539.2 В 24 Введение в физику поверхности [] : научное издание / К. Оура [и др.] ; [отв. ред. В. И. Сергиенко] ; [РАН, СО, Ин-т автоматики и процессов управления]. - М. : Наука, 2006. - 490 с. : ил. - Библиогр.: с. 465-481. - Предм. указ.: с. 482-490. - Пер. изд. : Surface Scinece. An Introduction / K. Oura. - Berlin, 2003. - ISBN 5-02-034355-2 : 264.00 р., 99.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ Кл.слова (ненормированные): ФИЗИКА ПОВЕРХНОСТЕЙ -- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ (ФИЗИКА) -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (ФИЗИКА) -- СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (ФИЗИКА) -- АДСОРБЦИЯ (ПОВЕРХНОСТЬ ТВЕРДОГО ТЕЛА) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ФИЗИКА) -- ПОВЕРХНОСТИ (СТРУКТУРА) -- ДИФРАКЦИЯ (ФИЗИКА) |
В 40 Взаимодействие электронного пучка с полем кристаллической решетки и представления волновой оптики / Т. А. Гришина [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 14-20. - Библиогр. : с. 20 (8 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ОПТИКА ВОЛНОВАЯ -- ДИФРАКЦИЯ -- ВОЛНА ЭЛЕКТРОННАЯ -- РЕШЕТКА КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ Аннотация: Проанализирована возможность использования представлений волновой оптики для описания закономерностей взаимодействия электронов с кристаллической решеткой электронно-микроскопического объекта |
И 88 Исследование продуктов золь-гель-процессов в многокомпонентных оксидных системах, протекающих с образованием магнитных нанокомпозитов / К. Г. Гареев, И. Е. Грачева, Н. Е. Казанцева, В. В. Лучинин, В. А. Мошников, А. А. Петров> // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 5-10 : рис., табл. - Библиогр.: с. 10 (26 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛ НАНОКОМПОЗИТНЫЙ -- ФЕРРИТ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ -- ДИФРАКЦИЯ БЫСТРЫХ ЭЛЕКТРОНОВ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МАГНИТОМЕТРИЯ ВИБРАЦИОННАЯ Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии, электронной дифракции, Оже-спектроскопии и вибрационной магнитометрии исследованы продукты золь-гель-процессов, протекающих с образованием магнитных нано-композитов на основе простых и сложных ферритов со структурой типа шпинель |
Ф 34 Федотов, В. Г. Формирование спектров отражения и пропускания света тонкими трехмерными фотонно-кристаллическими пленками в режиме многоволновой дифракции / В. Г. Федотов, А. В. Селькин> // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 9-10. - С. 65-70 : рис. - Библиогр.: с. 70 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- РЕЖИМ МНОГОВОЛНОВОЙ ДИФРАКЦИИ -- СПЕКТРЫ ОТРАЖЕНИЯ -- КРИСТАЛЛЫ ФОТОННЫЕ -- РАСЧЕТ СПЕКТРОВ -- ПОЛОСЫ ЭКСТИНКЦИИ Аннотация: Исследованы спектры отражения и пропускания света тонкими пленками трехмерных опалоподобных фотонных кристаллов. С использованием аналитической теории динамической дифракции света, обобщенной на случай пространственно-периодической среды с высоким диэлектрическим контрастом, выполнен численный расчет спектров. Рассмотрены кинематические условия дифракции света на системе латеральных (111) и наклонных (11-1) кристаллических плоскостей с учетом границ раздела пленки. Установлено, что дифракция на наклонных плоскостях формирует дополнительные полосы экстинкции, не совпадающие по спектральному положению с пиками брэгговского отражения для соответствующих наклонных плоскостей |
П 91 Пушин, В. Г. Просвечивающая и растровая аналитическая электронная микроскопия: приборы и методы нанодиагностики и нанометрологии / В. Г. Пушин> // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 95-104 : рис., табл. - Библиогр.: с. 104 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОДИАГНОСТИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МАТЕРИАЛЫ НАНОСТРУКТУРНЫЕ И НАНОФАЗНЫЕ -- ПОГРЕШНОСТЬ -- МИКРОСКОП -- МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ДИФРАКЦИИ -- НАНОМАТЕРИАЛ -- ДИФРАКЦИЯ Аннотация: В данном обзоре рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешностии способы представления. Рассмотрены основные типы современных электронных просвечивающих и сканирующих аналитических микроскопов, приведены их технические характеристики и функциональные возможности, включающие различные приставки по элементному анализу, структурным и текстурным исследованиям, in situ экспериментам по изучению структурных и фазовых превращений при нагреве, охлаждении, облучении и деформации. Приведены различные примеры электронно-микроскопических исследований разных материалов (металлических, керамических и композиционных, магнитных), их изучения методами электронной дифракции и другими методиками (анализа элементного состава и текстуры). Представлен 25-летний опыт работы Центра коллективного пользования по электронной микроскопии УрО РАН и ИФМ УрО РАН |
Р 25 Раткин, Л. С. К юбилею национального исследовательского центра "Курчатовский институт": новые разработки в сфере нанои микросистемной техники / Л. С. Раткин> // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 2. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК -- НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР -- КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ -- МГУ ИМ. М. В. ЛОМОНОСОВА -- ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ ИМ. А. В. ШИУБНИКОВА ран -- РАМН -- НАНОЧАСТИЦЫ -- НАНОКОМПОЗИТЫ -- НАНОСИСТЕМЫ -- НАНОМАСШТАБ -- ДИФРАКЦИЯ Аннотация: В год семидесятилетия Национального исследовательского центра (НИЦ) "Курчатовский институт" под патронажем Российской академии наук был проведен цикл конференций, на которых рассматривались перспективные разработки, в том числе в сфере нано- и микросистемной техники. Особое внимание уделялось исследованиям, проведенным в МГУ им. М. В. Ломоносова, институтах РАН, в частности, в Институте кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, и институтах Российской академии медицинских наук (РАМН) |