Поисковый запрос: (<.>K=ПОЛУПРОВОДНИК<.>) |
Общее количество найденных документов : 21
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Аверин И. А. Влияние типа и концентрации собственных дефектов на свойства структур диоксида олова /И. А. Аверин, В. А. Мошников, И. А. Пронин // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.27-29
|
2.
| Разработка технологии получения газочувствительного материала на основе пан с применением квантово-химических расчетов и метода Монте-Карло /М. М. Фалчари, Т. В. Семенистая, Н. К. Плуготоренко, П. Лу // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 8.-С.34-40
|
3.
| Плеханов В. Г. Изотопическое создание полупроводникового графена /В. Г. Плеханов, Л. М. Журавлева // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.34-38
|
4.
| Солнечные ячейки на основе гибридных гетероструктур из органических полупроводников и квантовых точек /С. В. Дайнеко, М. В. Артемьев, И. Р. Набиев, М. Г. Тедорадзе, А. А. Чистяков // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 9.-С.2-6
|
5.
| Особенности фазовых переходов в наноразмерном диоксиде ванадия: магнитные характеристики /Д. В Назаров, О. М. Осмоловская, Н. П. Бобрышева, В. М. Смирнов, И. В. Мурин // Российские нанотехнологии, 2012. т.Т. 7,N № 11-12.-С.75-82
|
6.
| Пустовалов А. А. Производство радионуклида никеля-63 высокого обогащения — главное условие создания эффективных бета-вольтаических атомных батарей/А. А. Пустовалов, Л. А. Цветков // Нано- и микросистемная техника, 2013. т.№ 10.-С.19-24
|
7.
| Контролируемое in situ получение гибридных структур полупроводник-металл на основе пористого кремняи/Д. И. Биленко, В. В. Галушка, И. Б. Мысенко, Д. В. Терин // Нанотехнологии. Наука и производство, 2014. т.№ 2 (29).-С.44-47
|
8.
| Датчики внешних воздействий с частотным выходом на основе полевого МДПДМ-транзистора со встроенным каналом/М. Л. Бараночников, А. В. Леонов, А. А. Малых, В. Н. Мордкович, В. Н. Мурашев, Д. М. Пажин // Нано- и микросистемная техника, 2013. т.№ 10.-С.8-11
|
9.
| Тутов Е. А. Адсорбционно-стимулированный фазовый переход полупроводник — металл в диоксиде ванадия /Е. А. Тутов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 9.-С.26-28
|
10.
| Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров наночастиц и тонких пленок методами малоугловой рентгеновской дифрактометрии /А. С. Авилов [и др.] // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.30-36
|
|
|