Поисковый запрос: (<.>K=СИСТЕМА<.>) |
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
|
2.
| Адамов Д. Ю. Синхронизация, связь и помехоустойчивость в микросхемах для информационных сетей/Д. Ю. Адамов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 12.-С.38-44
|
3.
| Любимский В. М. Изгиб длинной прямоугольной двухслойной пластинки при изменении температуры/В. М. Любимский // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 12.-С.6-11
|
4.
| Нанобиополупроводниковая система визуализации клеток/К. Д. Яшин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 12.-С.48-52
|
5.
| Особенности характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двучзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл/М. Л. Бараночников [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 12.-С.45-48
|
6.
| Ефремов Г.И. Параметры трехэлектродных электростатических микроактюаторов/Г. И. Ефремов, Н. И. Мухуров // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.40-44
|
7.
| Круглов Е. В. Микроконтроллерная система управления сканирующим зондовым микроскопом "NanoScan"/Е. В. Круглов // Нанотехника, 2008. т.№ 1.-С.104-111
|
8.
| Зайцев Н.А. Использование поверхностного интегрального акселерометра для работы в составе комплекса парашютно-реактивной системы/Н. А. Зайцев, М. Р. Алимухамедов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.47-50
|
9.
| Васильев Н. Через моделирование физики к нанотехнологиям/Н. Васильев, А. Хажакян, Д. Васильев // Наноиндустрия, 2008. т.№ 6.-С.40-45
|
10.
| Колешко В. М. Сенсорные микро-наносистемы с RFID иднтификацией/В. М. Колешко, Е. В. Полынкова // Нанотехника, 2008. т.№ 3.-С.49-56
|
|
|