Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (76)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (14)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (18)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (14)Труды Института истории и археологии УрО РАН (1)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (13)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (9)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (10)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)Расплавы (11)Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН (6)Публикации Черешнева В.А. (29)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (64)Библиометрия (158)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПОКАЗАТЕЛИ<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 75
Автор(ы) : Воронин А. И., Осипков А. С., Горбатовская Т. А.
Заглавие : Механическая прочность ветвей термоэлементов на основе Ві2Те3 при различных методах их получения
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 2. - С. 17-21: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 21 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модули термоэлектрические--ветви термоэлементов--точность механическая
Аннотация: Исследуется механическая прочность ветвей термоэлементов (ТЭ) на основе Bi2Te3 mеpмоэлекmpических модулей (ТМ). Дается mеоpеmическая оценка наряжений, возникающих в ветвях ТЭ в процессе эксплуатации ТМ, а также приводятся pезульmаmы экспеpименmального исследования пpочносmи ветвей ТЭ. Сpавнение механической точности ветвей ТЭ, полученных pазличными методами (сmандаpmные, сбоpные и прессованные ветви) показало, что сбоpные ветви имеют более высокие показатели минимальном pазбpосе, что обусловлено более совеpшенной сmpукmуpой исходного mеpмоэлекmpического маmеpиала
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 73
Автор(ы) : Пинаев В. В., Суханов В. С., Панков В. В., Михайлов Ю. А., Данилова Н. Л., Былинкин С. Ю., Гаврилов А. А., Шипунов А. Н.
Заглавие : Интегральные МЭМС-датчики с повышенной стабильностью выходных параметров
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 8. - С. 36-41: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 41 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчик давления--акселерометр--элемент чувствительный --стабильность параметров временная --испытания на безотказность
Аннотация: На примере изготовления чувствительных элементов датчиков давления и акселерометров рассмотрены технологические методики, обеспечивающие повышение временной стабильности их параметров. Приведены результаты ускоренных испытаний на безотказность макетных образцов. Расчетно-экспериментальным путем определены показатели надежности датчиков
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 47
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Зайцев С. А., Кузин А. Ю., Новиков Ю. А., Раков А. В., Тодуа П. А.
Заглавие : Эллипсометрическая характеризация структур Si-SiO2
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 42-45: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 45 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Рассмотрены диагностические возможности метода эллипсометрии в применении к системе, представляющей собой пленку оксида кремния на кремнии, широко используемой в наноэлектронике. Для конкретных образцов, содержащих пленку оксида кремния на поверхности кремниевой подложки, определены с высокой точностью все основные параметры пленки и подложки: толщина пленки, показатели преломления пленки и подложки, коэффициент поглощения подложки. Экспериментально показано, что с помощью метода эллипсометрии можно контролировать наличие (или отсутствие) дополнительного переходного слоя между пленкой и подложкой
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика