Инвентарный номер: нет.
   
   К 60


    Колешко, В. М.
    Сенсорные микро-наносистемы с RFID иднтификацией [Текст] / В. М. Колешко, Е. В. Полынкова // Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 49-56 : рис. - Библиогр.: с. 56 (11 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИСТЕМА РАДИОЧАСТОТНОЙ ИДЕНТИФИКАЦИИ -- ИНДУКТИВНЫЕ RFID СИСТЕМЫ -- ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ RFID СИСТЕМЫ


Инвентарный номер: нет.
   
   К 60


    Колешко, В. М.
    Наносенсоры на основе сверхтонких пленок редкоземельных соединений / В. М. Колешко, А. В. Гулай, В. А. Гулай // Нанотехника. - 2009. - . - С. 45-48 : ил. - Библиогр. : с. 48 (5 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ -- СИЛИЦИДЫ -- ГАЛЛИЙ


Инвентарный номер: нет.
   
   П 79


   
    Проектирование электронного носа на основе нанотрубок и ДНК / В. М. Колешко [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 2-6 : рис., табл. - Библиогр. : с. 6 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: --ФИЗИКА
Кл.слова (ненормированные):
НОС ЭЛЕКТРОННЫЙ -- ПАВ-СТРУКТУРА -- ЭЛЕМЕНТ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ -- НАНОТРУБКА -- ДНК -- АДСОРБЦИЯ -- ВЕЩЕСТВА ВЗРЫВЧАТЫЕ -- ВЕЩЕСТВА ПСИХОТРОПНЫЕ -- ВЕЩЕСТВА НАРКОТИЧЕСКИЕ


Инвентарный номер: нет.
   
   К 60


    Колешко, В. М.
    Интеллектуальная система распознавания информационных образов наноматериалов / В. М. Колешко, Е. А. Воробей, Е. Л. Прудникова // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 9-14 : рис., табл. - Библиогр.: с. 14 (4 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТРУБКИ УГЛЕРОДНЫЕ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- "ГЛАЗ ЭЛЕКТРОННЫЙ" (Е-ГЛАЗ) -- ОБРАЗЫ ИНФОРМАЦИОННЫЕ -- СИСТЕМА ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНАЯ
Аннотация: Представлены результаты исследования информационных образов наноматериалов с использованием разработанного оптического "электронного глаза" (е-глаз) ИСЭГ-5 и интеллектуальной самообучающейся системы ИСРОН в целях быстрого неинвазивного распознавания их структуры, свойств, для контроля в реальном времени и управляемого техпроцесса производства микро- и наносенсорных устройств