Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОП<.>) |
Общее количество найденных документов : 24
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
Г 31
Гелевер, В.
Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения [Текст] / В. Гелевер // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 20-24 : фото, рис.
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЗАЩИТНАЯ КАМЕРА -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
Аннотация: Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется из-за низкого разрешения. Разработка ООО"ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет.
С 42
Сканируя нанопрстранство... Революционная премьера от CARL ZEISS! [Текст] // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 26-28 : фото
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОП -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет.
М 92
Мухин, Д.
Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.)
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет.
Б 14
Багров, Д.
Атомно-силовая микроскопия деформаций полимерных материалов [Текст] / Д. Багров, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 5. - С. 32-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (10 назв.)
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДЕФОРМАЦИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ -- АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет.
С 69
Сошников, А. И.
Исследование и модифицирование полупроводниковых структур алмазными токопроводящими зондами [] / А. И. Сошников // Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 72-76 : рис. - Библиогр.: с. 76 (7 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
И 88
Исследование нанокомпозитов на основе опалов с помощью комплекса нанотехнологического оборудования "Умка" [] / Н. О. Алексеева [и др.] // Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 9-11 : рис. - Библиогр. : с. 11 (21 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
Б 95
Быков , В. А.
Учебно-исследовательская мини-лаборатория по нанотехнологии на базе сканирующего зондового микроскопа "НАНОЭДЬЮКАТОР" / В. А. Быков , В. Н. Васильев , А. О. Голубок // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 51-58. - Библиогр. : с. 58 (21 назв.)
. - ISSN 1195-078ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИИ (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП -- ПЬЕЗОСКАНЕР
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
О-62
Оптические свойства наноструктурированных пленок a-C:H:Si / В. Д. Фролов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 138-143 : рис. - Библиогр. : с. 143 (25 назв.)
. - ISSN 1195-078ББК 623.7
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ ПЛЕНКИ -- ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП -- КЛАСТЕРНАЯ СТРУКТУРА
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
П 54
Поляков, В. В.
Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10 : рис., табл. - Библиогр. : с. 10 (10 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ ЕМКОСТНАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОП ЗОНДОВЫЙ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ -- ПРОФИЛЬ ЛЕГИРОВАНИЯ
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет.
Н 25
Наноиндентирование углеродных нанотрубок, пропитанных расплавом алюминия под давлением / С. М. Аракелян, В. Ф. Коростелев [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 9. - С. 2-4 : рис. - Библиогр. : с. 4 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДИКА РЕЗОНАНСНЫХ АВТОКОЛЕБАНИЙ -- ОПРЕССОВКА ИЗОСТАТИЧЕСКАЯ В РАСПЛАВЕ -- СВОЙСТВА ПОВЕРХНОСТИ
Аннотация: В описываемой работе процесс компактирования осуществлен путем пропитки капсулы, наполненной УНТ, в расплаве алюминия при температуре 850 °C под давлением 400 МПа. Для исследования свойств методом наноиндентирования использовали сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) Солвер НЕКСТ, производства NT-MDT, Зеленоград, Москва. Приведены результаты измерений, сравнение которых с литературными данными дает важную информацию для синтеза новых материалов
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных