К 27 Карташев, В. А. Исследование автономных подвижных микросистем методом подобия / В. А. Карташев> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 4. - С. 32-35 : ил. - Библиогр. : с. 35 (6 назв.) Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): АВТОНОМНЫЕ МИКРОУСТРОЙСТВА -- ПОДВИЖНОСТЬ -- МАСШТАБНЫЕ КОЭФФИЦИЕНТЫ |
К 27 Карташев, В. А. Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10 : рис. - Библиогр. : с. 10 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра |
К 27 Карташев, В. А. Визуализация рельефа поверхности в зондовой микроскопии / В. А. Карташев> // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- ОБЕСПЕЧЕНИЕ ПРОГРАММНОЕ -- МЕТОД ГРАДИЕНТНОЙ ЗАКВАСКИ -- ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ Аннотация: Приводится решение задачи выбора такой подстилающей плоскости, относительно которой исследуемая поверхность имеет наименьший перепад высот. Проекция измерений на эту плоскость обеспечивает наилучшие условия для визуализации мельчайших объектов методом градиентной закраски. Предлагаемый метод позволяет получать более четкие изображения по сравнению с методом наименьших квадратов, традиционно используемым для выбора подстилающей плоскости в штатном программном обеспечении зондовых микроскопов |
К 27 Карташев, В. А. Учет геометрии острия иглы для коррекции измерений туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев> // Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 2-4. - Библиогр.: с. 4 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП -- ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЙ СТМ -- ФОРМА ОСТРИЯ ИГЛЫ Аннотация: Ошибки измерений нанорельефа поверхности туннельным микроскопом обусловлены особенностями работы пьезоприводов и системы управления движением зонда. В результате на изображении измеренной поверхности возможно появление объектов, которые в реальности отсутствуют. Учет геометрии острия иглы при интерпретации измерений позволяет существенно уменьшить вклад указанных ошибок. Рассмотрено действие этого фильтра на примере искажений, возникающих при сканировании элементов рельефа с большими изменениями наклона поверхности |