Ellipsometry Study of Bi1.1Sb0.9Te2S Topological Insulator in UV/VIS Region

Ellipsometry Study of Bi1.1Sb0.9Te2S Topological Insulator in UV/VIS Region / D. V. Beliaev, Yu. E. Kovalenko, E. I. Shreder [et al.] // Proceedings of the XVII International Russian-Chinese Symposium "Advanced Materials and Processes", August 18-22, 2025, Yekateriburg, Russia = Сборник трудов XVII Международного Российско-Китайского Симпозиума "Новые материалы и технологии. - Moscow : ntercontact Science, 2025. - Vol. 2. - 2025. - P. 548-550.

Документ доступен в ЦНБ УрО РАН: 

Нет

Год: 

2025

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Техника. Технические науки

Вид издания: 

  • статья из сборника трудов конференции


h1