П 54 Поляков, В. В. Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии / В. В. Поляков // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10 : рис., табл. - Библиогр. : с. 10 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ЕМКОСТНАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОП ЗОНДОВЫЙ -- МИКРОСКОП СКАНИРУЮЩИЙ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ -- ПРОФИЛЬ ЛЕГИРОВАНИЯ |
Е 78 Ерофеев, А. С. Кантилеверные биохимические анализаторы / А. С. Ерофеев, И. В. Яминский // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 45-48 : рис. - Библиогр. : с. 48 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586 Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- АНАЛИЗАТОР БИОХИМИЧЕСКИЙ -- КАНТИЛЕВЕР -- НАТЯЖЕНИЕ ПОВЕРХНОСТНОЕ |
С 32 Сергеева, Е. А. Способ закрепления наночастиц серебра на поверхности полипропиленовых волокон / Е. А. Сергеева // Нанотехника. - 2010. - № 2. - С. 97-100 : рис. - Библиогр. : с. 100 (3 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПОВЕРХНОСТЬ ПОЛИПРОПИЛЕНОВЫХ ВОЛОКОН -- НАНОЧАСТИЦЫ СЕРЕБРА -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ Аннотация: Проведены исследования влияния плазменной активации полипропиленового волокна, используемого с целью изготовления фильтров для очистки воды, на фиксацию наночастиц серебра на его поверхности. Приводятся результаты атомно-силовой микроскопии, свидетельствующие о закреплении наночастиц серебра на поверхности полипропиленового волокна и присутствии наночастиц после промывки. Показано, что наибольший эффект по фиксации наночастиц достигается при использовании двойной плазменной обработки |
М 74 Модификация зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии методом фокусированных ионных пучков / С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 4-8 : рис. - Библиогр. : с. 8 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОД ФОКУСИРОВАННЫХ ИОННЫХ ПУЧКОВ -- ДАТЧИКИ-КАНТИЛЕВЕРЫ ЗОНДОВЫЕ -- СОПРОТИВЛЕНИЕ РАСТЕКАНИЯ Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований по модификации зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии (АСМ) путем осаждения на поверхность балки кантилевера вольфрамового острия методом фокусированных ионных пучков (ФИП) с применением высокоселективной газовой химии. Показано, что полученные методом ФИП зонды длиной 5 мкм и радиусом закругления порядка 50 нм позволяют повысить точность измерений тестовых объектов. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов изготовления и модификации зондовых датчиков-кантилеверов АСМ, а также при исследовании структур микро-и наносистемной техники |
И 88 Использование методов фрактальной геометрии для анализа морфологических свойств и управления качеством получаемого информационного массива по результатам измерений наноразмерных объектов с использованием атомно-силового микроскопа / С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 8-13 : рис. - Библиогр. : с. 13 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- РАЗМЕРНОСТЬ ФРАКТАЛЬНАЯ -- МЕТОД ФРАКТАЛЬНОЙ ГЕОМЕТРИИ -- АСМ-ИЗМЕРЕНИЯ Аннотация: Методы атомно-силовой микроскопии (АСМ) получают все большее распространение в задачах исследования нанообъектов и наноструктур. Используемые подходы позволяют получать с высоким разрешением карту свойств поверхности. Для многих измерений принципиален вопрос об избыточности проводимых измерений и возможности управлением качеством получаемой информации. На основе методов фрактальной геометрии на примере одномерных зависимостей предложены методы управления качеством и точностью получаемого информационного массива на основе АСМ-измерений |
П 73 Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии / В. В. Прохоров [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 5-6. - С. 52-59 : рис. - Библиогр. : с. 59 (17 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ВЫСОТЫ НАНОРАЗМЕРНЫЕ J-АГРЕГАТОВ -- ИЗМЕРЕНИЕ ПРЕЦИЗИОННОЕ -- J-АГРЕГАТЫ Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) получены изображения высокого разрешения и проведены прецизионные измерения высот наноразмерных органических молекулярных кристаллов J-агрегатов монометинцианинового красителя 3,3'-ди(гамма-сульфопропил)-5,5'-дихлортиамонометинцианина (МЦК) и амфифильного красителя 3,3'-бис(2-сульфопропил)-5,5',6,6'-тетрахлор1,1'-диоктилбензимидакарбоцианина (АЦК). Установлено, что J-агрегаты МЦК, полученные как в объеме раствора, так и самосборкой на поверхности слюды, имеют форму однослойных протяженных листов, обладающих высокой механической гибкостью. Измеренное с высокой точностью значение высоты монослоя J-агрегатов МЦК равно 1.05+0.05 нм, что соответствует кристаллографическому размеру отдельной молекулы вдоль малой оси. Предложена модель асимметричной однослойной молекулярной упаковки, в которой сульфопро-пильные группы расположены по одну сторону от плоскости слоя. В случае АЦК наблюдали узкие ленточные многослойные структуры с высотами в диапазоне от 3 до 30 нм, значения которых строго квантуются с шагом 3 нм. Обсуждается бислойная модель упаковки молекул АЦК в J-агрегатах с частично перекрывающимися монослоями, ориентированными гидрофобными сторонами навстречу друг другу. Из сравнения с электронно-микроскопическими данными других работ предлагается модель структурных единиц АЦК в виде «элементарных полосок» с поперечным размером 3х4 нм |
О-93 Оценка рисков токсичности углеродных наноматериалов / А. П. Зарубина [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 10. - С. 21-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (17 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОТРУБКИ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ОУНТ -- БИОЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ Аннотация: Выявлено цитотоксическое действие одностенных углеродных нанотрубок (ОУНТ) на клетки генно-инженерных бактерий Escherichia coli K12 TG1. Изменения скорости потребления кислорода и интенсивности биолюминесценции бактерий предшествовали изменениям морфологии клеток и снижению выживаемости клеток. Это позволяет предложить бактериальный люминесцентный биосенсор тест-системы "Эколюм" для первичной оценки токсичности наноматериалов |
Л 73 Локальное переключение в субмикронных полимерных пленках как причина формирования эмиссионных центров / А. М. Ярыжнов [и др.] // Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 35-37 : рис. - Библиогр. : с. 37 (4 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПЛЕНКА ПОЛИМЕРНАЯ -- ЭМИССИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ Аннотация: Работа посвящена исследованию электропроводящих каналов, возникающих в тонких полимерных пленках при локальном переключении под воздействием ионных импульсов в вакууме. Произведена оценка минимальной величины заряда, достаточной для локального переключения (0,310-12 Кл). Величина удельного сопротивления отдельного канала равна 0,02 мкОмм. Показана связь электронной эмиссии из полимерный пленки с локальным переключением |
П 76 Применение атомной силовой микроскопии в исследованиях взаимодействия липопротеидов с интимой артерий / О. Е. Глухова , И. В. Кириллова, Г. Н. Маслякова, Е. Л. Коссович, Д. А. Заярский, А. А. Фадеев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 9. - С. 34-39 : рис. - Библиогр.: с. 39 (23 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЭНДОТЕЛЕЙ -- ДЕФОРМАЦИЯ -- НАПРЯЖЕНИЕ НОРМАЛЬНОЕ -- НАПРЯЖЕНИЕ КАСАТЕЛЬНОЕ -- МОДЕЛИРОВАНИЕ КОНЕЧНО-ЭЛЕМЕНТНОЕ -- ЛИПОПРОТЕИД -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ИНТИМА АРТЕРИЙ Аннотация: Разработана оригинальная методика сканирования морфологии интимы артерий с помощью атомной силовой микроскопии с применением зондовой нанолаборатории NTEGRASpectra (НТ-МДТ, Россия). Получены картины топологии интимы коронарной артерии с разрешением 1 нм. Построена 3D-модель комплекса "поверхность эндотелиальной клетки - ЛНП" и с помощью пакета ANSYS рассчитана деформация липопротеидов низкой плотности (ЛНП), а также карта напряжений при соударении макромолекулы с поверхностью эндотелия. В месте взаимодействия ЛНП с поверхностью наблюдаются наибольшие нормальные и касательные напряжения, равные 2,173 и 0,053 кПа соответственно. Показано, что структура ЛНП испытывает сильные деформации, которые приводят к сжатию молекулы с одновременным замятием. Таким образом, при попадании ЛНП в щель между клетками макромолекула будет испытывать всесторонние деформации и значительную модификацию молекулярной структуры |
И 88 Исследование продуктов золь-гель-процессов в многокомпонентных оксидных системах, протекающих с образованием магнитных нанокомпозитов / К. Г. Гареев, И. Е. Грачева, Н. Е. Казанцева, В. В. Лучинин, В. А. Мошников, А. А. Петров // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 5-10 : рис., табл. - Библиогр.: с. 10 (26 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛ НАНОКОМПОЗИТНЫЙ -- ФЕРРИТ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ -- ДИФРАКЦИЯ БЫСТРЫХ ЭЛЕКТРОНОВ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МАГНИТОМЕТРИЯ ВИБРАЦИОННАЯ Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии, электронной дифракции, Оже-спектроскопии и вибрационной магнитометрии исследованы продукты золь-гель-процессов, протекающих с образованием магнитных нано-композитов на основе простых и сложных ферритов со структурой типа шпинель |
М 54 Методы зондовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света в исследовании взаимодействия нервных клеток и углеродных нанотрубок / И. И. Бобринецкий , В. К. Неволин , А. В. Ромашкин, А. С. Селезнев // Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 63-68 : рис. - Библиогр.: с. 68 (19 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ -- СОЕДИНЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА -- МЕТОДЫ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И СПЕКТРОСКОПИИ Аннотация: Разработаны методики формирования интерфейса для электрического соединения нервных клеток и электронных схем посредством углеродных нанотрубок. Проведены коррелированные оптические и топографические исследования нервных клеток на поверхности электропроводящих пленок из углеродных нанотрубок (УНТ). Предложена методика идентификации формирования электрохимического интерфейса между клетками и нанотрубками методами атомно-силовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния |
Г 20 Гареев, К. Г. Золь-гель-технологии направленного синтеза нанокомпозитов на основе наноразмерных магнитных частиц в порах изолирующей диэлектрической матрицы / К. Г. Гареев, И. Е. Грачева, В. А. Мошников // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 9-14 : рис. - Библиогр.: с. 14 (30 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОКОМПОЗИТЫ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ МАГНИТНЫЕ -- ФЕРРИТЫ -- СТРУКТУРА ИЕРАРХИЧЕСКАЯ -- ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОД -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- СИНТЕЗ НАНОКОМПОЗИТОВ -- МАТРИЦА Аннотация: Рассмотрены особенности магнитных свойств нанокомпозитов и перспективы развития технологических приемов формирования магнитных нанокомпозитов, совместимых с операциями создания устройств нано- и микросистемной техники. Золь-гель-методом получены магнитные нанокомпозиты с образованием ферритовой нанофазы с иерархической структурой. Проведен комплексный анализ слоев нанокомпозитов в системах Fe—Ni—O—Si и Fe—Mn— O—Si с использованием методов тепловой десорбции, атомно-силовой микроскопии, дифракции быстрых электронов и вибрационной магнитометрии |
А 19 Аверин, И. А. Исследование процессов рекристаллизации алюминиевой фольги — стадии получения пористого оксида алюминия / И. А. Аверин, И. А. Губич // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 6. - С. 26-28 : рис. - Библиогр.: с. 28 (11 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ -- ПОРИСТЫЙ ОКСИД АЛЮМИНИЯ -- ОТЖИГ ТЕРМИЧЕСКИЙ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МИКРОСКОПИЯ ОПТИЧЕСКАЯ Аннотация: Представлены результаты исследования процесса рекристаллизации алюминиевой фольги. Выявлены закономерности образования рекристаллизованных зерен при изменении температуры и времени отжига |
В 58 Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 / С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19 : рис., табл. - Библиогр.: с. 19 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОЧАСТИЦЫ -- ПЛЕНКИ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ CUiNSE2 -- СВОЙСТВА НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК -- РАСТВОРЫ ЭТАНОЛЬНЫЕ -- СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ -- АДГЕЗИЯ ПЛЕНОК -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ОБЛАСТЬ КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ (ОКР) -- ПЛЕНКИ СИНТЕЗИРОВАННЫЕ ОДНОФАЗНЫЕ -- АСМ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (<10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ |
Г 12 Гавриленко, В. П. Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий / В. П. Гавриленко, П. А. Тодуа // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55 : рис. - Библиогр.: с. 55 (19 назв.) . -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОЧАСТИЦ -- НАНОСТРУКТУР -- НАНОПОКРЫТИЯ -- ПЛЕНКИ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОДЫ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях |