Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Главная

Новые поступления

Описание

Базы данных

Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и продолжающихся изданий

Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН

Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН

Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН

Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )

Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)

Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)

Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН

Публикации об УрО РАН

Изобретения уральских ученых

Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)

Нанотехнологии

Демидовские премии

Гибель династии Романовых

История Урала

Личная библиотека С. В. Вонсовского

Книжная коллекция Шубиных

Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН

Труды Института истории и археологии УрО РАН

Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН

Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН

Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН

Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН

Расплавы

Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН

Публикации Черешнева В.А.

Публикации Чарушина В.Н.

Каталог библиотеки ИГД УрО РАН

Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН

Электронная энциклопедия «Дискурсология»

Библиометрия

Область поиска

Найдено в других БД:

Каталог книг и продолжающихся изданий (9)

Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (1)

Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (8)

Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (3)

Расплавы (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ПОГРЕШНОСТЬ<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

Инвентарный номер: нет.

   Б 79


    Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 44-52 : рис., табл. - Библиогр.: с. 52 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ВОЛЬТОВАЯ -- СПОСОБНОСТЬ БОЛОМЕТРОВ ОБНАРУЖИТЕЛЬНАЯ -- БОЛОМЕТР -- ОКСИД ВАНАДИЯ
Аннотация: Исследованы электрические параметры термочувствительного слоя болометра VO x и морфология его поверхности. Определена относительная погрешность измерения, вносимая оксидным слоем VO x. Представлены расчетные и экспериментальные данные нагрева слоя VO x на 1 и 200 °С в диапазонах длин волн 0.5—3.39 мкм и 5.0—12 мкм в зависимости от длительности импульса излучения в диапазоне 1 — 10 -9 с на различных подложках. Исследованы зависимости: постоянной времени, вольтовой чувствительности болометра от размера приемной площадки и материала подложки. Рассчитаны: постоянная времени болометра, вольтовая чувствительность и эквивалентные значения напряжений фундаментальных шумов в зависимости от размеров приемной площадки, материалов подложки и частоты регистрируемого излучения. Приведены значения удельного теплового потока и обнаружительной способности болометров на частотах 1, 10, 20 Гц, выполненных на различных диэлектрических подложках. Описана модульная конструкция болометра, включающая герметичный корпус с приемным окном и преобразователь сопротивление-напряжение. Приведены зависимости напряжения с выхода болометра от величины воздействующего постоянного и импульсного излучения

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   П 31

    Печерская, Е. А.
    Структура интеллектуальной системы поддержки исследований параметров сегнетоэлектрических материалов / Е. А. Печерская, А. М. Метальников, А. В. Бобошко // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 6. - С. 21-24 : рис. - Библиогр. : с. 24 (21 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛЫ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ -- СИСТЕМА ИНТЕЛЕКТУАЛЬНАЯ -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЙ -- ПОГРЕШНОСТЬ
Аннотация: Приведена обобщенная структура многоагентной системы поддержки исследований материалов наноиндустрии на примере сегнетоэлектриков. Рассмотрено информационное наполнение многоцелевых банков знаний, служащее для обработки данных и принятия решений в процессах исследований

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   П 91

    Пушин, В. Г.
    Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии / В. Г. Пушин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104 : рис., табл. - Библиогр.: с. 104 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОДИАГНОСТИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРНЫЕ И НАНОФАЗНЫЕ -- ПОГРЕШНОСТЬ -- МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ -- НАНОМАТЕРИАЛ -- ДИФРАКЦИЯ
Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   С 38


    Синтез гетероструктур на основе висмутсодержащих оксидных стекол и их использование в качестве сенсорных элементов для определения содержания сероводорода и водяных паров в воздушной среде / В. А. Кутвицкий, О. В. Сорокина, Л. П. Маслов, В. А. Толмачев, М. А. Васильева // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 2. - С. 14-17. - Библиогр.: с. 17 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

539.213

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИНТЕЗ СТЕКЛОВИДНЫХ ОБРАЗЦОВ -- СЕНСОРНЫЙ ЭЛЕМЕНТ -- ГЕТЕРОСТРУКТУРА -- СЕРОВОДОРОД -- ВЛАЖНОСТЬ -- ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ -- СТАБИЛЬНОСТЬ
Аннотация: Описана разработанная технология синтеза стеклообразных образцов в системе Bi 2O 3—MoO 3—GeO 2—B 2O 3. Предложена конструкция датчика, позволяющего проводить одновременное определение сероводорода и влаги в воздушной среде. Оценены возможности методик определения указанных компонентов воздушной среды. Относительная погрешность результатов определения не превышает 0,03. Оценена стабильность разработанных сенсорных элементов, которая в соответствии с проведенными экспериментальными исследованиями составляет не менее 6 месяцев

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   С 40


    Системы реологического типа для микро- и нанопозиционирования и виброизоляции / В. П. Михайлов, А. М. Базиненков [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 45-50 : рис. - Библиогр. : с. 50 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИСТЕМЫ ПОЗИЦИОНИРУЮЩИЕ И ВИБРОИЗОЛИРУЮЩИЕ -- ВЯЗКОСТЬ -- ЖИДКОСТИ МАГНИТО -И ЭЛЕКТРОРЕОЛОГИЧЕСКИЕ
Аннотация: Современное прецизионное оборудование для электронных и машиностроительных технологий использует многокоординатные системы для сверхточного позиционирования. Представлены анализ, конструкции и параметры новых магнитореологических (МР), электрореологических (ЭР) и магнитореологических эластомерных (МЭ) позиционирующих устройств. Комбинация МР или ЭР замкнутого управления, упругих направляющих и тонкостенных герметизирующих элементов обеспечивает малую погрешность линейного (?100 нм) и углового (? 0,2") позиционирования, малую постоянную времени (? 200 мс), диапазон линейных перемещений по трем координатам X, Y, Z (1...10) мм и передаваемое усилие (1...1000) Н

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Э 47


    Эллипсометрическая характеризация структур Si-SiO2 / В. П. Гавриленко [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 42-45 : рис., табл. - Библиогр. : с. 45 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛИПСОМЕТРИЯ -- ПОГРЕШНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ -- СЛОЙ ПЕРЕХОДНОЙ В СИСТЕМЕ "ПЛЕНКА - ПОДЛОЖКА"
Аннотация: Рассмотрены диагностические возможности метода эллипсометрии в применении к системе, представляющей собой пленку оксида кремния на кремнии, широко используемой в наноэлектронике. Для конкретных образцов, содержащих пленку оксида кремния на поверхности кремниевой подложки, определены с высокой точностью все основные параметры пленки и подложки: толщина пленки, показатели преломления пленки и подложки, коэффициент поглощения подложки. Экспериментально показано, что с помощью метода эллипсометрии можно контролировать наличие (или отсутствие) дополнительного переходного слоя между пленкой и подложкой

Найти похожие

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)