Исследование электронной структуры CrxTi1-xSe2 методами резонансной фотоэмиссионной и абсорбционной спектроскопии

Шкварин А. С. Исследование электронной структуры CrxTi1-xSe2 методами резонансной фотоэмиссионной и абсорбционной спектроскопии / А. С. Шкварин, Н. А. Скориков, А. И. Меренцов // Юбилейная X Всероссийская молодежная школа-семинар по проблемам физики конденсированного состояния вещества : тез. докл., 9-15 ноября 2009 г. / РАН, УрО, Ин-т физики металлов [и др.]. - Екатеринбург, 2009. - С. 135-136.

Год: 

2009

Связанные персоналии: 

Нет

Рубрики: 

  • Физика

Вид издания: 

  • тезисы


h1