539.2 В 16 Валянский, Сергей Иванович. Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии [] : учебное пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими ; под ред. Д. Е. Капуткина ; Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС"., Каф. физики. - М. : Изд. Дом МИСиС, 2011. - 172 с. - (Национальный исследовательский технологический университет МИСиС ; № 2055). - ISBN 978-5-87623-460-5 : 234.08 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |