А 72 Антоненко, С. В. Исследование пленок YBa2Cu3O7-х на СТМ и ПЭМ / С. В. Антоненко, С. М. Толкачева, А. А. Тимофеев // Нанотехника. - 2010. - № 2. - С. 61-62 : рис. - Библиогр. : с. 62 (3 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПЛЕНКИ ВТСП -- МЕТОД СТМ -- МЕТОД ПЭМ Аннотация: Рассмотрено приготовление ВТСП пленок Y(Sm)Ba2Cu3O7-x Представлены результаты по экспериментальному исследованию данных пленок методами СТМ, ПЭМ. Показано, что ВТСП пленки имеют кристаллическое строение. Оценены поперечные размеры кристаллитов - 5 - 40 нм. Наблюдается корреляция между данными СТМ и ПЭМ. ВТСП пленки предназначены для атомной техники, сверхпроводящих магнитных систем, датчиков излучения, болометров и т.д. |
И 88 Исследование кристаллографической текстуры и морфологии поверхности буферных слоев для ВТСП-2, нанесенных методом дуального термореактивного магнетронного напыления / С. Ю. Лучкин, И. И. Акимов, А. В. Кацай, Н. Н. Краснобаев, А. В. Митин, В. С. Митин, В. К. Орлов, А. О. Титов // Нанотехника. - 2011. - № 4. - С. 78-84 : рис. - Библиогр.: с. 84 (8 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТЕКСТУРА -- ВТСП -- СЛОИ БУФЕРНЫЕ -- ОКСИД МАГНИЯ -- ОСАЖДЕНИЕ С ИОННО-ПУЧКОВЫМ АССИСТИРОВАНИЕМ Аннотация: Проведена серия экспериментов с варьированием технологических режимов при нанесении буферных пленочных покрытий из MgO и YSZ методом «дуального» термореактивного магнетронного напыления с ионным ассистированием (IBAD) на ленточную подложку из сплава Х20Н80-Н. Результаты исследований показывают, что кристаллическая стехиометрическая морфологически однородная пленка MgO толщиной до 100 нм, нанесенная на ленточную подложку, имеет преимущественно биаксиальную текстуру (200) с полушириной текстурного максимума 5-10°, при этом интенсивность дифракционного пика в случае применения IBAD существенно увеличивается. Кристаллическая пленка YSZ (200 нм) повторяет текстуру подложки. Полученные результаты свидетельствуют о возможности использования данных ленточных носителей с буферами в качестве основы для нанесения оксидных композиций для получения ВТСП-лент 2 поколения |
П 53 Получение и материаловедческие исследования биаксиально текстурированных ленточных подложек из никелевых сплавов для сверхпроводящих лент 2-го поколения / И. И. Акимов, А. В. Кацай, Д. А. Крюков, С. Ю. Лучкин, В. С. Митин, А. О. Титов // Нанотехника. - 2012. - № 2. - С. 36-40 : рис. - Библиогр.: с. 40 (5 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ВТСП -- ОБРАБОТКА ТЕРМОМЕХАНИЧЕСКАЯ -- ПОДЛОЖКА БИАКСИАЛЬНО-ТЕКСТУРИРОВАННАЯ Аннотация: В настоящей работе представлены результаты работ по получению и исследованию металлических ленточных подложек с острой кубической текстурой для ВТСП 2-го поколения. Изучено влияние легирующих элементов на размер зерна и параметры текстуры ленточной подложки, а также влияние различных режимов термомеханической обработки на морфологические и текстурные особенности подложки. Показано, что увеличение концентрации вольфрама с 11 масс. % до 14 масс. % приводит к уменьшению размера зерна с 40-50 мкм до 20-30 мкм. Дополнительное введение в сплав 0,1 масс. % иттрия приводит к уменьшению размера зерна до 10-15 мкм, при этом достигается наибольшая острота текстуры- до (5,8-6°). Полученные результаты показывают возможность применения ленты из тройного сплава Ni-W-Y в качестве подложки для получения современных ВТСП 2-го поколения |