Поисковый запрос: (<.>K=ТЕМПЕРАТУРА<.>) |
Общее количество найденных документов : 39
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Инвентарный номер: нет. Б 43
Белозубов, Е. М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов [Текст] / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова > // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 9. - С. 33-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (2 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЕМКОСТНЫЕ МЭМС-СТРУКТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВИБРОУСКОРЕНИЯ -- ВЫВОДНОЙ ПРОВОДНИК -- КОНТАКТНАЯ ПЛОЩАДКА -- ЭЛЕКТРОД -- ИЗМЕРЕНИЕ ТЕМПЕРАТУР ЭЛЕКТРОДОВ
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет. Б 43
Белозубов, Е. М. Тонкопленочные тензорезисторные микроэлектромеханические системы с идентичными тензоэлементами / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, В. А. Васильев> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 34-39 : рис. - Библиогр. : с. 39 (10 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: МЕХАНИКА Кл.слова (ненормированные): МЭМС (ТТМЭМС) -- ТЕНЗОЭЛЕМЕНТЫ ИДЕНТИЧНЫЕ -- ТЕМПЕРАТУРА НЕСТАЦИОНАРНАЯ
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет. Б 43
Белозубов, Е. М. Тонкопленочные тензорезисторные микроэлектромеханические системы с идентичными тензоэлементами и мембранами, имеющими жесткий центр / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 38-42 : рис. - Библиогр. : с. 42 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ФИЗИКА--МЕХАНИКА Кл.слова (ненормированные): ТТМЭМС -- МЭМС ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫЕ -- ТЕНЗОЭЛЕМЕНТЫ ИДЕНТИЧНЫЕ -- ТЕМПЕРАТУРА НЕСТАЦИОНАРНАЯ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - Библиогр. : с. 29 (15 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- СБОРКА -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. К вопросу развития научного направления по пайке электронных приборов / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 30-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (13 назв.)
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- СБОРКА -- МСТ -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. Оценка времени и температуры пайки электронных приборов / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17 : ил. - Библиогр. : с. 17 (8 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВРЕМЯ
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет. Н 25
Нанослои полипиромеллитимидных ориентантов жидких кристаллов для устройств органической электроники / Е. С. Кузьменко, А. А. Жуков, Е. П. Пожидаев, И. Н. Компанец> // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 1-2 . - С. 112-116 : рис., табл. - Библиогр. : с. 116 (11 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОСЛОИ ПОЛИПИРОМЕЛЛИТИМИДНЫЕ -- ОРИЕНТАНТЫ ДЛЯ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ -- УСТРОЙСТВА ОРГАНИЧЕСКОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ Аннотация: Исследована структура, термодинамические и оптические свойства полипиромеллитимидных нанослоев толщиной 8-23 нм, полученных на поверхности полупроводника путем нанесения на центрифуге из растворов преполимеров, и их последующей имидизации при температурах до 453 К. Обнаружено, что с уменьшением толщины нанослоев температура и время их имидизации резко понижаются. Показано, что слои полиимида толщиной менее 10 нм на поверхности полупроводника являются не сплошными, а самоорганизующимися разрывными покрытиями с характерными размерами полимерных островков в плоскости подложки порядка сотен нанометров. Доказана возможность использования указанных сплошных и разрывных нанослоев поверхности полупроводника в качестве ориентантов для жидких кристаллов, используемых при изготовлении гибких дисплеев
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет. А 94
Штенников, В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. Влияние длины паяльного стержня на температуру контактной пайки / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 29-31 : табл. - Библиогр. : с. 31 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР ЭЛЕКТРОННЫЙ -- КАЧЕСТВО -- ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ Аннотация: Описаны результаты исследований по влиянию длины паяльного стержня на температуру контактной пайки, которая оказывает pешающее влияние на качество паяных соединений
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет. Б 43
Белозубов, Е. М. Повышение временной стабильности датчиков давлений на основе тонкопленочных нано-и микроэлектромеханических систем / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова> // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 6. - С. 31-38 : рис. - Библиогр. : с. 38 (10 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НИМЭМС -- СИСТЕМЫ ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ НАНО- И МИКРОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЕ -- ДАТЧИКИ ДАВЛЕНИЯ -- СТАБИЛЬНОСТЬ -- ТЕМПЕРАТУРА -- КРИТЕРИЙ -- ДЕФОРМАЦИЯ Аннотация: Рассмотрена временная стабильность датчиков давления на основе тонкопленочных нано- и микросистем (НиМЭМС), выработаны условия и критерии временной стабильности. Предложен структурно-факторный метод повышения временной стабильности НиМЭМС. Экспериментально подтверждена адекватность предложенных условий и критериев временной стабильности НиМЭМС
Найти похожие
|
|
|