623 Н 25 Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях [] : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135,[1] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. - ISBN 978-5-94836-229-8 : 339.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СЛОВАРИ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ |
62 Г 72ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
62 М 54ГОСТ Р 8.700-2010 Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [] : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 05.04.2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. - Библиогр.: с. 11. -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ |
62 М 59ГОСТ Р 8.630-2007 Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ |
621 С 32 Сергеев, Алексей Георгиевич. Нанометрология [] : монография / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2012. - 413 с. : рис. - Библиогр.: с. 409-413. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 457.60 р. Прил.: с. 397-408
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ |
Ж1 М 54 Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ |
Ж1 Л 66 Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ Оглавление |