Defects in Nanocrystalline Materials by EXAFS Spectroscopy and Model Simulations

Defects in Nanocrystalline Materials by EXAFS Spectroscopy and Model Simulations / Yu. A. Babanov, L. A. Blaginina, R. R. Mulyukov [et al.] // 3rd Russian-German Seminar on Electron and X-ray Spectroscopy, September 15-19, 1999, Yekaterinburg, Russia : Program and Abstracts. - Yekaterinburg, 1999. - P. 17.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

1999

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Физика, Химические науки

Вид издания: 

  • тезисы


h1