Эффект изменения знака вектора разориентировки и порядок чередования изгибных контуров на электронно-микроскопическом изображении нанотонкого кристалла / В. Б. Малков, В. Г. Пушин, Б. В. Шульгин [и др.] // XXIV Уральская конференция "Физические методы неразрушающего контроля" : тезисы докладов, 6-9 апреля 2009 г., Екатеринбург. - Екатеринбург, 2009. - С. 74.