Поисковый запрос: (<.>R=90$<.>) |
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7 |
1.
| Инвентарный номер: 207960 - ч/з. 623 Н 25
Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях [] : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135,[1] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. - ISBN 978-5-94836-229-8 : 339.00 р.ББК 623.7я21 + 621.0я21 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СЛОВАРИ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет. 62 Г 72ГОСТ 8.593-2009
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет. 62 М 54ГОСТ Р 8.700-2010
Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [] : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 05.04.2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. - Библиогр.: с. 11. - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет. 62 М 59ГОСТ Р 8.630-2007
Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: 214280 - пф. 621 С 32
Сергеев, Алексей Георгиевич. Нанометрология [] : монография / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2012. - 413 с. : рис. - Библиогр.: с. 409-413. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 457.60 р. Прил.: с. 397-408ББК 621.0 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: 218717 - пф. Ж1 М 54
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.ББК Ж10я73 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: 220579 - пф. Ж1 Л 66
Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.ББК Ж10я73 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Оглавление Найти похожие
|
|