Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИГД УрО РАН
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (10)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (1)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ЗОНДОВАЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20  
1.
Инвентарный номер: 197854 - кх.
   538
   Н 40

    Неволин, В. К.
    Зондовые нанотехнологии в электронике [] / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2005. - 147, [1] с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 : 305.00 р.
ББК 538.648 + 648.441
РУБ 538
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ
   РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ (ЗОНДОВАЯ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА (МИКРОСКОПЫ) -- ЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ (МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ)

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   
   Л 87

    Лучинин, В. В.
    Наноиндустрия и "Человеческий капитал" [Текст] / В. В. Лучинин // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 6-13 : рис. . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОИНДУСТРИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МЕЖДИСЦИПЛИНАРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: нет.
   
   М 92

    Мухин, Д.
    Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью

Найти похожие
4.
Инвентарный номер: нет.
   
   Т 38

   
    Технологии производства новых материалов и устройств с углеродными нанотрубками в качестве рабочих элементов [Текст] / О. Синицына [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 20-23 : рис., табл. - Библиогр.: с. 23 (12 назв.) . - ISSN 1993-8578
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАСЫЩАЕМЫЕ ПОГЛОТИТЕЛИ
Аннотация: Уникальные физико-химические свойства углеродных нанотрубок (УНТ) уже более 15 лет притягивают внимание ученых всего мира. Близки к коммерциализации прозрачные проводящие пленки на основе УНТ, используемые в производстве сенсорных панелей и дисплеев; нагревающиеся стекла для автомобилей и декоративных нагревателей; высокопрочные и легкие композиты для самолето- и автомобилестроения, производства спортивных принадлежностей, баллонов и контейнеров; материалы для химических источников тока; полевые эмиттеры; сенсорные структуры

Найти похожие
5.
Инвентарный номер: нет.
   
   З-84

   
    Зондовая микроскопия вирусов : нанотехнологии и медицина [] / А. Сушко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 28-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (17назв.) . - ISSN 1993-8578
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ

Найти похожие
6.
Инвентарный номер: нет.
   
   С 38

    Синицина, О.
    Анализ и распознавание графической информации в наноскопии / О. Синицина, А. Филонов, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 14-20 : ил. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.) . - ISSN 1993-8578
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗОНДОВАЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ОПТИЧЕСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ

Найти похожие
7.
Инвентарный номер: нет.
   
   П 54

    Поляков, В. В.
    Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10 : рис., табл. - Библиогр. : с. 10 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ ЕМКОСТНАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОП ЗОНДОВЫЙ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ -- ПРОФИЛЬ ЛЕГИРОВАНИЯ

Найти похожие
8.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 27

    Карташев, В. А.
    Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра

Найти похожие
9.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ф 79

   
    Формирование суперкластеров нанооксидов титана под острием сканирующего туннельного микроскопа / М. В. Гришин, С. А. Ковалевский, Ф. И. Далидчик, А. К. Гатин // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 51-53 : рис. - Библиогр. : с. 53 (10 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ -- СУПЕРКЛАСТЕРЫ ОКСИДНЫЕ -- ЛИТОГРАФИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: В высоковакуумных экспериментах (Р = 5*10-10 мбар) под острием сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) на поверхности окисленного титана обнаружено формирование оксидных суперкластеров с размерами до нескольких десятков нанометров. Установлены зависимости размеров нанокластеров от основных параметров сканирования (величины, полярности и длительности импульсов напряжения, подававшихся на наноконтакт). Показано, что рост оксидных суперкластеров возможен как при положительных, так и при отрицательных значениях полярности. Полученные результаты, расширяющие возможности современной зондовой литографии, - первый пример формирования в условиях сверхвысокого вакуума на поверхности окисленных металлов наноразмерных оксидных структур

Найти похожие
10.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 58

   
    Влияние внешних магнитных полей на информационную магнитную структуру современных жестких дисков / С. В. Герус, Ю. В. Гуляев [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПОЛЯ МАГНИТНЫЕ ВНЕШНИЕ -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ -- НАКОПИТЕЛЬ НА ЖЕСТКОМ МАГНИТНОМ ДИСКЕ
Аннотация: Рассмотрены экспериментальные исследования магнитной структуры фрагментов записи на накопителе на жестких магнитных дисках (НЖМД) различной емкости и изучена ее устойчивость к воздействию магнитного поля различной напряженности и ориентации. Условиями, определяющими устойчивость жестких дисков к внешним магнитным полям, являются коэрцитивная сила применяемых магнитных материалов и степень экранирования импульсного магнитного поля корпусом и конструктивными элементами жесткого диска

Найти похожие
 1-10    11-20  
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика