Э 45 Электромеханические преобразователи сенсорных микро- и наносистем: физические основы и масштабные эффекты. Часть 2. Детекторы, источники и характеристики шумов [Текст] / П. Г. Бабаевский [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 12. - С. 27-37 : рис. - Библиогр. : с. 37 (25 назв.)
Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): СЕНСОРНЫЕ МЭМС -- НЭМС -- ЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ -- ДЕТЕКТОРЫ -- ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ -- МАСШТАБНЫЕ ЭФФЕКТЫ -- ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ -- РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ -- ШУМЫ -- СПЕКТРАЛЬНАЯ ПЛОТНОСТЬ ФЛУКТУАЦИЙ Аннотация: Во второй части обзора, посвященной аналитическому описанию емкостных, пьезорезистивных, оптоэлектронных и туннельных детекторов электромеханических преобразователей сенсорных микро- и наносистем, показано, что наиболее перспективными при переходе от микро- к наносистемам являются туннельные детекторы. Однако, в них резко проявляются побочные физико-химические, в первую очередь адгезионные и капиллярные, эффекты и силы. При переходе к наномасштабу в основных элементах электрохимических преобразователей существенную роль начинают играть различные флуктуационные процессы, в частности, термомеханичекие, температурные и адсорбционно-десорбционные в чувствительных механических элементах и электрические - в туннельных детекторах. Эти процессы в решающей степени определяют характер и величину помех (шумов) , соответственно, чувствительность и разрешающую способность сенсорных наносистем. |
М 27 Маркелов, А. С. Исследование возможности формирования пространственной структуры рентгеновских пучков с использованием легированных кристаллов / А. С. Маркелов, В. Н. Трушин, Е. В. Чупрунов // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 4. - С. 40-42. - Библиогр.: с. 42 (13 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ -- ПРОСТРАНСТВЕННАЯ СТРУКТУРА -- РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ -- ТЕМПЕРАТУРНОЕ ПОЛЕ -- КОНТРАСТ Аннотация: Исследуется возможность управления пространственной структурой рентгеновских дифракционных пучков при воздействии на легированные кристаллы лазерного излучения с пространственно неоднородной интенсивностью. Экспериментально исследовано изменение дифракционных параметров легированного кристалла KDP, вызванное поглощением в нем лазерного излучения длиной волны 532 нм. Приведены данные по моделированию дифракционного изображения поверхности кристалла, находящегося в условиях теплового воздействия на него лазерного пучка |