Поисковый запрос: (<.>K=СИСТЕМА<.>) |
Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Афонин С. М. Абсолютная устойчивость системы управления деформацией электроупругого преобразователя нано-и микроперемещений /С. М. Афонин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 5.-С.25-32
|
2.
| Аккумуляция наночастиц платины в растениях пшеницы и гороха и особенности их морфологических изменений /Ю. Н. Моргалев, Т. П. Астафурова, Г. В. Боровикова, А. П. Зотикова, Т. А. Зайцева, В. М. Постовалова, Г. С. Верхотурова, Т. Г. Моргалева // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.81-86
|
3.
| Акустоэлектронные датчики силы в системах безопасности гидроагрегатов гэс /А. Т. Галисултанов, С. В. Дзюбаненко, В. С. Игнатьев, Д. М. Силаков, В. А. Калинин // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 8.-С.24-28
|
4.
| Аналитическая система «CompleXRay» для рентгеновской диагностики наноструктур /А. Г. Турьянский, В. И. Анисимов, Н. Д. Бейлин, Н. Н. Герасименко, С. С. Гижа, В. Е. Капустянов, И. В. Пиршин, В. М. Сенков, Д. И. Смирнов // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.7-12
|
5.
| Малиновская Т. Д. Бактерицидная система «наночастицы серебра полипропиленовый волокнистый носитель»: получение и свойства /Т. Д. Малиновская, Г. В. Лысак, И. А. Лысак // Нанотехника, 2013. т.№ 1.-С.69-72
|
6.
| Соловьев А. Н. Безгироскопная инерциальная система на основе акселерометров /А. Н. Соловьев, В. Е. Алексеев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 4.-С.36-31
|
7.
| Джашитов В. Э. Блок микромеханических чувствительных элементов с реверсивной системой терморегулирования на модуле пельтье/В. Э. Джашитов, В. М. Панкратов // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 3.-С.35-43
|
8.
| Чащихин В. С. Влияние молекул аналитов на электронные спектры поглощения и флуоресценции рецепторного центра на основе красителя 9-(дифениламино)акридина, адсорбированного на силикагельных кластерах /В. С. Чащихин, Е. А. Рыкова, А. А. Багатурьянц // Российские нанотехнологии, 2011. т.Т. 6,N № 9-10.-С.79-84
|
9.
| Возможности формирования МЭМС-варакторов с электростатическим управлением в GaAs-технологии /П. П. Мальцев, А. П. Лисицкий, А. Ю. Павлов, Н. В. Щаврук, Н. В. Побойкина, В. Д. Хачатрян // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 9.-С.28-33
|
10.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
|
|