Инвентарный номер: нет.
   
   Р 76


   
    Российские стандарты для измерений линейных размеров в нанотехнологиях / А. Кузин [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 30-35 : ил. - Библиогр. : с. 35 (12 назв.) . - ISSN 1993-8578
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- ПЕРВИЧНЫЕ ЭТАЛОНЫ


Инвентарный номер: нет.
   
   О-51


    Окрепилов, В. В.
    Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации / В. В. Окрепилов // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 7. - С. 2-6 : рис., табл. - Библиогр. : с. 6 (2 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ


Инвентарный номер: 207960 - ч/з.
   623
   Н 25


   
    Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях [] : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135,[1] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. - ISBN 978-5-94836-229-8 : 339.00 р.
ГРНТИ
ББК 623.7я21 + 621.0я21
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СЛОВАРИ
   ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ



Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25


    Раткин , Л. С.
    Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике


Инвентарный номер: нет.
   62
   Н 25Р 50.1.071-2010


   
    Нанотехнологии. Принципы, объекты стандартизации и виды документов в области стандартизации нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии [] : Р 50.1.071-2010 : рекомендации по стандартизации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 10.01.2010. - М. : Стандартинформ, 2011. - 7 с. - Библиогр.: с. 7. -
ГРНТИ
ББК 62я861 + 623.7я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ
   ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ



Инвентарный номер: нет.
   
   А 90


    Аскерко, А. Н.
    Испытания и тестирование микроэлектромеханических компонентов и систем на их основе / А. Н. Аскерко, О. С. Бохов, В. В. Лучинин // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 49-54 : рис., табл. - Библиогр.: с. 54 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ИСПЫТАНИЯ МЭМС -- ТЕХНИКА МИКРОСИСТЕМНАЯ -- СИСТЕМЫ МИКРОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЕ -- МСТ-КОМПОНЕНТЫ
Аннотация: Рассмотрены современное состояние рынка микросистемной техники, особенности комплектования аппаратуры МСТ-компонентов, метрологическое обеспечение и стандартизация. Обобщены вопросы испытаний, определения характеристик надежности электронной компьютерной базы микросистемной техники


Инвентарный номер: нет.
   
   П 99


    Пятов, А. Л.
    Метрологическое обеспечение и стандартизация в области научных исследований сверхтвердых и новых углеродных материалов / А. Л. Пятов, В. В. Соловьев, Н. В. Судачкова // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 98-99 . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИИ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- УГЛЕРОД -- МАТЕРИАЛЫ СВЕРХТВЕРДЫЕ
Аннотация: В статье рассматривается метрологическое обеспечение и стандартизация научных исследований сверхтвердых и новых углеродных материалов. Описаны наиболее перспективные направления развития нанотехнологий и наноматериалов. Рассмотрены основные задачи и функции, возложенные на ФГБНУ ТИСНУМ как головную организацию отрасли по направлению «Конструкционные наноматериалы», а также основные проблемы метрологического обеспечения научных исследований в центрах коллективного пользования


Инвентарный номер: нет.
   
   Т 45


    Титов, Е. А.
    Развитие работ по международной стандартизации в области нанотехнологий / Е. А. Титов // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 104-107 : рис. . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИИ -- СТАНДАРТ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ ТЕРМИНОВ
Аннотация: Проведен обзор работ по стандартизации нанотехнологий в международных организациях по стандартизации в 2011–2012 гг. и рассказано об участии в этих работах российской делегации. Особое внимание уделено вопросам стандартизации терминов, применяемых в области нанотехнологий, как основы для однозначного восприятия информации


Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25


    Раткин, Л. С.
    Синхротронные и нейтронные исследования наносистем / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 1. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК (РАН) -- НЕЙТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- СИНХРОТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ФУНКЦИОНАЛИЗИРУЕМЫЕ ПОЛИЭЛЕКТРОЛИТНЫЕ КАПСУЛЫ -- МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- МИКРО- И НАНОТЕХНОЛОГИИ
Аннотация: При поддержке Международной ассоциации государственных академий наук и Российской академии наук (РАН) с 2008 года в Объединенном институте ядерных исследований в Дубне, НИЦ "Курчатовский институт" и Институте кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН проводятся ежегодные летние высшие курсы стран СНГ для молодых ученых, аспирантов и студентов старших курсов по современным методам исследования наносистем и материалов "Синхротронные и нейтронные исследования наносистем" ("СИН-нано"). Цикл лекций был прочитан сотрудниками академических институтов, академиками и членами-корреспондентами РАН. Особое внимание в выступлениях, в частности, уделялось взаимодополняемости нейтронного и синхротронного излучения при исследовании наносистем и материалов, методам получения функционализированных полиэлектролитных капсул, метрологии и стандартизации в микро- и нанотехнологиях.