Б 94 Бухараев, А. А. АСМ-метрология наночастиц, полученных электрохимическим осаждением / А. А. Бухараев, С. А. Зиганшина, А. П. Чукланов // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 87-94 : рис. - Библиогр. : с. 94 (19 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АСМ-МЕТРОЛОГИЯ НАНОЧАСТИЦ -- ЭФФЕКТ КОНВОЛЮЦИИ -- ОСАЖДЕНИЕ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОЕ Аннотация: В данной работе рассматривается проблема получения на основании данных атомно-силовой микроскопии (АСМ) достоверной информации о распределении по размерам наночастиц, лежащих на неровной поверхности или слипшихся между собой. Предлагается метод для уменьшения искажающего влияния упомянутых выше факторов. Приводятся результаты моделирования, показывающие работоспособность разработанного алгоритма, а также результаты обработки экспериментальных АСМ-изображений наночастиц Ni, проявляющих каталитическую активность при электроокислении этанола. Оценивается влияние эффекта конволюции на наблюдаемые размеры и площадь наночастиц |