К 77 Кравчик, В. Д. Метод контролируемого роста квантовых точек из коллоидного золота в системе СТМ / АСМ [Текст] / В. Д. Кравчик, М. Б. Семенов, Н. Ю. Черепанова> // Нанотехника. - 2008. - № 2. - С. 87-93 : рис. - Библиогр.: с. 93 (10 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОДИАПАЗОН -- ТУННЕЛИРОВАНИЕ ЧАСТИЦ |
Р 76 Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ [] / В. Гавриленко [и др.]> // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ |
Х 19 Ханген, У. Наноинденторы HYSITRON - механическое тестирование в новом измерении / У. Ханген> // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 22-24 : ил. - Библиогр. : с. 24 (2 назв.) . - ISSN 1993-8578 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОИНДЕНТИРОВАНИЕ -- НАНОДИАПАЗОН -- МИКРОДИАПАЗОН |
В 93 Высокоточные меры линейных размеров в нанодиапазоне / Д. В. Щеглов, С. С. Косолобов, Л. И. Федина, Е. Е. Родякина, А. К. Гутаковский> // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 84-94 : рис. - Библиогр.: с. 94 (84 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОДИАПАЗОН -- ПОВЕРХНОСТЬ АТОМНО-СТРУКТУРИРОВАННАЯ КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ -- КРИСТАЛЛА -- «СТЕПП-ИФП-1» -- СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ -- РАЗМЕРЫ ЛИНЕЙНЫЕ Аннотация: В статье проанализированы современные литографические методы создания мер нанометрового диапазона размеров и основные лимитирующие факторы применения таких мер. Показана перспективность создания высокоточных мер на основе атомно-структурированной кристаллической поверхности (содержащей моноатомные ступени), параметры которых привязаны (обеспечивают прослеживаемость размера длины) к кристаллографическим параметрам кристалла. Предложен метод создания таких мер, основанный на управлении морфологией поверхности монокристаллического кремния на атомном уровне за счет использования эффектов самоорганизации, возникающих на атомно-чистой поверхности при прогреве в сверхвысоком вакууме. Представлено описание комплекта высокоточных мер вертикальных размеров «СТЕПП-ИФП-1» в диапазоне размеров 0.31–31 нм с погрешностью во всем интервале измерений менее 0.05 нм. Разработанный комплект высокоточных мер после проведения государственных испытаний внесен в государственный реестр средств измерений как тип средства измерений № 48115-11 (Приказ Росстандарта № 6290 от 31.10.2011 г.) |
Ж Н 25ГОСТ Р 54622-2011 Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов. Наночастица, нановолокно и нанопластина [] : ГОСТ Р 54622-2011/ISO/TS 27687:2008 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 01.07.2013. - М. : Стандартинформ, 2013. - 8 с. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--ОБЩАЯ ТЕХНОЛОГИЯ--ОСНОВЫ ПРОМЫШЛЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА--СТАНДАРТЫ |