Р 17 Размерный эффект в работе выхода электронов [Текст] / В. Д. Фролов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 102-105 : рис. - Библиогр.: с. 105 (6 назв.) . - ISSN 1195-078 Рубрики: ФИЗИКА Кл.слова (ненормированные): УГЛЕРОДНЫЕ ПЛЕНКИ -- ГРАФИТ |
О-62 Оптические свойства наноструктурированных пленок a-C:H:Si / В. Д. Фролов [и др.] // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 5-6. - С. 138-143 : рис. - Библиогр. : с. 143 (25 назв.) . - ISSN 1195-078 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ ПЛЕНКИ -- ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП -- КЛАСТЕРНАЯ СТРУКТУРА |
Ф 91 Фролов, В. Д. Определение ключевых факторов низкополевой электронной эмиссии из углеродных наноструктур / В. Д. Фролов, С. М. Пименов, В. И. Конов // Российские нанотехнологии. - 2012. - № 1-2. - С. 46-49 : рис. - Библиогр. : с. 49 (15 назв.) . - ISSN 1992-7223
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРЫ -- НАНОСТРУКТУРЫ УГЛЕРОДНЫЕ -- ЭМИССИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ НИЗКОПОЛЕВАЯ Аннотация: Излагается новый статистический метод определения ключевых факторов процесса полевой электронной эмиссии (ПЭЭ) из наноструктур, основанный на сравнении данных микроскопических измерений работы выхода электронов с результатами макроскопической характеризации ПЭЭ. На примере нанокристаллических углеродных пленок демонстрируются возможности этого статистического метода по количественной оценке влияния факторов локального усиления электрического поля и уменьшения работы выхода электронов на снижение порога ПЭЭ |