной просвечивающей микроскопии
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 94
Автор(ы) : Иноземцева О. А., Колесникова Т. А., Горин Д. А. , Швындина Н. В., Шкловер В. Я.
Заглавие : Функционализация поверхности дисперсной фазы прямой эмульсии наночастицами оксида цинка методом полиионной сборки
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 3-4. - С. 61-65: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 65 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методом полиионной сборки получены полиэлектролитные и нанокомпозитные (наночастицы оксида цинка/полимер) покрытия на поверхности дисперсной фазы прямой эмульсии, содержащей флуоресцентный краситель. Объемную фракцию неорганических наночастиц варьировали путем изменения числа полимерных слоев в составе покрытия. Полученные нагруженные микроконтейнеры были охарактеризованы методами флуоресцентной конфокальной и сканирующей электронной микроскопии. В результате выявлены параметры, влияющие на качественные характеристики получаемых изображений, и подобраны оптимальные условия подготовки и исследования подобных систем с помощью сканирующей электронной микроскопии. Показано, что ультразвуковая обработка микроконтейнеров оказывает влияние на степень их агрегации, а в случае нанокомпозитных покрытий - приводит к уменьшению размера микрочастиц
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Д 26
Автор(ы) : Деев И. С., Кобец Л. П., Румянцев А. Ф.
Заглавие : Фрактографические исследования эпоксидных углепластиков после испытаний на трещиностойкость по моде i
Место публикации : Композиты и наноструктуры. - 2013. - № 2. - С. 5-15: рис. - ISSN 1999-7590. - ISSN 1999-7590
Примечания : Библиогр.: с. 15 (16 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углепластики--трещиностойкость--фрактография--фазовое расслоение--дисперсные частицы--матрица--микроматрица
Аннотация: Методом электронной сканирующей микроскопии проведены фрактографические исследования образцов углепластиков после испытаний на трещиностойкость по моде I (нормальный отрыв) и установлена глубокая реорганизация микроструктуры матрицы в процессе нагружения. Показано, что адгезионно-когезионный механизм превалирует при усталостном разрушении углепластика. По результатам измерений периодичности расположения дисперсных структур в граничных слоях матрицы рассчитан эффективный диаметр углеродных фибрилл поверхности волокна и угол их осевого вращения
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 79
Автор(ы) : Гришин М. В., Ковалевский С. А., Далидчик Ф. И., Гатин А. К.
Заглавие : Формирование суперкластеров нанооксидов титана под острием сканирующего туннельного микроскопа
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 51-53: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 53 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскоп туннельный сканирующий--суперкластеры оксидные--литография зондовая
Аннотация: В высоковакуумных экспериментах (Р = 5*10-10 мбар) под острием сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) на поверхности окисленного титана обнаружено формирование оксидных суперкластеров с размерами до нескольких десятков нанометров. Установлены зависимости размеров нанокластеров от основных параметров сканирования (величины, полярности и длительности импульсов напряжения, подававшихся на наноконтакт). Показано, что рост оксидных суперкластеров возможен как при положительных, так и при отрицательных значениях полярности. Полученные результаты, расширяющие возможности современной зондовой литографии, - первый пример формирования в условиях сверхвысокого вакуума на поверхности окисленных металлов наноразмерных оксидных структур
Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика