Defect structure and charge transfer phenomena in La2NiO4-based materials

Kiselev E. A. Defect structure and charge transfer phenomena in La2NiO4-based materials / E. A. Kiselev, A. R. Gilev, V. A. Cherepanov // 16th IUPAC Conference on High Temperature Materials Chemistry (HTMC-XVI), July 2-6, 2018, Ekaterinburg, Russia. - Ekaterinburg, 2018. - P. 163.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

2018

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Химические науки

Вид издания: 

  • тезисы


h1