Поисковый запрос: (<.>K=ФОРМА<.>) |
Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Создание монокристальных нанопроводов из кремния с использованием облучения ионами малых энергий /Б. А. Гурович, К. Е. Приходько, Д. А. Комаров, А. Н. Талденков // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 3-4.-С.49-53
|
2.
| Развитие оптико-спектральных методов характеризации наночастиц /А. Д. Левин, Ю. М. Садагов, Л. Л. Короли, Е. А. Шмыткова // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т.8,N № 5-6.-С.86-91
|
3.
| Морфология и биологическая активность наносистем на основе наночастиц селена /С. В. Валуева, С. Г. Азизбекян, М. П. Кучинский, Т. Е. Суханова // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.53-58
|
4.
| Синтез высокодисперсного карбида бора из нановолокнистого углерода /Ю. Л. Крутский [и др.] // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 3-4.-С.43-48
|
5.
| Васильев В. В. Оптимальная форма композитного баллона давления с металлическим лейнером/В. В. Васильев, А. Ф. Разин, Ф. К. Синьковский // Композиты и наноструктуры, 2014. т.Т. 6,N № 1.-С.18-24
|
6.
| Зарубин В. С. Влияние формы пластинчатых включений на эффективную теплопроводность композита/В. С. Зарубин, Г. Н. Кувыркин, И. Ю. Савельева // Композиты и наноструктуры, 2014. т.Т. 6,N № 2.-С.95-104
|
7.
| Карташев В. А. Учет геометрии острия иглы для коррекции измерений туннельного микроскопа/В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника, 2013. т.№ 11.-С.2-4
|
8.
| Размерный эффект в многослойных тонкопленочных термитных материалах на основе композита алюминий - нитрид меди/В. А. Галперин, Д. Г. Громов, Е. А. Лебедев, А. С. Шулятьев, Д. И. Смирнов, Ю. И. Шиляева // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 6.-С.16-19
|
9.
| Саханский С. П. Модель управления формой при выращивании монокристаллов германия /С. П. Саханский // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 6.-С.2-5
|
10.
| Влияние компонентов дисперсионной среды на структуру и свойства металл-полимерных композиций на основе наночастиц серебра и золота /А. И. Лоскутов, О. Я. Урюпина, В. В. Высоцкий, М. Р. Киселев // Нанотехника, 2010. т.№ 1.-С.39-45
|
|
|