538 Н 40 Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [] / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2005. - 147, [1] с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 : 305.00 р. РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ (ЗОНДОВАЯ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА (МИКРОСКОПЫ) -- ЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ (МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ) |
541.1 П 88 Пул, Ч. Нанотехнологии [] : учеб. пособие по спец. "Нанотехнологии" / Ч. Пул, Ф. Оуэнс ; ред. пер.; авт. предисл. Ю. И. Головин. - М. : Техносфера, 2004. - 327 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Загл. на доп.тит.листе : Introduction to Nanotechnology. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-021-0 : 188.10 р. Пер. изд.: Introduction to Nanotechnology / C. P. Pool, F. J. Owens. S. l., 2003. - Прил. : с. 311-327 РУБ 541.1 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--УЧЕБНИКИ ФИЗИКА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ИОННАЯ (ПОЛЕВАЯ) -- МИКРОСКОПИЯ (ВИДЫ) -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ -- НАНОКЛАСТЕРЫ (МАТЕРИАЛЫ) -- НАНОМАТЕРИАЛЫ (СТРУКТУРА) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (ХИМИЯ) -- НАНОСТРУКТУРЫ УГЛЕРОДНЫЕ (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОСНОВЫ) -- ФЕРРОМАГНЕТИЗМ (ФИЗИКА) -- ФЕРРОМАГНЕТИЗМ (ХИМИЯ) -- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА (ОСНОВЫ) -- НАНОМАШИНЫ (ОСНОВЫ) -- НАНОПРИБОРЫ (ОСНОВЫ) |
538 Р 76 Российская конференция по электронной микроскопии (ЭМ'2002) (19 ; 2002 ; [Черноголовка]). XIX Российская конференция по электронной микроскопии ЭМ'2002 [] : тез. докл., 28 мая-31 мая 2002 г. / РАН. Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов и др. - Черноголовка : [б. и.], 2002. - 286 с., 2 л. вкл. ил. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.: с. 279-285. - 30.00 р. РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ--КОНФЕРЕНЦИИ ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ Кл.слова (ненормированные): БИОЛОГИЯ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- КЛАСТЕРЫ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- МЕДИЦИНА (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (ХИМИЯ) -- МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- НАНОСТРУКТУРЫ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ) -- ОПТИКА ЭЛЕКТРОННАЯ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ |
57 N 74 Nolting, Bengt. Methods in Modern Biophysics [Text] : научное издание / B. Nolting. - Berlin [et al.] : Springer, 2004. - XIV, 254 с. : ил. - Библиогр.: с. 213-243. - Указ.: с. 245-254 . - ISBN 3-540-01297-4 : 1288.00 р.
Рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ--ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ Кл.слова (ненормированные): БИОФИЗИКА (ИССЛЕДОВАНИЯ) -- СПЕКТРОМЕТРИЯ (МЕТОДЫ АНАЛИЗА) -- МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ (БИОФИЗИКА) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (БИОФИЗИКА) |
538 М 64 Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [] : учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2005. - 143 с. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 166.65 р.
Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ (ОСНОВЫ) -- ПРИБОРЫ МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ (ИЗУЧЕНИЕ НАНОСТРУКТУР) -- МИКРОСКОПЫ (ИЗУЧЕНИЕ НАНОСТРУКТУР) -- АППАРАТУРА МИКРОСКОПИЧЕСКАЯ |
Л 87 Лучинин, В. В. Наноиндустрия и "Человеческий капитал" [Текст] / В. В. Лучинин // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 6-13 : рис. . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОИНДУСТРИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МЕЖДИСЦИПЛИНАРНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ |
О-43 Одномолекулярный автомобиль еще и ездит [Текст] // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 23
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРЫ (МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ), НАНОСТРУКТУРЫ (ИССЛЕДОВАНИЯ) Аннотация: Джеймс Тур и его коллеги из техасского университета Райса создали самый маленький в мире действующий автомобиль: он состоит всего-то приблизительно из трех сотен атомов, собранных в одну сложную молекулу |
О-23 Образцова, Е Современные достижения нанооптики [Текст] / ЕОбразцова, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 1. - С. 18 - 23 : рис., табл. - Библиогр.: с. 22-23 (25 назв.)
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АПЕРТУРНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНД -- КОМБИНАЦИОННОЕ РАССЕЯНИЕ |
Г 31 Гелевер, В. Просвечивающий рентгеновский микроскоп наноразрешения [Текст] / В. Гелевер // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 20-24 : фото, рис. . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗАЩИТНАЯ КАМЕРА -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ Аннотация: Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется из-за низкого разрешения. Разработка ООО"ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы |
С 42 Сканируя нанопрстранство... Революционная премьера от CARL ZEISS! [Текст] // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 26-28 : фото . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОП -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ |
М 92 Мухин, Д. Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью |
П 59 Пористый кремний как каталитическая наноматрица для микромощных источников тока [Текст] / Н. А. Яштулов [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 8. - С. 20-23 : фото. - Библиогр.: с. 23 (9 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОРИСТЫЙ КРЕМНИЙ -- НАНОЭЛЕКТРОКАТАЛИЗ -- НАНОЧАСТИЦЫ ПАЛЛАДИЯ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ Аннотация: Представлены результаты формирования нанокатализаторов платиновой группы на матрице из пористого кремния. Рассмотрена возможность направленного роста углеродных нанотрубок на подложке из кремния. Показано влияние типа проводимости, степени пористости, геометрии пор кремния на параметры наночастиц катализаторов для источников тока в электронике |
Т 38 Технологии производства новых материалов и устройств с углеродными нанотрубками в качестве рабочих элементов [Текст] / О. Синицына [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 20-23 : рис., табл. - Библиогр.: с. 23 (12 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАСЫЩАЕМЫЕ ПОГЛОТИТЕЛИ Аннотация: Уникальные физико-химические свойства углеродных нанотрубок (УНТ) уже более 15 лет притягивают внимание ученых всего мира. Близки к коммерциализации прозрачные проводящие пленки на основе УНТ, используемые в производстве сенсорных панелей и дисплеев; нагревающиеся стекла для автомобилей и декоративных нагревателей; высокопрочные и легкие композиты для самолето- и автомобилестроения, производства спортивных принадлежностей, баллонов и контейнеров; материалы для химических источников тока; полевые эмиттеры; сенсорные структуры |
Б 14 Багров, Д. Атомно-силовая микроскопия деформаций полимерных материалов [Текст] / Д. Багров, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 5. - С. 32-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДЕФОРМАЦИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ -- АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП |
С 42 Скейлинговый анализ морфологии наноструктурированных поли-п-ксилиленовых пленок, синтезированных методом газофазной полимеризации на поверхности [Текст] / Л. Р. Стрельцов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 7-8. - С. 115-123 : рис., табл. - Библиогр. : с. 123 (29 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ -- МОРФОЛОГИЯ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ |
З-84 Зондовая микроскопия вирусов : нанотехнологии и медицина [] / А. Сушко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 28-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (17назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ |
Р 25 Раткин, Л. Современные достижения бионаноскопии [] / Л. Раткин // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 46-48 : рис. - Библиогр. : с. 48 (16 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ |
Э 45 Электронная микроскопия наноструктур титаната бария-стронция в матрице оксида алюминия [Текст] / О. М. Жигалина [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 12. - С. 2-6 : рис. - Библиогр. : с. 6 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОД -- НАНОСТРУКТУРЫ -- КРИСТАЛЛИЗАЦИЯ Аннотация: Разработан золь-гель метод формирования сегнетоэлектрических наноструктур титаната бария-стронция с аспектным соотношением 1:10 и более в матрице пористого оксида алюминия. Методами электронной микроскопии выявлена закономерность образования нанострутур при кристаллизации в объеме пор матрицы в виде нанотрубок или наностлобиков диаметром 100...200нм и длиной до нескольких микрометров, формируемых кристаллами титаната бария стронция размером 3...100 нм. |
С 87 Структурные и морфологические изменения углеродных нанотрубок, вызванные воздействием сильных ударных волн [Текст] / А. М. Молодец [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 111-117 : рис. - Библиогр.: с. 117 (15 назв.) . - ISSN 1195-078 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СЖАТИЕ |
Ф 79 Формирование магнитных нанокристаллов в Ge-стеклах, допированных Fe и Dy [Текст] / И. С. Эдельман [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 136-142 : рис. - Библиогр.: с. 142 (21 назв.) . - ISSN 1195-078 Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): СТЕКЛА -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ |