Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (1)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (3)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (1)Изобретения уральских ученых (4)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (11)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (59)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (14)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (13)Расплавы (4)Публикации Чарушина В.Н. (18)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ТОЛЩИНА<.>)
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Корпухин А. С., Бабаевский П. Г, Жуков А. А., Козлов Д. В., Смирнов И. П.
Заглавие : Влияние условий формирования и толщины слоев на термодеформационные характеристики полиимид-кремниевых упруго-шарнирных балок тепловых актюаторов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 2. - С. 34-40: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 40 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Исследовано влияние условий формирования и толщины полиимидного слоя, состояния балки в процессе его имидизации, а также природы и толщины функционального металлического слоя на начальный угол отклонения слоистых композиционных упруго-шарнирных полиимид-кремниевых консольных балок тепловых актюаторов и его изменение при нагревании и охлаждении. Установлено, что с точки зрения направленного регулирования этих характеристик важнейшую роль играют температура имидизации и толщина полиимидных слоев в упруго-шарнирной области, а также свободное или заневоленное состояние балок в процессе имидизации. Функциональные слои металлов толщиной порядка 0,1 мкм незначительно влияют на термодеформационные характеристики балок, а при увеличении их толщины - резко ухудшают эти параметры
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Ануфриенко В. Б., Михайлова А. М., Палагушкин А. Н., Сигейкин Г. И., Сомов И. Е., Чернов В. А.
Заглавие : Использование сверхмногослойных наноструктур для прямого преобразования ядерной энергии в электрическую
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 8. - С. 30-38: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 37-38 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вторичные электроны--прямое преобразование--многослойные металлы
Аннотация: Рассмотрено применение нанотехнологий для решения одной из проблем прямого преобразования ядерной энергии в электрическую, минуя тепловую стадию преобразования. Установлено, что применение тонких слоев (толщина в десятки нанометров) в ячейке преобразователя ядерной энергии в электрическую позволяет примерно на два порядка повысить КПД преобразователя, работающего на вторичных электронах, по сравнению с ячейкой с "толстыми слоями". Обоснована целесообразность изготовления гибридных источников тока, включающих в себя преобразователи энергии на вторичных электронах и суперконденсаторы
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ч-19
Автор(ы) : Чаплыгин Ю. А., Шевяков В. И.
Заглавие : Исследование влияния конструктивных параметров кантилеверов на чувствительность метода магнитной силовой микроскопии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 3-4. - С. 71-75: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 75 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кантилевер--метод магнитной силовой микроскопии--толщина магнитного покрытия --частицы железа --микроскоп
Аннотация: Представлены результаты исследования влияния конструктивных параметров кантилеверов на чувствительность метода магнитной силовой микроскопии. Показано, что для обеспечения максимальной чувствительности метода необходимо использовать кантилеверы с толщиной магнитного покрытия и жесткостью балки, лежащей в диапазоне от 0.1 до 1.0 Н/м. При использовании данных кантилеверов удалось зарегистрировать локально расположенные однодоменные частицы железа размером ~50 нм
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Макеев М. О., Иванов Ю. А., Мешков С. А., Гильман А. Б., Яблоков М. Ю.
Заглавие : Исследование физико-химических свойств поверхности политетрафторэтилена методом ик-спектроэллипсометрии
Место публикации : Нанотехника. - 2011. - № 3. - С. 27-32: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 32 (29 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методом ИК-спектроэллипсометрии проведено исследование воздействия низкотемпературной плазмы на поверхность ПТФЭ. Определена толщина модифицированного в плазме слоя, его оптические константы, а также изучено изменение шероховатости поверхности образца. Установлено, что толщина шероховатого слоя в результате обработки уменьшается от 380 + 19 нм до 353 + 16 нм, а толщина модифицированного слоя под шероховатым составляет 732 + 37 нм
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Вяткин А. Ф., Матвеев В. Н., Волков В. Т., Кононенко О. В., Левашов В. И., Ерёменко В. Г., Амеличев В. В., Костюк Д. В., Ходос И. И.
Заглавие : Многослойные наноструктуры с эффектом гигантского магнетосопротивления
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 26-29. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 29 (4 назв.)
УДК : 537.621.2; 538.975
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): многослойные наноструктуры--эффект гигантского магнетосопротивления
Аннотация: Квантово-механический эффект гигантского магнетосопротивления (ГМС) наблюдался в целом ряде многослойных магнитных материалов. Многослойные структуры, в которых появляется данный эффект, состоят из последовательно осажденных тонких ферромагнитных слоев, разделенных доводящим немагнитным слоем. Магнитные характеристики таких материалов зависят от структуры осажденных слоев, состояния межфазных границ между слоями и в значительной степени от немагнитного слоя, толщина которого требует высокой точности. С помощью электронно-лучевого и лазерного осаждения, просвечивающей электронной микроскопии и атомно-силовой микроскопии были получены и исследованы структуры Ta—NiFe—Cu—Co—FeMn—Ta. При оптимизации толщины медного разделительного слоя удалось поднять значение ГМС до 5% в продольном поле 10...20 Э
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Н 25
Автор(ы) : Куприянов Л. Ю., Рогинская Ю. Е., Козлова Н. В., Политова Е. Д., Кальнов В. А., Жихарев Е. Н.
Заглавие : Наноструктура тонких пленок композита кремний - углерод, полученных методом магнетронного распыления
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 9-10. - С. 120-124: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 124 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методом послойного магнетронного распыления получены тонкие пленки нанокомпозита кремний - углерод. Толщина пленок составляет 110-470 нм, и они имеют слоистую наноструктуру, образованную слоями кремния и углерода толщиной 7-10 нм каждый. Рентгенографические исследования показали присутствие в составе пленок кристаллической фазы карбида кремния, образующегося на границах слоев. Спектры зеркального отражения в диапазоне 200-2500 нм содержат ряд максимумов, которые могут быть отнесены к спектрам поглощения аморфного кремния, аморфного углерода и разупорядоченного карбида кремния. Особенности спектров ИК поглощения указывают на возможность образования графеновых фаз низкой размерности в области контактов слоев кремния и углерода. Сделан вывод, что изученные пленки могут рассматриваться как перспективная база для разработки электродов литиевых батарей с улучшенными характеристиками
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 538.9/У 18
Автор(ы) : Уваров И. В., Наумов В. В., Амиров И. И.
Заглавие : Особенности изготовления металлических кантилеверов наноразмерной толщины
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 5-9. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 9 (17 назв.)
УДК : 538.9
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектромеханические системы--наноконтилевер--плазменное травление--остаточные напряжения--термический отжиг--поверхность
Аннотация: Представлена методика изготовления металлических нанокантилеверов. Кантилеверы имели трехслойную структуру и изготавливались в двух вариантах: Cr/Al/Cr и Ti/Al/Ti. Толщина кантилеверов составляла 40, 80 и 120 нм. Отношение длины кантилевера к толщине достигало 2500. Освобождение кантилеверов выполнялось путем травления жертвенного слоя в плазме SFfi. При изготовлении кантилеверов Cr/Al/Cr применялся вакуумный термический отжиг. Для кантилеверов Ti/Al/Ti важным моментом являлся подбор режима освобождения
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53.087:537.621.2/О-75
Автор(ы) : Беспалов В. А., Дюжев Н. А., Юров А. С., Чиненков М. Ю., Мазуркин Н. С.
Заглавие : Особенности применения магниторезистивных наноструктур в датчиках автомобильных электронных систем
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 48-54. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 54 (13 назв.)
УДК : 53.087:537.621.2
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анизотропное магнитосопротивление--датчик оборотов--датчик углового положения--магниторезистор--нэмс--мэмс
Аннотация: Рассматриваются пути применения магниторезистивных наноструктур на основе анизотропных пленок пермаллоя Ni (80 %) Fe (20 %) в автомобильных датчиках. Чувствительный элемент датчиков представляет собой четыре магниторезистора в форме меандра, соединенных в мостовую схему. Характерная толщина слоя пермаллоя в экспериментальных образцах магниторезисторов составляет 50...100 нм. Приводятся характеристики экспериментальных образцов чувствительных элементов. Показана возможность использования подобных чувствительных элементов для построения датчиков оборотов и углового положения
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.383.8/С 58
Автор(ы) : Заярский Д. А., Невешкин А. А., Байбурин В. Б., Слаповская Ю. П.
Заглавие : Создание многослойных структур на основе ALQ 3 и исследование их свойств
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 4. - С. 30-33. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 33 (4 назв.)
УДК : 621.383.8
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полимерные покрытия--три-8-оксихиналин алюминия--мдм-структура
Аннотация: Приведена методика формирования тонкопленочных полимерных покрытий на основе три-8-оксихиналин алюминия (Alq 3) и параметры оптимального режима нанесения, при котором толщина покрытий находится в пределах 100 нм. Создана многослойная тонкопленочная МДМ-структура на основе Alq 3 и исследованы ее электрофизические свойства
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 47
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Зайцев С. А., Кузин А. Ю., Новиков Ю. А., Раков А. В., Тодуа П. А.
Заглавие : Эллипсометрическая характеризация структур Si-SiO2
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 42-45: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 45 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Рассмотрены диагностические возможности метода эллипсометрии в применении к системе, представляющей собой пленку оксида кремния на кремнии, широко используемой в наноэлектронике. Для конкретных образцов, содержащих пленку оксида кремния на поверхности кремниевой подложки, определены с высокой точностью все основные параметры пленки и подложки: толщина пленки, показатели преломления пленки и подложки, коэффициент поглощения подложки. Экспериментально показано, что с помощью метода эллипсометрии можно контролировать наличие (или отсутствие) дополнительного переходного слоя между пленкой и подложкой
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика