Поисковый запрос: (<.>K=ПОГРЕШНОСТИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9 |
1.
| Прищепов С. К. Интегральные и гибридные технологии производства феррозондовых датчиков /С. К. Прищепов, К. И. Власкин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 9.-С.2-4
|
2.
| Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
|
3.
| Получение суспензий на основе нанопорошка оксида алюминия с узким распределением частиц по размерам /Е. Г. Калинина , А. А. Ефимов, А. П. Сафронов, В. В. Иванов , И. В. Бекетов // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 7-8.-С.78-83
|
4.
| Исследование источников случайных погрешностей в измерительном сканирующем зондовом микроскопе «НаноСкан-3Di» /К. В. Гоголинский, К. Л. Губский, А. П. Кузнецов, В. Н. Решетов // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.56-59
|
5.
| Драгунов В. П. Электростатические взаимодействия в мэмс с плоскопараллельными электродами. часть ii. расчет электростатических сил/В. П. Драгунов, Д. И. Остертак // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 8.-С.40-47
|
6.
| Спирин В. Г. Анализ технологических погрешностей сопротивления тонкопленочного резистора/В. Г. Спирин // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 9.-С.42-45
|
7.
| Вавилов В. Д. Исследование стохастической погрешности микросистемного акселерометра/В. Д. Вавилов, О. Н. Глазков // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 8.-С.27-29
|
8.
| Драгунов В. П. Электростатические взаимодействия в мэмс с плоскопараллельными электродами. часть i. расчет емкостей /В. П. Драгунов, Д. И. Остертак // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.37-41
|
9.
| Спирин В. Г. Математическая модель сопротивления тонкопленочного резистора /В. Г. Спирин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 5.-С.38-40
|
|