Инвентарный номер: нет.
   
   И 36


   
    Изделия микросистемной техники - термины и определения, классификация и обозначение типов [Текст] / В. Д. Вернер [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 1. - С. 2-5 : табл. - Библиогр.: с. 5 (11 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕРМИНЫ -- ОПРЕДЕЛЕНИЯ -- ПАРАМЕТРЫ -- МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНИКА


Инвентарный номер: нет.
   
   Н 76


   
    Новый метод электрохимической регистрации белков и нуклеиновых кислот [Текст] / С. А. Трашин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 8. - С. 49-54 : рис., табл. - Библиогр.: с. 54 (21 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОАНАЛИЗ -- ЭКСТРАКЦИЯ БЕЛКОВ -- ДНК СЕНСОР
Аннотация: Предложен новый подход для определения белков и нуклеиновых кислот с использованием электродов, экранированных тонким слоем органической жидкости. Показана возможность электрохимической регистрации белков при их экстракции в органический растворитель, что может быть использовано для их аналитического определения. С использованием экранированных электродов разработан новый электрохимический метод регистрации ДНК без использования каких-либо меток. Метод обладает высокой чувствительностью, достаточной для детектирования в олигонуклеотиде единичной точечной мутации


Инвентарный номер: нет.
   
   У 74


    Усанов, Д. А.
    Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта [Текст] / Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль , К. С. Авдеев // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 43-47 : рис. - Библиогр. : с. 47 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛАЗЕРНЫЙ АВТОДИН -- МОДУЛЯЦИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ МИКРОПРОФИЛЯ -- АВТОДИННЫЙ СИГНАЛ


Инвентарный номер: нет.
   
   П 76


   
    Применение виртуального растрового электронного микроскопа для определения диаметра проецирующей микролинзы атомного нанолитографа / А. В. Заболоцкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 2-7 : рис. - Библиогр. : с. 7 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
РЭМ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- ОПТИКА АТОМНАЯ -- НАНОЛИТОГРАФИЯ


Инвентарный номер: нет.
   
   А 53


    Алфимов, С. М.
    О введении стандартов по микросистемной технике / С. М. Алфимов // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 11. - С. 50-52. - Библиогр. : с. 52 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕХНИКА МИКРОСИСТЕМНАЯ -- ТЕРМИНЫ -- ОПРЕДЕЛЕНИЯ -- ПОНЯТИЯ -- МИКРОСИСТЕМА


Инвентарный номер: нет.
   
   О-62


   
    Определение концентрации металлов в наноструктурированных жидких средах лазерно- оптическим методом. часть 1. эмпирические формулы / В. В. Слепцов, А. Ю. Тянгинский, С. А. Артюхов, М. В. Церулев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 24-29 : рис., табл. - Библиогр. : с.29 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМУЛЫ ЭМПИРИЧЕСКИЕ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ -- РАСТВОРЫ КОЛЛОИДНЫЕ
Аннотация: Рассматривается лазерно-оптический метод определения концентрации наноструктурированных жидких сред. На примере исследования водного раствора наночастиц серебра демонстрируется получение зависимости концентрации металла от светопропускания раствора. Проводится обоснованный выбор вида и параметров эмпирической формулы из класса наиболее распространенных формул с двумя и тремя параметрами, наилучшим образом аппроксимирующей зависимость концентрации от светопропускания в смысле минимизации суммы квадратов отклонений


Инвентарный номер: нет.
   
   Г 51


    Гирфанова, Н. А.
    Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки / Н. А. Гирфанова // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4 : табл. - Библиогр. : с.13 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИСТЕМЫ ПАССИВНОЙ АВТОФУКСИРОВКИ -- РЕЗКОСТЬ ИЗОБРАЖЕНИЯ
Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм


Инвентарный номер: нет.
   
   Б 83


    Боронахин, А. М.
    Применение микромеханических датчиков для диагностики рельсового пути / А. М. Боронахин, Л. Н. Подгорная // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 8. - С. 47-50 : рис. - Библиогр. : с. 50 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ДИАГНОСТИКА ПУТИ -- АКСЕЛЕРОМЕТР МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ -- МОДУЛЬ ИНЕРЦИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ
Аннотация: Рассматривается возможность использования микромеханических акселерометров и гироскопов в диагностике состояния железнодорожного пути. Разработан алгоритм определения вертикальных неровностей рельсовых нитей. Приводятся результаты экспериментального проезда системы


Инвентарный номер: нет.
   
   К 27


    Карташев, В. А.
    Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра


Инвентарный номер: нет.
   
   Т 36


   
    Тестовая структура для определения радиуса кривизны микромеханических зондов сканирующей силовой микроскопии / А. Н. Белов, С. А. Гаврилов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 95-98 : рис. - Библиогр. : с.98 (10 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРА ТЕСТОВАЯ -- ЗОНДЫ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЕ -- РАДИУС КРИВИЗНЫ
Аннотация: Приведено описание тестовой структуры на основе нанопрофилированного алюминия для определения радиуса кривизны острия игл микромеханических зондов сканирующей силовой микроскопии. На примере исследования геометрии различных микромеханических зондов проведена апробация тестовой структуры. Показано, что ее использование позволило определить геометрию острия зондов, в т.ч. сверхострых, радиус кривизны острия игл у которых составлял 2 нм


Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 75


    Шмырева, А. Н.
    Электронные сенсоры на основе наноструктурных пленок оксида церия / А. Н. Шмырева, А. В. Борисов, Н. В. Максимчук // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 99-104 : рис., табл. - Библиогр. : с.104 (24 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СЕНСЕРЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ -- ПЛЕНКИ НАНОСТРУКТУРНЫЕ -- МЕТОД РЕНТГЕНОВСКОЙ ФОТОЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
Аннотация: Изучено влияние технологических параметров получения наноструктурных пленок СеОх на электронные, структурные, оптические и фотоэлектрические характеристики с целью их применения в качестве активного элемента различных микроэлектронных сенсоров: высокоэффективных фоторезисторов и МДП-фотодиодов для регистрации биолюминесценции, ион-селективных полевых транзисторов (ИСПТ) и МДП-варакторов, реагирующих на изменение рН в результате биохимических процессов. Анализ методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии РФЭС показал, что в зависимости от технологических режимов, прежде всего от температуры подложки, изменяется соотношение концентраций ионов Се3+ и Се4+ в пленках СеОх, что приводит к изменению ширины запрещенной зоны. Установлена корреляция этих изменений с оптическими и фотоэлектрическими характеристиками. На основе разработанных высокочувствительных фотоприемников и живых организмов (дафнии и биолюминесцентные бактерии) создан портативный электронный биолюменометрический комплекс для определения общей токсичности среды, вызванной патулином, бифентрином и хлорпирофосом. Минимальный порог чувствительности составил для патулина 0.1 мг/л за 2 ч и 0.01 мг/л за 6 и 24 ч эксперимента, бифентрина - 0.01 мг/л за 3 ч и 0.0001 мг/л за 24 ч эксперимента. Показано, что применение нанокристаллических пленок оксида церия СеОх в качестве диэлектрика МДП-структур повышает чувствительность и стабильность сенсоров этого типа благодаря высокой плотности поверхностных чувствительных центров CeOх (до 1020 м-2), большому значению диэлектрической проницаемости (? = 26) и ширине запрещенной зоны (3.6 эВ), низким значениям токов утечек. Приведены результаты применения ИСПТ и МДП-варакторов с нанокристаллической пленкой CeOх для создания иммунных и ферментных биосенсоров. Порог чувствительности ферментного сенсора на основе холинэстеразы к фосфорорганическим пестицидам составляет 10-9 М, ионам тяжелых металлов - 10-7 М. рН-чувствительность ИСПТ - 58 мВ/рН, что близко к максимально возможной чувствительности для структуры полупроводник-диэлектрик-раствор, т.н. Нернстовской чувствительности - 59 мВ/рН


Инвентарный номер: нет.
   
   Е 30


    Егоров, Г. П.
    Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ / Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78 : табл., рис. - Библиогр. : с. 78 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОПЛЕНКИ IN-SITU -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ -- ПЛАСТИНА КОНСОЛЬНО ЗАКРЕПЛЕННАЯ
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ


Инвентарный номер: нет.
   
   И 88


   
    Исследование структуры однослойных покрытий TiN и многослойных покрытий TiN/ZrN / П. Л. Журавлева, И. А. Тренинков [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 9-10. - С. 112-116 : рис., табл. - Библиогр. : с. 116 (4 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПОКРЫТИЯ ОДНОСЛОЙНЫЕ TIN -- ПОКРЫТИЯ МНОГОСЛОЙНЫЕ TIN/ZRN -- МЕТОД ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ (пэм) -- МЕТОД РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА (РСА)
Аннотация: B работе исследована структура ионоплазменных покрытий (однослойное - TiN и многослойное - TiN/ZrN), нанесенных на подложки из сплава ЭИ961, и определены величины остаточных напряжений в основных фазах покрытий. Исследование методом растровой электронной микроскопии (РЭМ) показало, что покрытие TiN/ZrN имеет периодичную слоистую структуру. Измерены толщины покрытий (~ 17 мкм) и толщины отдельных слоев (~ 75 нм). Результаты темнопольных исследований методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) показали, что слои TiN и ZrN являются поликристаллическими, размеры зерен сопоставимы с размерами слоев. Методом рентгеноструктурного анализа (РСА) определен фазовый состав покрытий, выбраны рентгеновские линии для определения остаточных напряжений (ОН), установлена однородность химического состава по глубине покрытия. В результате анализа остаточных напряжений показано, что в многослойном покрытии величина ОН на 40 % меньше, чем в однослойном. Напряжения в покрытиях являются сжимающими. Образцы с покрытием находятся в объемном напряженном состоянии, следовательно, напряжения в подложках обратны по знаку напряжениям в покрытиях. В многослойном покрытии величина ОН в фазе TiN на порядок меньше, чем в фазе ZrN


Инвентарный номер: нет.
   
   Х 20


   
    Характеризация продуктов на основе однослойных углеродных нанотрубок методом адсорбции азота / Е. И. Кнерельман, Г. И. Зверева [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 11-12. - С. 80-87 : рис., табл. - Библиогр. : с. 87 (15 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ ОДНОСЛОЙНЫЕ -- МЕТОД АДСОРБЦИИ АЗОТА -- МЕТОД ДУБИНИНА-РАДУШКЕВИЧА
Аннотация: В технических приложениях важными характеристиками продуктов на основе однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) является доступный внутренний объем трубок и их внешняя удельная поверхность. Данные характеристики были определены различными методами, основанными на адсорбции азота. Предложен новый эталон для с^-метода - образец чистых ОСУНТ без микропор. Показано, что t-метод и с^-метод с выбором в качестве эталона сравнения образца чистых ОСУНТ без микропор дают хорошо совпадающие результаты по объему микропор и внешней удельной поверхности и могут успешно применяться для определения этих величин в ОСУНТ-продуктах. В отличие от них, метод Дубинина-Радушкевича дает систематически завышенное значение объема микропор и существенно заниженное значение внешней удельной поверхности ОСУНТ, что может объясняться вкладом мезопор и сильной энергетической неоднородностью поверхности тяжей ОСУНТ


Инвентарный номер: нет.
   
   М 54


   
    Методы разделения быстрых и медленных движений атомов как основа анализа динамической структуры наночастиц / В. И. Кузьмин, А. Ф. Гадзаов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 11-12. - С. 92-97 : табл., рис. - Библиогр. : с. 97 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ НАНОЧАСТИЦ -- КЛАСТЕРЫ СЕРЕБРА МАГИЧЕСКИЕ -- МЕТОДЫ РАЗДЕЛЕНИЯ ДВИЖЕНИЙ АТОМОВ
Аннотация: B численных экспериментах с магическими кластерами серебра (147, 309 и 561 атомов; молекулярная динамика; модель погруженного атома) обнаружен регулярный характер изменения функции среднего квадрата смещения, который свидетельствует о высокой степени корреляции движений атомов в кластерах. На примере 147-атомного кластера проведен детальный анализ функций среднего квадрата смещения каждого атома. Использован метод разделения быстрых и медленных движений, который позволяет отфильтровать быстрые движения атомов. В основе метода лежат алгоритмы исключения тренда из данных и определения почти-периодов колебаний. В результате проведенного анализа, функции среднего квадрата смещения атомов кластера классифицированы по группам схожих графиков с высокой корреляцией


Инвентарный номер: нет.
   
   А 64


   
    Анализ острой токсичности полиэлектролитных микрокапсул, модифицированных наночастицами оксида цинка, и составляющих их компонентов на гидробионтах / К. В. Пуртов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 3-4. - С. 87-96 : рис., табл. - Библиогр. : с. 96 (59 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОКАПСУЛЫ ПОЛИЭЛЕКТРОЛИТНЫЕ -- НАНОЧАСТИЦЫ ОКСИДА ЦИНКА -- ГИДРОБИОНТЫ -- МЕТОД ПОЛИИОННОЙ СБОРКИ
Аннотация: Методом полиионной сборки сформированы нанокомпозитные микрокапсулы, содержащие в оболочке наночастицы оксида цинка. Проведено исследование токсического действия, оказываемого микрокапсулами, а также составляющими их компонентами (полиэлектролитами и наночастицами), на четыре типа тест-объектов: цериодафнии (Ceriodaphnia affinis Lilljeborg), биосенсор "Эколюм" (культура люминесцентных генноинженерных бактерий Escherichia coli, М-17), личинки насекомых хирономид (Chironomus riparius Meigen) и аквариумные рыбы (Brachydanio rerio). Установлено, что для каждого типа тест-объектов максимальной токсичностью обладает раствор полиалли- ламина гидрохлорида (ПАА), используемого в качестве составляющего компонента для формирования оболочки микрокапсул. Наименьшей токсичностью среди протестированных образцов обладает раствор полистиролсульфоната натрия (ПСС) и образец микрокапсул со структурой оболочки (ПАА/ПСС)2(ZnO/ПСС)3(ПАА/ПСС). При этом для суспензии капсул отмечено значительное снижение острого токсического эффекта по сравнению с воздействием их составных компонент. В дальнейшем представленные результаты могут быть использованы для разработки комплексной методики определения показателей токсичности микрокапсул, а также растворов полиэлектролитов и коллоидов неорганических частиц, выступающих в качестве исходного материала для создания нанокомпозитных микроконтейнеров


Инвентарный номер: нет.
   
   Д 38


   
    Детектирование летучих ароматических углеводородов из газовой фазы по спектрам флуоресценции и поглощения комплексов гость-хозяин с циклодекстринами в гелевых матрицах / Б. Б. Мешков [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 5-6. - С. 43-51 : рис., табл. - Библиогр. : с. 51 (26 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТРИЦЫ ГЕЛЕВЫЕ -- ЦИКЛОДЕКСТРИНЫ -- ФАЗА ГАЗОВАЯ -- УГЛЕВОДОРОДЫ АРОМАТИЧЕСКИЕ -- ДЕТЕКТИРОВАНИЕ УГЛЕВОДОРОДОВ -- СПЕКТРЫ ФЛУОРЕСЦЕНЦИИ
Аннотация: Развит подход для определения летучих ароматических углеводородов, основанный на использовании слоев полиакриламидных гелей, содержащих молекулы циклодекстринов. На примере нафталина, толуола и о-ксилола продемонстрирована принципиальная возможность детектирования этих углеводородов на уровне ПДК вследствие образования супрамолекулярных комплексов включения в циклодекстрины. Показано, что изучение кинетики встраивания газообразных аналитов в гели позволяет получать информацию об их коэффициентах диффузии и анализировать смеси аналитов


Инвентарный номер: нет.
   
   Д 81


    Дудин, А. А.
    Теория расчета основных параметров наночастиц для определения их состава / А. А. Дудин, Е. Ф. Кустов // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 7-9 : табл. - Библиогр. : с. 9 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- СОСТАВ -- ПАРАМЕТРЫ ОСНОВНЫЕ -- РАСЧЕТ
Аннотация: Рассматривается проблема классификации наночастиц, определения составов и один из путей ее решения. Приведены теоретическое описание расчета основных параметров для определения их состава и классификации, а также необходимые для расчета формулы и их описание. Представлена оригинальная структура таблицы данных. Показано возможное применение этих данных и дальнейшие этапы решения авторами проблем классификации и определения составов наночастиц


Инвентарный номер: нет.
   
   Б 73


    Богданов, С. А.
    Моделирование распределения потенциала в барьерах шоттки с учетом краевых эффектов / С. А. Богданов, А. Г. Захаров, А. А. Лытюк // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 12-15 : рис. - Библиогр. : с. 15 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
БАРЬЕР ШОТТКИ -- ЭФФЕКТ КРАЕВОЙ -- ПОТЕНЦИАЛ ЭЛЕКТРОСТАТИСТИЧЕСКИЙ
Аннотация: Разработана методика определения электростатического потенциала в полупроводниковом материале контакта металл-полупроводник с барьером Шоттки, учитывающая краевые эффекты, а также неоднородное пространственное распределение электрически активных примесей в полупроводнике. Методика позволяет прогнозировать наиболее вероятный механизм переноса носителей заряда в контакте металл-полупроводник с учетом его топологии, а также выполнить дальнейшее моделирование его вольт-амперной характеристики


Инвентарный номер: нет.
   
   К 84


    Крушенко, Г. Г.
    К вопросу о точности определения размеров наночастиц порошков / Г. Г. Крушенко // Нанотехника. - 2011. - № 1. - С. 13-16 : рис., табл. - Библиогр. : с. 16 (11 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОПОРОШКИ ХИМИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ -- МЕТАЛЛОПРОДУКЦИЯ -- РАЗМЕРЫ НАНОЧАСТИЦ ПОРОШКОВ
Аннотация: Описаны методы получения нанопорошков химических соединений, способы определения размеров частиц нанопорошков и их применение для повышения свойств металлопродукции