М 69 Михайлов, А. Н. Датчики деформации и системы мониторинга конструкционной безопасности зданий и сооружений / А. Н. Михайлов, В. Н. Косинский> // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 8. - С. 50-53 : рис. - Библиогр.: с. 53 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- ПП ИНДУКЦИОННЫЙ -- СИСТЕМА МОНИТОРИНГА КОНСТРУКЦИЙ -- ДАТЧИКИ Аннотация: Показано применение технологии беспроводных систем мониторинга в области обеспечения конструкционной безопасности зданий и сооружений и представлена разработанная специалистами ОАО "Авангард" беспроводная система мониторинга деформации. Показана технология, обеспечивающая повышение комплексной безопасности зданий и сооружений через повышение информативности и надежности системы мониторинга деформации как одного из элементов комплексной безопасности. Рассматривается устройство вновь разрабатываемого в рамках программы Союзного государства "Микросистемотехника" индукционного первичного преобразователя для датчика деформации беспроводной системы мониторинга деформации |
К 27 Карташев, В. А. Визуализация рельефа поверхности в зондовой микроскопии / В. А. Карташев> // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- МЕТОД ГРАДИЕНТНОЙ ЗАКВАСКИ -- ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ Аннотация: Приводится решение задачи выбора такой подстилающей плоскости, относительно которой исследуемая поверхность имеет наименьший перепад высот. Проекция измерений на эту плоскость обеспечивает наилучшие условия для визуализации мельчайших объектов методом градиентной закраски. Предлагаемый метод позволяет получать более четкие изображения по сравнению с методом наименьших квадратов, традиционно используемым для выбора подстилающей плоскости в штатном программном обеспечении зондовых микроскопов |
Г 12 Гавриленкова, М. Д. Комплексная автоматизация и информатизация испытательных и метрологических центров датчиков физических величин / М. Д. Гавриленкова, С. В. Акимов, А. Д. Крылов> // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 45-51 : рис., табл. - Библиогр.: с. 51 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ИНФОРМАТИЗАЦИЯ -- АВТОМАТИЗАЦИЯ КОМПЛЕКСНАЯ -- ИСПЫТАНИЯ -- ДАТЧИК -- МОДЕЛЬ КОМПЛЕКСНАЯ -- ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- ПРОТОКОЛЫ ИСПЫТАНИЙ Аннотация: Приведены результаты проектирования системы комплексной автоматизации и информатизации процессов градуировки, проверки функциональных параметров и испытаний датчиков физических величин на стойкость к механическим и климатическим внешним воздействующим факторам. Система реализует единое метрологическое пространство, интегрируемое в единое информационное пространство предприятия. В основу системы положены многоаспектные модели объектов и процессов |
М 69 Михайлов, И. С. О программном обеспечении моделирования нанообъектов / И. С. Михайлов> // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 32-34. - Библиогр.: с. 34 (8 назв.) . - ISSN 1816-4498
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНООБЪЕКТЫ -- МОДЕЛИРОВАНИЯ СВОЙСТВ НАНОСИСТЕМ -- ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- МЕТОД МОЛЕКУЛЯРНОЙ ДИНАМИКИ -- ФУНКЦИИ ОРТОГОНАЛЬНЫЕ ФИНИТНЫЕ (ООФ) -- ИНТЕГРАЦИЯ МОДЕЛЕЙ Аннотация: В данной статье дан обзор свободно-распространяемых программных средств моделирования нанообъектов, описана возможность использования распространенных CAD-, CAE-систем для моделирования свойств наносистем несколькими методами. На базе открытого исходного кода программного обеспечения Nanoengineer-1 реализована интеграция моделей, исследуемых методами молекулярной динамики, с CAD-, CAE-системами посредством формата STEP, а также реализовано ускорение метода молекулярной динамики посредством использования потенциала межатомного взаимодействия, основанного на ортогональных финитных функциях (ООФ) |