Анализ микроструктуры поверхности оксидов ВаСе0,90-хGd0,10CuxО3-δ по данным растровой электронной микроскопии

Анализ микроструктуры поверхности оксидов ВаСе0,90-хGd0,10CuxО3-δ по данным растровой электронной микроскопии / М. В. Ананьев, А. Л. Гаврилюк, Д. А. Медведев, В. Б. Малков // XV Российская конференция по физической химии и электрохимии расплавленных и твердых электролитов (с международным участием) "Физическая химия и электрохимия твердых электролитов", "Прикладные аспекты высокотемпературной электрохимии" : тезисы докладов. - Нальчик, 2010. - C. 36-38.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

2010

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Химические науки

Вид издания: 

  • тезисы


h1