538 Н 40 Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [] / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2005. - 147, [1] с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 : 305.00 р. РУБ 538 Рубрики: ФИЗИКА--МАГНЕТИЗМ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ (ЗОНДОВАЯ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА (МИКРОСКОПЫ) -- ЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ (МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ) |
623 К 55 Кобаяси, Наоя. Введение в нанотехнологию [] : научное издание / Н. Кобаяси ; пер. с яп. А. В. Хачояна ; под ред. Л. Н. Патрикеева. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2005. - 134 с. : ил. - ISBN 4-492-09151-3 (яп.). - ISBN 5-94774-218-7 (рус.) : 165.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ --СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, 20-21 вв. РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА ЯПОНИЯ Кл.слова (ненормированные): НАНОТЕХНОЛОГИИ (ВНЕДРЕНИЕ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОСНОВЫ) |
623 К 55 Кобаяси, Наоя. Введение в нанотехнологию [] : научное издание / Н. Кобаяси ; пер. с яп. А. В. Хачояна ; под ред. Л. Н. Патрикеева. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2007. - 134 с. : ил. - ISBN 5-94774-218-7 : 132.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ --СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, 20-21 вв. РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА ЯПОНИЯ Кл.слова (ненормированные): НАНОТЕХНОЛОГИИ (ВНЕДРЕНИЕ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОСНОВЫ) |
623 Г 61 Головин, Юрий Иванович. Введение в нанотехнику [] : научное издание / Ю. И. Головин. - М. : Машиностроение, 2007. - 493 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-217-03378-2 : 693.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ --СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Кл.слова (ненормированные): НАНОТЕХНОЛОГИИ (ВНЕДРЕНИЕ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ПРИМЕНЕНИЕ) -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОСНОВЫ) -- НАНОСИСТЕМЫ (ОСНОВЫ) -- НАНОТЕХНИКА (ОСНОВЫ) -- НАНОМАТЕРИАЛЫ (СВОЙСТВА) -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА (ОСНОВЫ) -- НАНОПРИБОРЫ (ОСНОВЫ) -- НАНОМАШИНЫ (ОСНОВЫ) |
62 Г 72ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
62 М 54ГОСТ Р 8.700-2010 Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [] : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 05.04.2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. - Библиогр.: с. 11. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
62 М 59ГОСТ Р 8.630-2007 Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ |
Ж6 В 24 Введение в нанотехнологию [] : учебник для вузов / В. И. Марголин [и др.]. - СПб. ; М. ; Краснодар : Лань, 2012. - 457 с. : ил. - ISBN 978-5-8114-1318-8 : 1239.92 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ --ОБЩАЯ ТЕХНОЛОГИЯ--ОСНОВЫ ПРОМЫШЛЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |